功能粉體材料制備ppt課件-資料下載頁(yè)
2025-01-17 16:33本頁(yè)面
【正文】 ?解析各種反應(yīng)生成物 ?測(cè)定薄膜、包裝材料等的表層重整 Xoptical electron spectrum 粉末比表面分析 (BET) 方法及原理 在定溫下，測(cè)定不同相對(duì)壓力時(shí)的氣體在固體表面的吸附量后，基于布朗諾爾 埃米特 泰勒（ BET）的多層吸附理論及其公式可計(jì)算出固體的比表面積，基于凱爾文的毛細(xì)管凝理論及其公式，惠勒關(guān)于綜合考慮毛細(xì)管凝聚和多層吸附的理論，原則上便可以計(jì)算出固體精細(xì)比表面積。 TG and DTA、 DSC ?確定粉末發(fā)生分解或氧化的溫度 ?確定粉體含水量 ?確定粉末發(fā)生晶型轉(zhuǎn)變的溫度 TG and DTA、 DSC TG DTA Others Tap density Apparent density Heat shrink Fluidity Determine the other properties of materials Special Apparent Density Tap Density 表 3 超細(xì)粉體測(cè)量技術(shù)總結(jié) 理化性能 測(cè)試方法 比表面積 BET法、浸潤(rùn)熱法、透過(guò)法 表面電性 Zeta電位 表面成分 光電子能譜、俄歇電子譜、紅外光譜 表面能 接觸角法、浸潤(rùn)熱法 分散性 顯微鏡法、粘度測(cè)量法、粒度分布法、濁度法 粒度及表面形狀 詳見(jiàn)表 4 表 4 粒度測(cè)量技術(shù) 粒度分析方法 適用粒度范圍 /μｍ 特 性 篩分 5 操作簡(jiǎn)單 ,重復(fù)性差 光學(xué)顯微鏡 1～ 1000 分辨率高 ,統(tǒng)計(jì)精度差 多普勒相分析 1～ 1000 分辨率高 ,只適合圓顆粒 庫(kù)爾特原理 ～ 1000 分辨率高 ,標(biāo)準(zhǔn)需在電解質(zhì)中 重力沉降 ～ 100 慢 ,重復(fù)性差 ,另需檢測(cè)方法 全息攝影 ～ 1000 三維 ,瞬間記錄 光學(xué)計(jì)數(shù)器 ～ 5000 分辨率高 光衍射 ～ 8000 動(dòng)態(tài)范圍寬、快、應(yīng)用廣 電子顯微鏡 ～ 200 分辨率高 ,統(tǒng)計(jì)精度差 擴(kuò)散電池 ～ 氣相內(nèi)亞微米顆粒表征 微分淌度分析 ～ 1 氣相內(nèi)亞微米顆粒表征
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