[工學(xué)]復(fù)習(xí)思考題及解答-資料下載頁
2025-01-08 20:09本頁面
【正文】 原理：當(dāng)入射電子與樣品物質(zhì)的內(nèi)層電子作用，使內(nèi)層電子電離而損失一部分能量產(chǎn)生非彈性散射。對于每一元素，激發(fā)內(nèi)層電子所需的最低能量一定，具有特征值，檢測入射電子參與原子激發(fā)所損失的能量即可進(jìn)行元素分析。 特點(diǎn)：具有比能譜更高的空間分辨率（ ~1nm）；對原子序數(shù)低的元素靈敏度高，適于分析輕元素；檢測效率高；可反映試樣中有關(guān)電子結(jié)構(gòu)和化學(xué)鍵的詳細(xì)信息。 應(yīng)用：納米微區(qū)的化學(xué)成分測定；物質(zhì)的化學(xué)或晶體學(xué)狀態(tài)；原子的近鄰關(guān)系和價(jià)鍵狀態(tài) 12. 什么是差熱分析，什么是差示掃描量熱分析，兩者原理與 功能有何區(qū)別。 13. 什么是原子探針，與電子探針相比有何特點(diǎn)和應(yīng)用。 14. 材料表面成分分析方法有哪些，各有何特點(diǎn)和應(yīng)用。 主要有電子探針（能譜儀 /EDS、波譜儀 /WDS）、俄歇電子能譜（ AES）、 X射線光電子能譜（ XPS）、 二次離子質(zhì)譜（ SIMS）、 盧瑟福背散射能譜等。 特點(diǎn)及應(yīng)用（略） 15. 材料表面形貌分析方法有哪些，各有何特點(diǎn)和應(yīng)用。 主要方法有掃描電子顯微鏡（ SEM）、原子力顯微鏡（ AFM）、掃描隧道顯微鏡（ ATM）等。 特點(diǎn)及應(yīng)用（略） 應(yīng)同學(xué)要求對某些問題做了解答 。 因時(shí)間關(guān)系，沒有將全部問題解 答。 沒有解答 的 問題 或者省略的問題 不是不重要 ！ 以上 答案僅 供 復(fù)習(xí) 參考！
試題試卷相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1