電氣開(kāi)關(guān)電源測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)-資料下載頁(yè)
2025-07-15 02:24本頁(yè)面
【正文】 源供應(yīng)器應(yīng)該限制其輸出電流或關(guān)閉其輸出，以避免負(fù)載電流過(guò)大而損壞。又若電源供應(yīng)器之內(nèi)部零件損壞而造成較正常大的負(fù)載電流時(shí)，則電源供應(yīng)器也應(yīng)該關(guān)閉或限制其輸出，以避免損壞或發(fā)生危險(xiǎn)。過(guò)電流保護(hù)測(cè)試是驗(yàn)證當(dāng)上述任一種狀況發(fā)生時(shí)，電源供應(yīng)器能否正確地反應(yīng)。D. 過(guò)功率保護(hù)OPP測(cè)試 當(dāng)電源的輸出功率(可為單一輸出或多組輸出)超過(guò)額定時(shí)，則電源應(yīng)該限制其輸出功率或關(guān)閉其輸出，以避免負(fù)載功率過(guò)大而損壞或發(fā)生危險(xiǎn)。又若電源內(nèi)部零件損壞而造成較正常大的負(fù)載功率時(shí)，則電源也應(yīng)該關(guān)閉或限制其輸出，以避免損壞。 過(guò)功率保護(hù)測(cè)試是驗(yàn)證當(dāng)上述任一種狀況發(fā)生時(shí)，電源能否正確地反應(yīng)。 本項(xiàng)測(cè)試通常包含兩組或數(shù)組輸出功率之功率限制保護(hù)，因此較上述單一輸出之保護(hù)測(cè)試(OVP、OCP、Short等)稍具變化。三、安全(Safety)規(guī)格測(cè)試：輸入電流、漏電電流等耐壓絕緣: 電源輸入對(duì)地，電源輸出對(duì)地；電路板線路須有安全間距。溫度抗燃：零組件需具備抗燃之安全規(guī)格，工作溫度須于安全規(guī)格內(nèi)。機(jī)殼接地：，以避免漏電觸電之危險(xiǎn)。變壓輸出特性：開(kāi)路、短路及最大伏安(VA)輸出四、異常測(cè)試：散熱風(fēng)扇停轉(zhuǎn)、電壓選擇開(kāi)關(guān)設(shè)定錯(cuò)誤五、電磁兼容(Electromagnetic Compliance)測(cè)試：電源供應(yīng)器需符合CISPR 2CLASS B之傳導(dǎo)與幅射的4dB馀裕度，電源供應(yīng)器需在以下三種負(fù)載狀況下測(cè)試：每個(gè)輸出為空載、每個(gè)輸出為50%負(fù)載、每個(gè)輸出為100%負(fù)載。傳導(dǎo)干擾/免疫：經(jīng)由電源線之傳導(dǎo)性干擾/免疫幅射干擾/免疫：經(jīng)由磁場(chǎng)之幅射性干擾/免疫六、 可靠性(Reliability)測(cè)試：老化壽命測(cè)試：高溫(約5060度)及長(zhǎng)時(shí)間(約824小時(shí))滿載測(cè)試。七、其它測(cè)試：ESD：Electrostatic Discharge靜電放電(人或物體經(jīng)由直接接觸或間隔放電引起)在215KV之ESD脈波下，待測(cè)物之每個(gè)表面區(qū)域應(yīng)執(zhí)行連續(xù)20次的靜電放電測(cè)試，電源供應(yīng)器之輸出需繼續(xù)工作而不會(huì)產(chǎn)生突波(Glitch)或中斷(Interrupt)，直接ESD接觸時(shí)不應(yīng)造成過(guò)激(Overshoot)或欠激(Undershoot)之超過(guò)穩(wěn)壓范圍的狀況、及過(guò)電壓保護(hù)(OVP)、過(guò)電流保護(hù)(OCP)等。另外，于ESD放電電壓在高達(dá)25KV下，應(yīng)不致造成組件故障(Failure)。EFT：Electrical Fast Transient or burst一串切換雜訊經(jīng)由電源線或I/O線路之傳導(dǎo)性干擾(由供電或建筑物內(nèi)引起)。Surge：經(jīng)由電源線之高能量暫態(tài)雜訊干擾(電燈之閃動(dòng)引起)。VD/I：Dips and Interrupts電源電壓下降或中斷(電力分配系統(tǒng)之故障或失誤所引起，例如供電過(guò)載或空氣開(kāi)關(guān)跳動(dòng)所引起)Inrush: 開(kāi)機(jī)輸入沖擊電流，開(kāi)關(guān)電源對(duì)供電系統(tǒng)的影響。 樺達(dá)張進(jìn) 2004年
醫(yī)療健康相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1