acf壓著技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)書-資料下載頁
2025-06-05 18:06本頁面
【正文】 方性導(dǎo)電膜） 分離成2個或者3個或分離成4個 參考：下列粒子形狀是同倍率的圖示狀態(tài) 且為壓著條件時的判斷基準(zhǔn)良品限度月形狀態(tài) 7 171。壓 著 條 件 的 目 標(biāo)187。 65 限度良品 橢圓形：NG4 圓形：NG3 2 1形狀區(qū)別 判斷壓著條件種類NOACF熱壓著外觀判斷/粒子形狀區(qū)別104）粒子形狀外觀的判斷 COPY 承認(rèn)檢認(rèn)作成 Guangzhou Seiko Instruments Ltd. （COG作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)書）文書編號：版本編號： 01生效日期： 頁數(shù)：14/15名稱 熱壓著加工 技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)書 ACF（異方性導(dǎo)電膜） AC—6072AC—6103*需密封放入冰箱（10℃∽5℃）中保管（輸送）無塵布【最后清潔/IPA】【清潔LCD/亞司通】棉棒竹棒【除去接著劑】TAB【TAB剝離】LCDLCDLCDLCDACF各種類有效日期保管方法20日1個月3個月AC—71043日3日1個月25℃以下，70%RH以下25℃以下，70%RH以下–10℃∽5℃–10℃∽5℃保管條件開封品未開封品狀態(tài)假壓著品 11．ACF/保管 111）保管方法和有效日期 (注意)?即使是未開封品在保管溫度高時,有效日期也會縮短. ?開封品再保管時,把封口反折后用透明膠密封保管 ?從冰箱取出后,『在常溫中放置30分鐘以上』(防止結(jié)露) ?使用基準(zhǔn) 121)再生作業(yè)順序① 在常溫狀態(tài)下剝掉TAB（TAB廢去）② 用竹棒去掉LCD接觸部的接著劑③ 用棉棒沾亞司通去掉殘留在LCD接觸部的接著劑并清潔④ 最后清潔用無塵布沾IPA清潔 吹干⑤ 清潔干凈后，在顯微鏡下檢查LCD電極部（ITO）是否有斷線 （注意）?亞司通不要附在偏光板上 ?IPA附在偏光板上時，立即擦去 ?和鄰接的TAB接觸時，注意是否有溶劑滲入 ?再生時只再生本壓的TAB既可 ?鄰接TAB壓著時，壓兩次才可作為良品TAB COPY 承認(rèn)檢認(rèn)作成 Guangzhou Seiko Instruments Ltd. （COG作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)書）文書編號：版本編號： 01生效日期： 頁數(shù)：12/15132）壓著頭amp。被壓著物的放置位置名稱 熱壓著加工 技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)書 ACF（異方性導(dǎo)電膜） （6）閥門（7）調(diào)節(jié)閥（5）壓力計膠條（例）（4）溫度調(diào)節(jié)計(2)(4)(3)規(guī)格膜溫測定●●●176。186。(6)24確認(rèn)表50次/交換目視無切痕 刮花 松等現(xiàn)象膠條交換LCD壓著?受取部度當(dāng)TABACF加熱頭鐵氟龍【LCD/TAB壓著】⑾(10)(9)(13)(12)(8)(7)(5)(1)176。176。176。176。176。186。176。176。186。176。186。176。186。(13) 止動閥(12) 滑板（11）自動開始開 關(guān) （10）緊急開關(guān)（9）吸著頭（8）壓著頭（3）時間表（2）操作開關(guān)?壓著范圍/濃淡可確保幅度，無切痕確認(rèn)表早/作業(yè)開始前條件確認(rèn)參照作業(yè)圖溫度壓力時間條件的確認(rèn)3確認(rèn)表早/作業(yè)開始前溫度記錄計/熱電對參照作業(yè)圖1確認(rèn)表管理方式早/作業(yè)開始前管理頻度感壓紙管理方法壓著頭平行度項目NO（1）電源開關(guān) （13）熱壓著M/C管理 131）熱壓著機(jī)M/C構(gòu)成 133）M/C管理項目KINK COPY 承認(rèn)檢認(rèn)作成 Guangzhou Seiko Instruments Ltd. （COG作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)書）文書編號：版本編號： 01生效日期： 頁數(shù)：附表1名稱 熱壓著加工 技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)書 ACF（異方性導(dǎo)電膜） 1． 粒子形狀不均勻? ? ? （附表2）2． 密著強(qiáng)度低下 ? ? ? （附表3）3． 氣泡多 ? ? ? （附表4） 【目的】 *在ACF熱壓著作業(yè)時，作為品質(zhì)問題的參考資料，新規(guī)定設(shè)定在『附表1∽附 表4』【設(shè)定目的】 關(guān)于上述內(nèi)容，設(shè)定在附頁 COPY 承認(rèn)檢認(rèn)作成 Guangzhou Seiko Instruments Ltd.
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