邁克耳孫干涉儀實(shí)驗(yàn)-資料下載頁(yè)
2024-12-08 12:27本頁(yè)面
【正文】 二、觀察和記錄各種干涉條紋 1. 調(diào)節(jié) 觀 M1鏡的位置，觀 察和記錄非定域和定域的等傾干涉條紋。 M1與 M2?之間的距離（可看到條紋變稀、變粗），直至視場(chǎng)中剩下一兩條彎曲條紋， 調(diào)節(jié) M2一側(cè)的水平微調(diào)螺絲， 及 M1鏡的微調(diào)螺旋， 觀察和記錄非定域和定域的等厚干涉條紋。 三、白光條紋的調(diào)節(jié) 調(diào)出等厚干涉條紋，換上白光光源，微調(diào) M1可觀察到彩色條紋。當(dāng)彩色條紋中心黑條紋位于視場(chǎng)中心時(shí)，儀器處于零光程點(diǎn)。 返回 數(shù)據(jù)處理 0 1 2 3 4 5 i 6+i d?返回 ? 嚴(yán)禁手摸所有光學(xué)表面 ? 測(cè)量時(shí)，微調(diào)螺旋只能向一個(gè)方向轉(zhuǎn)動(dòng) ，中途不能反向。 ? 不要過(guò)分?jǐn)Q緊 M1鏡和 M2鏡后的螺絲。 ? 注意光纖的使用，禁止彎折。 ? 粗調(diào)時(shí)注意邊搖邊看，防止主動(dòng)輪卡死。 返回 注意事項(xiàng)
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