【正文】 G_IO_HighByte==1 r2 = r2 lsl 4 r2 = r2 lsl 4.ENDIF r1 = 1cmp r1,DIG_Count ja ?Exit// 如果位值超出范圍則退出bp = R_DIG_Buf// 將 R_DIG_Buf 的相應(yīng)元素修改為設(shè)定值bp += r1 [bp] = r2?Exit:pop bp from [sp]retf//======================================================// 函數(shù)名稱： DIG_SetAll// C 調(diào)用： void DIG_SetAll(unsigned *DigBuffer)// 匯編調(diào)用： F_DIG_SetAll// 實現(xiàn)功能： 設(shè)置所有數(shù)碼管的顯示內(nèi)容// 入口參數(shù)： DigBuffer(r1) 數(shù)碼管顯示內(nèi)容的起始地址// 出口參數(shù)：無// 破壞寄存器： 無//======================================================_DIG_SetAll: push bp to [sp] bp = sp r1 = [bp+4] call F_DIG_SetAll pop bp from [sp]retfF_DIG_SetAll: push r2,bp to [sp] bp = r1 r2 = DIG_Count r3 = R_DIG_Buf?DIG_Set_Loop:r1 = [bp++] // 將 R_DIG_Buf 修改為設(shè)定值.IF SEG_IO_HighByte==1 r1 = r1 lsl 4 r1 = r1 lsl 4 .ENDIF [r3++] = r1 r2 = 1jnz ?DIG_Set_Loop pop r2,bp from [sp]retf//======================================================// 函數(shù)名稱： DIG_Get// C 調(diào)用： unsigned DIG_Get(unsigned DigPos)// 匯編調(diào)用： F_DIG_Get// 實現(xiàn)功能： 獲取所有數(shù)碼管的顯示內(nèi)容// 入口參數(shù)： DigPos(r1) 要獲取顯示內(nèi)容的位// 出口參數(shù)：該位數(shù)碼管的顯示內(nèi)容// 破壞寄存器： 無//======================================================_DIG_Get: push bp to [sp] bp = sp r1 = [bp+4] call F_DIG_Get pop bp from [sp]retfF_DIG_Get:push r2 to [sp] r2 = R_DIG_Buf r2 += r1 r1 = [r2] pop r2 from [sp]retf//====================================================== // 函數(shù)名稱： DIG_GetAll// C 調(diào)用： unsigned *DIG_GetAll(unsigned *DigBuffer)// 匯編調(diào)用： F_DIG_GetAll// 實現(xiàn)功能： 獲取所有數(shù)碼管的顯示內(nèi)容// 入口參數(shù)： DigBuffer(r1) 保存數(shù)碼管顯示內(nèi)容的起始地址// 出口參數(shù)：保存數(shù)碼管顯示內(nèi)容的起始地址// 破壞寄存器： 無//======================================================_DIG_GetAll: push bp to [sp] bp = sp r1 = [bp+4] call F_DIG_GetAll pop bp from [sp]retfF_DIG_GetAll: push r2,bp to [sp] bp = r1 r2 = DIG_Count r3 = R_DIG_Buf?DIG_Get_Loop: r4 = [r3++] [bp++] = r4 r2 = 1 jnz ?DIG_Get_Loop pop r2,bp from [sp]retf//====================================================== // 函數(shù)名稱： DIG_Drive// C 調(diào)用： void DIG_Drive(void)// 匯編調(diào)用： F_DIG_Drive// 實現(xiàn)功能： 數(shù)碼管顯示函數(shù)，由 IRQ4_4KHz 中斷服務(wù)程序調(diào)用// 入口參數(shù)：無// 出口參數(shù)：無// 破壞寄存器： 無//======================================================_DIG_Drive:F_DIG_Drive:push r1,r4 to [sp]r1 = [R_CurDIG] // 如果不顯示則直接退出cmp r1,0xffffje ?DIG_Exit r2 = r1 + R_DIG_Buf r2 = [r2] r2 amp。= PIN_SEG_ALL r3 = [P_DIG_Buf] // 清除當(dāng)前位顯示r3 amp。= ~PIN_DIG_ALL[P_DIG_Data] = r3 r4 = [P_SEG_Buf] // 段數(shù)據(jù)設(shè)置r4 amp。= ~PIN_SEG_ALLr4 |= r2 [P_SEG_Data] = r4 r3 = [P_DIG_Buf] // 位數(shù)據(jù)設(shè)置r4 = r1 + PIN_DIGr3 |= [r4][P_DIG_Data] = r3r1 += 1 cmp r1,DIG_Countjb ?DIG_Next?DIG_Reverse:// R_CurDIG 指向下一位r1 = 0// 若已顯示到最后一位則 R_CurDIG 指向第一位?DIG_Next:[R_CurDIG] = r1?DIG_Exit: pop r1,r4 from [sp]retf//======================================================// 函數(shù)名稱： DIG_Off// C 調(diào)用： void DIG_Off(void)// 匯編調(diào)用： F_DIG_Off// 實現(xiàn)功能： 停止數(shù)碼管顯示// 入口參數(shù)：無// 出口參數(shù)：無// 破壞寄存器： 無//======================================================_DIG_Off:F_DIG_Off:push r1 to [sp] r1 = [P_DIG_Buf] r1 amp。= ~PIN_DIG_ALL [P_DIG_Buf] = r1r1 = 0xffff[R_CurDIG] = r1 pop r1 from [sp]retf//======================================================// 函數(shù)名稱： DIG_On// C 調(diào)用： void DIG_On(void)// 匯編調(diào)用： F_DIG_On// 實現(xiàn)功能： 恢復(fù)數(shù)碼管顯示// 入口參數(shù)：無// 出口參數(shù)：無// 破壞寄存器： 無//======================================================_DIG_On:F_DIG_On: push r1 to [sp] r1 = 0 [R_CurDIG] = r1 pop r1 from [sp]retf一、課程設(shè)計說明書內(nèi)容要求課程設(shè)計說明書是課程設(shè)計工作的總結(jié)和提高，課程設(shè)計說明書應(yīng)反映出作者在課程設(shè)計過程中所做的主要工作及主要成果，以及作者在課程設(shè)計過程中的經(jīng)驗教訓(xùn)。必須同時提供紙質(zhì)文檔和電子文檔。課程設(shè)計說明書內(nèi)容課程設(shè)計說明書包括以下幾個主要部分：（1） 課程設(shè)計封面（統(tǒng)一）（2） 課程設(shè)計任務(wù)書（性能功能要求）；（3） 課程設(shè)計摘要；（4） 課程設(shè)計大綱（目錄）；（5） 引言（背景及目的意義）（6） 現(xiàn)狀綜述分析（對參考文獻(xiàn)綜述）（7） 設(shè)計方案論證（包括設(shè)計功能框圖、電路的結(jié)構(gòu)框圖，方案的比較選擇等）；（8） 關(guān)鍵技術(shù)方法介紹（包括對技術(shù)應(yīng)用原理分析）（9） 硬件電路設(shè)計（包括元件參數(shù)計算、元器件型號的選擇確定，硬件電路連接調(diào)試，制作、安裝、調(diào)試步驟等）（10） 軟件設(shè)計及調(diào)試（包括設(shè)計手段、設(shè)計過程、步驟等）；（11） 試驗結(jié)果分析（包括性能功能測試實驗，測試數(shù)據(jù)和誤差結(jié)果分析）；（12） 結(jié)論及展望（13） 設(shè)計小結(jié)與體會（14） 參考文獻(xiàn)（15） 附錄（其他圖表）二、課程設(shè)計說明書編寫基本要求（1） 每個學(xué)生必須獨立完成課程設(shè)計說明書；（2） 課程設(shè)計說明書寫規(guī)范、文字通順、圖紙清晰、數(shù)據(jù)完整、結(jié)論明確；（3） 課程設(shè)計說明書后應(yīng)附參考文獻(xiàn)；（4） 要求課程設(shè)計說明書用A4紙打印裝訂成冊；（5） 電路圖用Protel繪制。（6） 署名設(shè)計學(xué)生和指導(dǎo)教師姓名；（7） 課程設(shè)計電子文件存檔，保管齊全。4