補(bǔ)償中子測(cè)井儀器講課-資料下載頁(yè)
2025-03-22 07:31本頁(yè)面
【正文】 刻度的概念 儀器刻度 補(bǔ)償中子儀器長(zhǎng) 、 短源距的兩道計(jì)數(shù)率的比值 R與地層孔隙度 Ф的對(duì)數(shù)之間有非常近似直線的關(guān)系 。 可以將補(bǔ)中ФR計(jì)算公式表達(dá)為： LnФ = a*R + b. 但由于各方面因素的影響，這條直線并不直，而是一條曲線。為了減小誤差，需要根據(jù)儀器 ФR關(guān)系曲線的具體形態(tài)，用相應(yīng)的數(shù)學(xué)公式來(lái)描述。 一級(jí)刻度原理 儀器刻度 ? 儀器設(shè)備準(zhǔn)備：地面設(shè)備的準(zhǔn)備、井下儀器的準(zhǔn)備。確保地面和井下儀工作正常，將井下儀與地面系統(tǒng)正確連接好。 ? 測(cè)量?jī)x器的記錄點(diǎn)，做好深度標(biāo)記，保證儀器刻度時(shí)的記錄點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)刻度井的地層中點(diǎn)。 ? 將工作正常的儀器吊入刻度井中，要求保證良好的貼壁效果，并將儀器的計(jì)錄點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)刻度井的中間位置。 ? 給儀器供電，觀察儀器本底計(jì)數(shù)率，其本底計(jì)數(shù)率長(zhǎng)源距為 02/30s 為正常值。短源距計(jì)數(shù)率 0/30s為正常值。 一級(jí)刻度步驟 儀器刻度 儀器工作正常后 ， 裝上強(qiáng) 20Ci的中子強(qiáng)源 ， 并開(kāi)始讀數(shù) 。 每個(gè)數(shù)為 30秒的積累計(jì)數(shù) ， 并求取平均值 。儀器應(yīng)采取不同方位反復(fù)測(cè)量 ， 然后取其平均值 ，以減少因標(biāo)準(zhǔn)井本身不均勻而造成的誤差 。 記錄儀器的計(jì)數(shù)率，記的數(shù)據(jù)越多越好。補(bǔ)償中子儀的計(jì)數(shù)率數(shù)據(jù)有如下兩個(gè)規(guī)律：刻度井標(biāo)定的孔隙度越大，計(jì)數(shù)率越小刻度井標(biāo)定的孔隙度越大，儀器的兩道計(jì)數(shù)率比值 R越大。 (R= Ns / Nl。 )。 一級(jí)刻度步驟 儀器刻度 儀器刻度 將每口井的孔隙度 Ф、 計(jì)數(shù)率比值 R整理出對(duì)應(yīng)的表格 。 然后在直角坐標(biāo)系畫(huà)出各個(gè)點(diǎn) ， 注：比值 R = NS / NL。 橫坐標(biāo)為比值 R， 縱坐標(biāo)為孔隙度Ф。 將各個(gè)點(diǎn)描成曲線 ， 根據(jù)曲線的形狀 ， 用相應(yīng)的數(shù)學(xué)公式來(lái)表達(dá) 。 補(bǔ)中 ФR計(jì)算公式一般采用三次曲線方程 。 即： ф ＝ a*R3 + b*R2 + c*R + d 式中的 a、 b、 c、 d為儀器刻度中所需要求出的常數(shù)。 儀器經(jīng)過(guò)一級(jí)刻度后，儀器的信號(hào)就與地層的孔隙度之間建立了一個(gè)數(shù)學(xué)函數(shù)關(guān)系。但這個(gè)關(guān)系并不是永遠(yuǎn)有效的，因?yàn)閮x器經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的使用、維修以及更換元器件后，儀器的各項(xiàng)性能將發(fā)生變化。這時(shí)，原來(lái)的數(shù)學(xué)函數(shù)關(guān)系就不能準(zhǔn)確的反應(yīng)出地層的孔隙度。為了校正這個(gè)誤差，儀器采用了車(chē)間刻度的概念。 車(chē)間刻度 儀器刻度 車(chē)間采用一點(diǎn)刻度方法，對(duì)儀器的變化量進(jìn)行校正。其原理是：在儀器剛剛經(jīng)過(guò)一級(jí)刻度后，我們認(rèn)為儀器處于理想的狀態(tài)，此時(shí)儀器的計(jì)數(shù)率與地層孔隙度之間的數(shù)學(xué)函數(shù)關(guān)系是正確的。此時(shí)將儀器對(duì)現(xiàn)場(chǎng)刻度器的反應(yīng)記錄下來(lái)。儀器經(jīng)過(guò)一段時(shí)間后如果發(fā)生了變化，那么儀器對(duì)現(xiàn)場(chǎng)刻度器的反應(yīng)值將發(fā)生變化。通過(guò)對(duì)這兩次變化數(shù)值的處理，可以對(duì)儀器性能的變化進(jìn)行校正。 車(chē)間刻度原理 儀器刻度 將儀器平放在 1米高的支架上 ， 通電工作正常后 ，按所給定的位置 ， 正確放好現(xiàn)場(chǎng)刻度檢查器 。 給儀器通電 ， 記錄好現(xiàn)場(chǎng)刻度器在正常位置情況下儀器的計(jì)數(shù)率 。 此計(jì)數(shù)率可以隨時(shí)來(lái)檢測(cè)儀器工作是否正常 。 將該計(jì)數(shù)率的比值 R存檔 。 儀器經(jīng)過(guò)維修或經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間使用后 ， 再重復(fù)上述兩個(gè)步驟 ， 得到的計(jì)數(shù)率的比值定義為 R*，取刻度系數(shù) K， 令： K = R / R*， 那么 R = K R* 將上述公式代入 ф ＝ a*R3 + b*R2 + c*R + d 車(chē)間刻度步驟 儀器刻度 儀器刻度檢查器應(yīng)放置在儀器的固定位 置 ， 不能隨意變動(dòng) 。 儀器刻度檢查器的中子源調(diào)節(jié)口對(duì)準(zhǔn)儀 器上端 。 儀器的支架不能低于 1米高度，否則測(cè) 得的計(jì)數(shù)率數(shù)據(jù)將會(huì)增加。尤其在現(xiàn)場(chǎng) 下井前儀器在低支架上，刻度時(shí)計(jì)數(shù)率 將會(huì)增加明顯。 使用現(xiàn)場(chǎng)刻度器的注意事項(xiàng) 儀器刻度 儀器刻度 —— 兩點(diǎn)刻度法 設(shè)刻度裝置的兩個(gè)刻度點(diǎn)分別為刻度點(diǎn) I和刻度點(diǎn) II。 設(shè)理想測(cè)井儀器對(duì)兩個(gè)刻度點(diǎn)的響應(yīng)值為： NLI， NSI； NLII， NSII； ΣNL = NLI + NLII； ΣNS = NSI + NSII △ NL = NLI NLII；△ NS = NSI NSII 設(shè)實(shí)際測(cè)井儀器對(duì)兩個(gè)刻度點(diǎn)的響應(yīng)值為： nlI， nsI和 nLII,nsII 則有如下關(guān)系式成立： nlI = aL + bL NLI nLII = aL + bL NLII nsI = aS + bS NSI nsII = aS + bS NSI 根據(jù)上述關(guān)系式可以求出參數(shù) a和 b。那么，實(shí)際的測(cè)井儀器就和理想的測(cè)井儀器建立了確定的換算關(guān)系，這就是兩點(diǎn)刻度法。 刻度原理 儀器刻度 儀器刻度 —— 兩點(diǎn)刻度法 儀器刻度倉(cāng) 刻度 主體 注水孔 排水孔 支架 二級(jí)刻度器示意圖 儀器刻度 左圖為江漢油田 XX井江漢測(cè)井研究所放射性組合測(cè)井儀與 CSU儀器對(duì)比實(shí)例；右圖為油田 XX井江漢測(cè)井研究所密度、中子儀器與 3700儀器對(duì)比實(shí)例。 儀器測(cè)井曲線對(duì)比圖 謝 謝！
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