第11章數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)、采集與轉(zhuǎn)換-資料下載頁
2025-09-19 16:42本頁面
【導(dǎo)讀】MOS型存儲(chǔ)器：速度較慢，功耗小，集成度高。儲(chǔ)單元用一黑點(diǎn)表示。例11-1用簡(jiǎn)化的ROM存儲(chǔ)矩陣設(shè)計(jì)全加器。陣分別如圖所示。存儲(chǔ)一位二進(jìn)制數(shù)碼“1”或“0”。為單位進(jìn)行存儲(chǔ)的。存儲(chǔ)容量—存儲(chǔ)器含存儲(chǔ)單元的總個(gè)(位)數(shù)。存儲(chǔ)容量=字?jǐn)?shù)?讀/寫控制電路用于對(duì)電路的工作狀態(tài)進(jìn)行控制。4的RAM擴(kuò)展為4K×4位的RAM. 兩次采樣之間保持上一次采樣結(jié)束時(shí)的狀態(tài)，持電路由運(yùn)算放大器、保持電容C和開關(guān)S組成。合理的采樣頻率由采樣定理確定。模轉(zhuǎn)換器是計(jì)算機(jī)與外部設(shè)備的重要。接口,也是數(shù)字測(cè)量和數(shù)字控制系統(tǒng)的重要部件。將數(shù)字量轉(zhuǎn)換為模擬量的裝置稱為數(shù)?
【正文】 ，是由順序脈沖發(fā) 生器，逐次逼近寄存器， D/A轉(zhuǎn)換器和電壓比較器等幾部分 組成。 輸出數(shù)字量 輸入模擬電壓u ou i順序脈沖發(fā)生器逐次逼近寄存器D / A轉(zhuǎn)換器電壓比較器逐次逼進(jìn)？ 其工作原理可用天平秤重作比喻。若有四個(gè)砝碼共重 15克，每個(gè)重量分別為 1克。設(shè)待秤重量 Wx = 13克，可以用下表步驟來秤量： 砝碼重 第一次 第二次 第三次 第四次 加 4克 加 2克 加 1克 8 克 砝碼總重 待測(cè)重量 Wx ，故保留 砝碼總重仍 待測(cè)重量 Wx ，故保留 砝碼總重 待測(cè)重量 Wx ，故撤除 砝碼總重 ＝ 待測(cè)重量 Wx ，故保留 暫時(shí)結(jié)果 8 克 12 克 12 克 13 克 結(jié) 論 逐次比較型 A/D轉(zhuǎn)換器電路如圖所示。 輸出數(shù)字量 輸入模擬電壓u ou i順序脈沖發(fā)生器逐次逼近寄存器D / A轉(zhuǎn)換器電壓比較器轉(zhuǎn)換開始前先將所有寄存器清零 。 開始轉(zhuǎn)換以后 ， 時(shí)鐘脈沖首先將寄存器最高位置成 1， 使輸出數(shù)字為 100… 0。 這個(gè)數(shù)碼被 D/A轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成相應(yīng)的模擬電壓 uo， 送到比較器中與 ui進(jìn)行比較 。 若 ui＞ uo， 說明數(shù)字過大了 ， 故將最高位的 1清除；若 ui＜ uo， 說明數(shù)字還不夠大 ， 應(yīng)將這一位保留 。 然后 ， 再按同樣的方式將次高位置成 1， 并且經(jīng)過比較以后確定這個(gè) 1是否應(yīng)該保留 。 這樣逐位比較下去 ，一直到最低位為止 。 比較完畢后 ， 寄存器中的狀態(tài)就是所要求的數(shù)字量輸出 。 原理框圖 基本原理 ADC0804是用 CMOS集成工藝制成的逐次比較型模數(shù)轉(zhuǎn) 換芯片。 集成 A/D轉(zhuǎn)換器 1．分辨率 A/D轉(zhuǎn)換器的分辨率是指輸出數(shù)字量變化一個(gè)最低有效為 LSB所對(duì)應(yīng)的輸入模擬電壓的變化量。 例如輸入模擬電壓的變化范圍為 0～ 10V，輸出為 10位數(shù)碼， 則分辨率為 1010 2 1 2 1nU mVD ==2．轉(zhuǎn)換誤差 轉(zhuǎn)換誤差表示 A/D轉(zhuǎn)換器實(shí)際輸出的數(shù)字量和理論上的輸出 數(shù)字量之間的差別。 3 ． 轉(zhuǎn)換時(shí)間 轉(zhuǎn)換時(shí)間是指 A/D轉(zhuǎn)換器從轉(zhuǎn)換控制信號(hào)到來開始，到輸出 端得到穩(wěn)定的數(shù)字信號(hào)所經(jīng)過的時(shí)間。 A/D轉(zhuǎn)換器的主要技術(shù)指標(biāo) 教學(xué)要求 了解 D/A、 A/D轉(zhuǎn)換的功能、類型和指標(biāo) 。 了解 D/A、 A/D轉(zhuǎn)換常用芯片的使用方法。
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