熔斷電阻自動測試設(shè)備探討-資料下載頁
2025-03-25 05:49本頁面
【正文】 1%，可在滿負荷下長時間正常工作，人為因素影響得以消除，測量結(jié)果準(zhǔn)確，重復(fù)性好。表1：使用傳統(tǒng)方法測量使用本設(shè)備測量序號熔斷時間狀 態(tài)序號熔斷時間狀 態(tài)1合格1合格2合格2合格3合格3合格4合格4合格5合格5合格6合格6合格7合格7合格8不合格8合格注：以上樣品為同批次產(chǎn)品。多次的重復(fù)性實驗均得到類似結(jié)果，傳統(tǒng)方式測量結(jié)果參數(shù)分散性強，容易出現(xiàn)不合格現(xiàn)象。3 結(jié)論使用自動熔斷參數(shù)測試設(shè)備，可有效地避免傳統(tǒng)的手工測量所存在的種種弊端，大大減輕了工作人員的勞動強度，提高了工作效率，同時消除了人為誤差，使測量結(jié)果更準(zhǔn)確，消除了同批產(chǎn)品的測量結(jié)果因人而異的狀況。[參 考 文 獻]：[M].北京：電子工業(yè)部，1988（一）集成電路手冊大全[M]，北京：電子工業(yè)出版社，2003（二）電子元器件手冊大全[M]，北京：電子工業(yè)出版社，200徐愛卿編著，MCS51/96系列單片機原理及應(yīng)用[M]，北京：北京航空航天大學(xué)出版社，198竇振中、吳悌遠、劉偉民編著，單片機應(yīng)用系統(tǒng)設(shè)計與實踐[M]，北京：北京航空航天大學(xué)出版社，1991，電子器件與電路[M]，北京：解放軍出版社，198陳瑞濤編著，電子線路基礎(chǔ)（下冊）[M]，北京：高等教育出版社，198許蔓舒編著，Visual Basic程序設(shè)計教程[M]，北京：清華大學(xué)出版社，2000、陳立元、孫德萱、程正孚編著，利用Visual Basic實現(xiàn)串并行通信技術(shù)[M]，北京：清華大學(xué)出版社，2001’ reference manual[M].Analog devices，200311.[M]. Maxim Integrated Products (美信公司)作者簡介：陳仁厚，男，1962年生于河南省光山縣，1983年7月畢業(yè)于四川大學(xué)物理系，高級工程師。主要從事紅外探測器、電子技術(shù)應(yīng)用等技術(shù)工作。作 者標(biāo) 題投稿欄目通信Email陳仁厚，馬曉東，劉晞賢，戴剛?cè)蹟嚯娮枳詣訙y試設(shè)備研究測試測量自動化crh100@郵 編地 址收件人電 話712099咸陽市文匯東路16號陳仁厚座機：33786240601手機：135710637026 /
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