補償中子測井儀器講課-資料下載頁
2025-03-22 07:31本頁面
【正文】 刻度的概念 儀器刻度 補償中子儀器長 、 短源距的兩道計數(shù)率的比值 R與地層孔隙度 Ф的對數(shù)之間有非常近似直線的關(guān)系 。 可以將補中ФR計算公式表達為： LnФ = a*R + b. 但由于各方面因素的影響，這條直線并不直，而是一條曲線。為了減小誤差，需要根據(jù)儀器 ФR關(guān)系曲線的具體形態(tài)，用相應(yīng)的數(shù)學(xué)公式來描述。 一級刻度原理 儀器刻度 ? 儀器設(shè)備準(zhǔn)備：地面設(shè)備的準(zhǔn)備、井下儀器的準(zhǔn)備。確保地面和井下儀工作正常，將井下儀與地面系統(tǒng)正確連接好。 ? 測量儀器的記錄點，做好深度標(biāo)記，保證儀器刻度時的記錄點對準(zhǔn)刻度井的地層中點。 ? 將工作正常的儀器吊入刻度井中，要求保證良好的貼壁效果，并將儀器的計錄點對準(zhǔn)刻度井的中間位置。 ? 給儀器供電，觀察儀器本底計數(shù)率，其本底計數(shù)率長源距為 02/30s 為正常值。短源距計數(shù)率 0/30s為正常值。 一級刻度步驟 儀器刻度 儀器工作正常后 ， 裝上強 20Ci的中子強源 ， 并開始讀數(shù) 。 每個數(shù)為 30秒的積累計數(shù) ， 并求取平均值 。儀器應(yīng)采取不同方位反復(fù)測量 ， 然后取其平均值 ，以減少因標(biāo)準(zhǔn)井本身不均勻而造成的誤差 。 記錄儀器的計數(shù)率，記的數(shù)據(jù)越多越好。補償中子儀的計數(shù)率數(shù)據(jù)有如下兩個規(guī)律：刻度井標(biāo)定的孔隙度越大，計數(shù)率越小刻度井標(biāo)定的孔隙度越大，儀器的兩道計數(shù)率比值 R越大。 (R= Ns / Nl。 )。 一級刻度步驟 儀器刻度 儀器刻度 將每口井的孔隙度 Ф、 計數(shù)率比值 R整理出對應(yīng)的表格 。 然后在直角坐標(biāo)系畫出各個點 ， 注：比值 R = NS / NL。 橫坐標(biāo)為比值 R， 縱坐標(biāo)為孔隙度Ф。 將各個點描成曲線 ， 根據(jù)曲線的形狀 ， 用相應(yīng)的數(shù)學(xué)公式來表達 。 補中 ФR計算公式一般采用三次曲線方程 。 即： ф ＝ a*R3 + b*R2 + c*R + d 式中的 a、 b、 c、 d為儀器刻度中所需要求出的常數(shù)。 儀器經(jīng)過一級刻度后，儀器的信號就與地層的孔隙度之間建立了一個數(shù)學(xué)函數(shù)關(guān)系。但這個關(guān)系并不是永遠有效的，因為儀器經(jīng)過長時間的使用、維修以及更換元器件后，儀器的各項性能將發(fā)生變化。這時，原來的數(shù)學(xué)函數(shù)關(guān)系就不能準(zhǔn)確的反應(yīng)出地層的孔隙度。為了校正這個誤差，儀器采用了車間刻度的概念。 車間刻度 儀器刻度 車間采用一點刻度方法，對儀器的變化量進行校正。其原理是：在儀器剛剛經(jīng)過一級刻度后，我們認為儀器處于理想的狀態(tài)，此時儀器的計數(shù)率與地層孔隙度之間的數(shù)學(xué)函數(shù)關(guān)系是正確的。此時將儀器對現(xiàn)場刻度器的反應(yīng)記錄下來。儀器經(jīng)過一段時間后如果發(fā)生了變化，那么儀器對現(xiàn)場刻度器的反應(yīng)值將發(fā)生變化。通過對這兩次變化數(shù)值的處理，可以對儀器性能的變化進行校正。 車間刻度原理 儀器刻度 將儀器平放在 1米高的支架上 ， 通電工作正常后 ，按所給定的位置 ， 正確放好現(xiàn)場刻度檢查器 。 給儀器通電 ， 記錄好現(xiàn)場刻度器在正常位置情況下儀器的計數(shù)率 。 此計數(shù)率可以隨時來檢測儀器工作是否正常 。 將該計數(shù)率的比值 R存檔 。 儀器經(jīng)過維修或經(jīng)過長時間使用后 ， 再重復(fù)上述兩個步驟 ， 得到的計數(shù)率的比值定義為 R*，取刻度系數(shù) K， 令： K = R / R*， 那么 R = K R* 將上述公式代入 ф ＝ a*R3 + b*R2 + c*R + d 車間刻度步驟 儀器刻度 儀器刻度檢查器應(yīng)放置在儀器的固定位 置 ， 不能隨意變動 。 儀器刻度檢查器的中子源調(diào)節(jié)口對準(zhǔn)儀 器上端 。 儀器的支架不能低于 1米高度，否則測 得的計數(shù)率數(shù)據(jù)將會增加。尤其在現(xiàn)場 下井前儀器在低支架上，刻度時計數(shù)率 將會增加明顯。 使用現(xiàn)場刻度器的注意事項 儀器刻度 儀器刻度 —— 兩點刻度法 設(shè)刻度裝置的兩個刻度點分別為刻度點 I和刻度點 II。 設(shè)理想測井儀器對兩個刻度點的響應(yīng)值為： NLI， NSI； NLII， NSII； ΣNL = NLI + NLII； ΣNS = NSI + NSII △ NL = NLI NLII；△ NS = NSI NSII 設(shè)實際測井儀器對兩個刻度點的響應(yīng)值為： nlI， nsI和 nLII,nsII 則有如下關(guān)系式成立： nlI = aL + bL NLI nLII = aL + bL NLII nsI = aS + bS NSI nsII = aS + bS NSI 根據(jù)上述關(guān)系式可以求出參數(shù) a和 b。那么，實際的測井儀器就和理想的測井儀器建立了確定的換算關(guān)系，這就是兩點刻度法。 刻度原理 儀器刻度 儀器刻度 —— 兩點刻度法 儀器刻度倉 刻度 主體 注水孔 排水孔 支架 二級刻度器示意圖 儀器刻度 左圖為江漢油田 XX井江漢測井研究所放射性組合測井儀與 CSU儀器對比實例；右圖為油田 XX井江漢測井研究所密度、中子儀器與 3700儀器對比實例。 儀器測井曲線對比圖 謝 謝！
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