低能電子衍射leeppt課件-資料下載頁
2025-01-04 19:41本頁面
【正文】 ，表面的吸附特點，吸附原子的空間位置，表面結(jié)構(gòu)與表面態(tài)的關(guān)系等。 低能電子衍射應用的主要領(lǐng)域 對于清潔表面的分析 對吸附表面的分析 表面結(jié)晶學及微觀結(jié)構(gòu)； 1 表面相鑒定吸附、偏析、結(jié)構(gòu)重組； 2 表面動態(tài)過程的分析長大動力學、熱振動； 3 確定表面原子位置， 4 LEED的基本用途 LEED的優(yōu)勢 LEED與其他方法的區(qū)別 SEM、 AFM圖案反映的是直觀、真實的表面形貌。 LEED需要經(jīng)過計算轉(zhuǎn)換后才能得到實際晶格的數(shù)據(jù)。 對表面形貌的分辨率已接近原子分辨，但受針尖或樣品在力作用下的變形的影響，無法精確測定表面二維結(jié)構(gòu)的有關(guān)參數(shù)。 ?通常用來觀察材料的斷面以及顯微組織的三維形象，但是無法鑒別晶體二維結(jié)構(gòu) ?能夠確定晶體表面的二維結(jié)構(gòu) LEED的劣勢 盡管低能電子衍射在現(xiàn)代表面研究中占有很重要的地位，但比起俄歇電子譜方法來局限性要大得多。 所能分析的只是具有橫向周期性結(jié)構(gòu)的表面。 其一 低能電子衍射所能分析的僅是很薄的表面層。 其二
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