【正文】 敗的幀數(shù)CAR_ERR載波監(jiān)測(cè)錯(cuò)誤數(shù)RX_DROP接收丟包數(shù)TX_BYTES發(fā)送總字節(jié)數(shù)TX_ERR發(fā)送失敗的幀數(shù)TX_BCAST發(fā)送廣播包數(shù)TX_MCAST發(fā)送組播包數(shù)TX_UCAST發(fā)送的單播包數(shù)TX_PAUSE發(fā)送的pause幀數(shù)ALN_ERR接收的對(duì)齊錯(cuò)誤幀數(shù)TX_DEFF延遲發(fā)送的幀數(shù)TX_LATCOL發(fā)送后沖突幀數(shù)TOT_COL總沖突數(shù)PJE_AUAU指針調(diào)整TX_DEFF延遲發(fā)送的幀數(shù)TX_LATCOL發(fā)送后沖突幀數(shù)SING_COL單次沖突后正確發(fā)幀數(shù)MULT_COL多次沖突后正確發(fā)幀數(shù)XSIVE_COL多次碰撞發(fā)送失敗幀數(shù)SING_COL單次沖突后正確發(fā)幀數(shù)MULT_COL多次沖突后正確發(fā)幀數(shù)XSIVE_COL多次碰撞發(fā)送失敗幀數(shù) 各種以太網(wǎng)盤(pán)的互通說(shuō)明由于公司的以太網(wǎng)盤(pán)WAN口采用的封裝協(xié)議有2種：HDLC和GFP。GFS1L、GFSWGE2A、GFCGFF1通過(guò)千兆WAN口連接時(shí)，選擇GFP或HDLC封裝時(shí)都可以互通；GFFGFCESD1選擇GFP封裝，千兆WAN口和百兆WAN口都能互通，并能和其他廠家的GFP封裝以太網(wǎng)盤(pán)互通；ESW、E2X、ESWETH8A、ESW8A、ETH2A、ETHGFS1L、GFSW采用的是HDLC封裝，之間可以通過(guò)FE口互通，但無(wú)法和新版以太網(wǎng)盤(pán)及其他廠家的以太網(wǎng)盤(pán)通過(guò)WAN口互通。.4 以太網(wǎng)盤(pán)的測(cè)試以太網(wǎng)測(cè)試主要包含通達(dá)性測(cè)試和指標(biāo)測(cè)試2類。通達(dá)性測(cè)試，比較簡(jiǎn)單直觀，例如計(jì)算機(jī)的ping功能；指標(biāo)測(cè)試是指利用儀表或?qū)Ｓ玫能浖M(jìn)行定量的測(cè)試。主要的測(cè)試指標(biāo)是吞吐率、時(shí)延、丟包率、背靠背，具體的測(cè)試方法請(qǐng)參看儀表測(cè)試手冊(cè)。工程現(xiàn)場(chǎng)的指標(biāo)測(cè)試和實(shí)驗(yàn)室的本地測(cè)試有一些不同點(diǎn)，工程測(cè)試一般要求在異地的兩個(gè)站點(diǎn)間進(jìn)行，中間可能跨越多個(gè)站點(diǎn)；而基于儀表的測(cè)試，要求形成測(cè)試環(huán)路，被測(cè)設(shè)備要串在測(cè)試環(huán)路中。以下列出幾種工程中典型的以太網(wǎng)盤(pán)測(cè)試方案：部分網(wǎng)絡(luò)設(shè)備相連時(shí)所用5類線的類型交叉線平行線交叉線PC平行線交叉線平行線HUB平行線交叉線平行線交換機(jī)PC(DTE)交換機(jī)(DCE)路由器(DTE) 模式一由4塊以太網(wǎng)盤(pán)構(gòu)成測(cè)試回路通過(guò)4個(gè)以太網(wǎng)盤(pán)來(lái)構(gòu)成測(cè)試回路，這四個(gè)以太網(wǎng)盤(pán)采用以太網(wǎng)透?jìng)鞅P(pán)或交換盤(pán)均可。 A站 B站ETHESW儀表ETHESWETHESW LAN WAN LANETHESW LAN WAN LAN A站 B站ETHESWETHESWETHESW LAN WAN LANPCETHESWPC LAN WAN LAN測(cè)試說(shuō)明：儀表測(cè)試數(shù)據(jù)MAC地址的配置要注意若4個(gè)以太網(wǎng)盤(pán)中存在有以太網(wǎng)交換盤(pán)，則地址的配置最好配置為點(diǎn)對(duì)點(diǎn)的單播包地址，不能配置成組播地址或廣播地址；對(duì)于測(cè)試結(jié)果的分析：因?yàn)闇y(cè)試環(huán)路經(jīng)過(guò)了4個(gè)以太網(wǎng)盤(pán)時(shí)延指標(biāo)會(huì)相應(yīng)有所偏高。 模式二由2塊以太網(wǎng)透?jìng)鞅P(pán)構(gòu)成測(cè)試回路 A站 B站 儀表 LAN1 WAN1 WAN1 LAN1ETHETH LAN2 WAN2 WAN2 LAN2 A站 B站 PC LAN1 WAN1 WAN1 LAN1PCETHETH LAN2 WAN2 WAN2 LAN2 模式三由2塊以太網(wǎng)交換盤(pán)構(gòu)成測(cè)試回路 A站 B站 儀表 LAN1 WAN1 WAN1 LAN1ESWESW LAN2 WAN2 WAN2 LAN2如果是早期的以太網(wǎng)交換盤(pán)就不能用PC來(lái)PING，如果是新版的交換盤(pán)就可以測(cè)試說(shuō)明：本地局站和遠(yuǎn)端局站分別配置了一塊以太網(wǎng)交換盤(pán)，本地局站交換盤(pán)的兩個(gè)LAN口分別接至測(cè)試儀表的一個(gè)端口上，遠(yuǎn)端局站交換盤(pán)的兩個(gè)LAN口間用測(cè)試線短接起來(lái)，兩個(gè)交換盤(pán)的WAN口1之間以及WAN口2之間分別通過(guò)SDH傳輸平臺(tái)形成以太網(wǎng)通道；兩個(gè)交換盤(pán)的LAN口1和WAN口1共4個(gè)端口同屬一個(gè)VLAN，兩個(gè)交換盤(pán)的LAN口2和WAN口2共4個(gè)端口同屬另一個(gè)VLAN；測(cè)試儀表、兩個(gè)以太網(wǎng)盤(pán)以及5段鏈路形成了封閉的以太網(wǎng)測(cè)試環(huán)路；測(cè)試配置中需注意以下幾點(diǎn)：a、 針對(duì)早期以太網(wǎng)交換盤(pán)（使用共享式交換芯片，如E2X、ESW、ESW8A、GFS1L、GFSW等）測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí)，MAC地址的配置：儀表兩端口測(cè)試數(shù)據(jù)MAC地址必須配置成非點(diǎn)到點(diǎn)的單播包地址；根據(jù)VLAN的配置原則，本地站點(diǎn)和遠(yuǎn)端站點(diǎn)的以太網(wǎng)交換盤(pán)測(cè)試相關(guān)的4個(gè)LAN口可以設(shè)置為Untag，4個(gè)WAN口在這個(gè)模型中設(shè)置為T(mén)ag或Untag均可（在某些應(yīng)用中，例如中間鏈路存在多個(gè)VLAN相TRUNK的情況下，這里只能設(shè)為T(mén)ag）；對(duì)于接儀表的以太網(wǎng)端口（LAN口）Tag/Untag的設(shè)置要看在儀表端口在相應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目中能否對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)設(shè)置相應(yīng)的VLAN標(biāo)識(shí)，例如，在測(cè)試以太網(wǎng)常規(guī)指標(biāo)的情況下，SmartBit則不能添加VLAN標(biāo)識(shí)，而Ixia表可以；若儀表能添加VLAN標(biāo)識(shí)，則與之相接的以太網(wǎng)端口也可設(shè)為T(mén)ag，但相應(yīng)的VLAN　ID要一致；在該方案中，必須禁用生成樹(shù)，并且功能不能用PC機(jī)間的互Ping來(lái)驗(yàn)證測(cè)試環(huán)路的通達(dá)性。b、 針對(duì)新版以太網(wǎng)盤(pán)（使用隔離式交換芯片，如GFCGFFESDESC2等盤(pán)）的測(cè)試可以利用VMAN功能建立2條隔離的隧道然后環(huán)回形成測(cè)試環(huán)路，類似于透?jìng)鞅P(pán)的方式，可以用ping命令驗(yàn)證測(cè)試環(huán)路通達(dá)性。 模式四A 1個(gè)測(cè)試卡測(cè)試單GE通道 1 LAN WAN LAN儀表地PC2址表B 用2個(gè)GE測(cè)試卡測(cè)試單GE通道 1 LAN WAN LAN儀表地PC2址表 2測(cè)試說(shuō)明：對(duì)于本測(cè)試模型，只能用于測(cè)試以太網(wǎng)盤(pán)的穩(wěn)定性，不能用于測(cè)試以太網(wǎng)盤(pán)的常規(guī)指標(biāo)；指標(biāo)的測(cè)試必須要有兩個(gè)獨(dú)立的測(cè)試端口按模式1中的辦法測(cè)試。另外，如果是FE光口的測(cè)試一般要在光口上加光纖收發(fā)器后再測(cè)量。注意：在進(jìn)行以太網(wǎng)交換盤(pán)測(cè)試時(shí)一般不要啟用以下功能生成樹(shù)功能、流量控制功能、端口鏡像功能、端口聚合功能。1）故障的定位與問(wèn)題的分析A排除SDH傳輸平臺(tái)的故障首先應(yīng)定位是以太網(wǎng)盤(pán)本身的問(wèn)題還是SDH傳輸系統(tǒng)的問(wèn)題，可按如下方法加以定位：A、 檢查SDH交叉的正確性以及單盤(pán)時(shí)隙設(shè)置是否一致；B、 對(duì)以太網(wǎng)盤(pán)作交叉環(huán)回，若該告警消失并且其它告警正常，則可定位問(wèn)題在SDH傳輸上，而不是以太網(wǎng)盤(pán)本身的問(wèn)題。（環(huán)回也可以通過(guò)本端站光盤(pán)的設(shè)備環(huán)回或是遠(yuǎn)端站光盤(pán)的線路環(huán)回實(shí)現(xiàn)）C、 在同樣的條件下，配置其它的接口盤(pán)，如E1盤(pán)，若現(xiàn)象依舊，可斷定是系統(tǒng)的問(wèn)題。B檢查單盤(pán)配置各項(xiàng)設(shè)置是否正確某些單盤(pán)配置如果設(shè)置不當(dāng)，可能會(huì)造成以太網(wǎng)業(yè)務(wù)不正常。即使鏈路的通達(dá)性是正常的情況下仍然不能保證業(yè)務(wù)能正常使用，因?yàn)槿绻鸙LAN屬性、端口工作模式等參數(shù)配置不合理時(shí)，無(wú)法加載業(yè)務(wù)。C在以太網(wǎng)業(yè)務(wù)不正常的情況下，可嘗試以下試驗(yàn)：A、對(duì)于交換盤(pán)，用儀表測(cè)試單個(gè)以太網(wǎng)盤(pán)的交換機(jī)工作是否正常，可對(duì)單盤(pán)的交換機(jī)（LAN口間）進(jìn)行本地測(cè)試；B、對(duì)單盤(pán)作交叉環(huán)回，用儀表測(cè)試以太網(wǎng)單盤(pán)單個(gè)端口自發(fā)自收的情況，據(jù)此可以判斷排除系統(tǒng)問(wèn)題的單盤(pán)的丟包情況；D、 通過(guò)開(kāi)關(guān)時(shí)隙下設(shè)備配置，以及讓單盤(pán)重新上電，查看故障是否有改善；E、 考慮單盤(pán)在系統(tǒng)上的槽位適應(yīng)性以及系統(tǒng)不同框子的差異，可以更換槽位后，要查看有無(wú)改善；2）以太網(wǎng)單盤(pán)的參數(shù)及配置要求在工程開(kāi)通及以太網(wǎng)測(cè)試中，對(duì)相應(yīng)的以太網(wǎng)盤(pán)應(yīng)了解以下的單盤(pán)參數(shù)及配置要求：A、 基準(zhǔn)帶寬：即WAN口占用帶寬；B、 內(nèi)外口端口數(shù)量及端口類型：以太網(wǎng)盤(pán)的端口數(shù)量越多，其組網(wǎng)能力越強(qiáng)。C、 以太網(wǎng)交換功能：交換功能包括生成樹(shù)、VLAN、端口聚合、端口鏡像、端口優(yōu)先級(jí)、廣播包抑制、流量控制、組播等，對(duì)于生成樹(shù)、VLAN、流量控制等有不同的標(biāo)準(zhǔn)，還要了解它們是基于何種標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)現(xiàn)；3）以太網(wǎng)測(cè)試應(yīng)具備的測(cè)試條件首先應(yīng)確保SDH傳輸平臺(tái)無(wú)誤碼，并且保證以太網(wǎng)鏈路在短期內(nèi)（短期內(nèi)至少應(yīng)指一個(gè)測(cè)試時(shí)間段內(nèi)）無(wú)丟包；A、 指標(biāo)測(cè)試時(shí)應(yīng)遵循以下原則：a、 吞吐量（Throughput）測(cè)試最好作為首選測(cè)試項(xiàng)，因?yàn)槠渌?xiàng)測(cè)試可能需要參照該項(xiàng)測(cè)試結(jié)果作為測(cè)試參數(shù)；吞吐量指設(shè)備在不丟包的情況下所能達(dá)到的最大轉(zhuǎn)發(fā)速率（帶寬）；b、 時(shí)延（Latency）測(cè)試必須要安排在吞吐量測(cè)試后進(jìn)行，因?yàn)闀r(shí)延的測(cè)試必須在吞吐量以內(nèi)進(jìn)行；時(shí)延測(cè)試要求發(fā)出的所有測(cè)試包均要能收到，其最大測(cè)試速率應(yīng)小于設(shè)備的吞吐量；c、 丟包率（Packet Loss）測(cè)試對(duì)測(cè)試順序沒(méi)有特定要求，但一般丟包率測(cè)試的測(cè)試速率要設(shè)置成大于設(shè)備的吞吐量的情況下，測(cè)試結(jié)果才有參考意義，因?yàn)闇y(cè)試速率低于吞吐量的丟包率測(cè)試，其結(jié)果必然為0；d、 背靠背（Back To Back）測(cè)試反映的是設(shè)備的緩存能力，對(duì)測(cè)試順序沒(méi)有特定要求。4）以太網(wǎng)測(cè)試中應(yīng)禁用的交換功能在測(cè)試以太網(wǎng)盤(pán)的穩(wěn)定性和常規(guī)指標(biāo)的過(guò)程當(dāng)中，如果開(kāi)啟以下的交換功能，可能會(huì)造成測(cè)試無(wú)法正常進(jìn)行或是測(cè)試結(jié)果性能的下降：A、 生成樹(shù)功能；B、 流量控制功能；C、 端口鏡像功能；D、 端口聚合功能；所以在測(cè)試過(guò)程中，應(yīng)禁用與測(cè)試無(wú)關(guān)的交換功能，以避免對(duì)測(cè)試造成影響。5）關(guān)于測(cè)試儀表對(duì)于以上測(cè)試方案的分析和討論主要是以SmartBit為依據(jù)的，不同的測(cè)試儀表在參數(shù)設(shè)定和具體的測(cè)試實(shí)現(xiàn)細(xì)節(jié)上可能有差異。58