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基于8051單片機(jī)的相位差測試儀的研究設(shè)計(jì)-資料下載頁

2025-06-07 13:35本頁面
  

【正文】 32 for(j=0。j125。j++) {。} } } char vert (float x) { int t,y,z,u,p,q,out1,out2,out3,out4,out5。 char court[18]={0xC0,0xF9,0xA4,0xB0,0x99,0x92, 0x82,0xF8,0x80,0x90,0x88,0x83,0xC6,0xA1,0x86,0x84,0xFF,0x8C}。 t=100*x。 y=t/10000。 z=(t%10000)/1000。 u=(t%1000)/100。 p=(t%100)/10。 q=t%10。 out1=court[y]。 out2=court[z]。 out3=court[u]。 out4=court[p]。 out5=court[q]。 printf(out5=%d\n,out5)。 printf(out4=%d\n,out4)。 printf(out3=%d\n,(out3)amp。(0x7f))。 printf(out2=%d\n,out2)。 printf(out1=%d\n,out1)。 return 1。 } 劉峰 基于單片機(jī)的相 位差測試儀的研究 33 劉峰 基于單片機(jī)的相 位差測試儀的研究 34 劉峰 基于單片機(jī)的相 位差測試儀的研究 35 劉峰 基于單片機(jī)的相 位差測試儀的研究 36 劉峰 基于單片機(jī)的相 位差測試儀的研究 37 LF353 寬頻帶結(jié)型場效應(yīng)晶體管輸入運(yùn)算放大器 概述 這類器件是低成本,高速,雙 結(jié)型晶體管( JFET)輸入運(yùn)算放大器,具有內(nèi)部微調(diào)輸入失調(diào)電壓( BIFET||TM工藝)。它們需要的電源電流低,但仍保持打的增益帶寬乘積和快的轉(zhuǎn)換速率。另外,匹配良好的高壓 JFET 輸入器件提供極低的輸入偏流和失調(diào)電流。 LF353引腳與標(biāo)準(zhǔn) LM1558兼容。因而設(shè)計(jì)者可立刻提高現(xiàn)有 LM1558和 LM358設(shè)計(jì)總性能。 LF353可用在如高速積分器,快速 D/A 轉(zhuǎn)換器,取樣保持電路等應(yīng)用中,還可以用在需要低輸入失調(diào)電壓,低輸入電 流,高輸入阻抗,高轉(zhuǎn)換速率和寬頻帶的其他許多電路中。該器件具有低的噪聲和失調(diào)電壓漂移, 特點(diǎn): 內(nèi)部微調(diào)失調(diào)電壓 10mv 低輸入偏流 50PA 低輸入噪聲電壓 16nv/ HZ 低輸入噪聲電流 寬的增益帶寬 4MHZ 高的轉(zhuǎn)換速率 13V/us 低的電源電流 高輸入阻抗 ?1210 低的總諧波失真 Av= 10, % Rl= 10K,Vo= 20Vpp, BW=20HZ20KHZ 低的 1/f 噪聲拐點(diǎn)頻率 50HZ 快速穩(wěn)定到 %的時(shí)間 20us 絕對最大額定值 如果符合軍用或航空航天規(guī)范的器件,請與國家半導(dǎo)體公司銷售部或經(jīng)銷商連續(xù)提供貨和索取說明書。 劉峰 基于單片機(jī)的相 位差測試儀的研究 38 電源電壓 177。 18V 功耗(注 1 和 6) (注 1) 工作溫度范圍 070℃ Jj(MAX) 150℃ 差分輸入電壓 177。 30V 輸入電壓范圍(注 2) 177。 15V 輸出短路時(shí)間 連續(xù) 貯存溫度范圍 65~ +150℃ 引線溫度(焊接, 10 秒) 雙列直插式封裝 260℃ 焊接, 10 秒 260℃ 小輪廓封裝 氣相( 60 秒) 215℃ 紅外( 15 秒) 215℃ 對焊接表面安裝器件的其他方法,參見 AN450“表面安裝方法及其對產(chǎn)品可靠性的影響” ESD 額定值待定 應(yīng)用提示 LF353 是具有內(nèi)部微調(diào)輸入失調(diào)電壓和 JFET 輸入器件的運(yùn)算放大器( BIFET‖TM工藝)。這些 JFET 具有大的刪 源和刪 —漏反向擊穿電壓,在輸入端上不需要箝位電路。因此,容易獲得大的差分輸入電壓,而輸入電流又不會有大的增加。最大差分輸入電壓與電源電壓無關(guān)。然而,任何一個(gè)輸入電壓不允許超過負(fù)電源,這會使大的 電流流過,而可能由此造成單元?dú)摹? 任何一個(gè)輸入超過負(fù)共模極限,將迫使輸出到高態(tài),可能使輸出倒相。若兩個(gè)輸入都超過負(fù)共模極限,將迫使放大器輸出到高態(tài)。在任何一種情況中,都不會發(fā)生閂鎖,因?yàn)檩斎肷仙氐焦材7秶鷥?nèi),再次讓輸入級,因此放大器進(jìn)入正常工作模式。 單個(gè)輸入超過正共模極限,將不改變輸出相位,然而,兩個(gè)輸入都超過該極限,將迫使放大器輸出到高態(tài)。 放大器將以等于正電源的共模輸入電壓工作,然而,在此條件中,增益帶寬和轉(zhuǎn)換速 劉峰 基于單片機(jī)的相 位差測試儀的研究 39 率可能會降低。當(dāng)負(fù)共模電壓變動到負(fù)電源的 3V時(shí),可能使輸入失調(diào)電壓增加。 LF353,由齊納基準(zhǔn)偏置,允許電路在177。 6V 電源上正常工作。電源電壓低于這些值時(shí),可能引起增益帶寬和轉(zhuǎn)換速率的下降。 LF351 在 0℃至 70℃整個(gè)溫度范圍內(nèi)將 2千歐姆負(fù)載電阻驅(qū)動到177。 10V。若迫使放大器驅(qū)動重負(fù)載電流,那么在負(fù)電壓擺幅上可能使輸入失調(diào)電壓增加,而最終在正和負(fù)電壓擺幅上達(dá)到有效的電流極限。 應(yīng)采取措施保證集成電路的電源極性決不接反,或者保證不把插件反向安裝在插口內(nèi),因?yàn)橥ㄟ^集成電路內(nèi)的正向二極管的無限制的電流沖擊會可能引起內(nèi)部導(dǎo)體熔斷,并由此造成插件的毀壞。 因?yàn)檫@些放大器是 JFET 而不是 MOSFET 輸入運(yùn)算放大器,它們不需要特殊處理。 與大多數(shù)放大器一樣,為了保證穩(wěn)定性,應(yīng)注意引線編排,元件放置和電源去耦。例如,輸出至輸入的電阻器應(yīng)置于接近輸入的殼體上,以使輸入至地的電容減至最小,從而使干擾減至最小,反饋極頻率增至最大。 當(dāng)放大器周圍的反饋是電阻性時(shí),就產(chǎn)生反饋極。從器件的輸入端(通常,變換輸入)至交流地的并聯(lián)電阻和電容調(diào)節(jié)極頻率。在許多情況中,此極頻率遠(yuǎn)大于預(yù)計(jì)的閉路增益3dB 頻率時(shí),因此對穩(wěn)定界限的影響可忽略不計(jì)。然而,若反饋極低于 6倍的預(yù)計(jì) 3db的頻率,則應(yīng)從運(yùn)算放 大器的輸出至輸入放置導(dǎo)通電容器。附加電容器的電容值應(yīng)使此電容器和其平聯(lián)電阻的 RC 時(shí)間常數(shù)大于或等于原來的反饋極時(shí)間常數(shù)。 劉峰 基于單片機(jī)的相 位差測試儀的研究 40 設(shè)計(jì)回顧,收獲及心得體會 經(jīng)過三個(gè)月的畢業(yè)論文設(shè)計(jì),收獲頗豐,感觸良多。 首先畢業(yè)論文的設(shè)計(jì)要求我們認(rèn)真研究該課題,了解該課題研究的國內(nèi)外相關(guān)背景,發(fā)展前沿及趨勢,通過上網(wǎng)和圖書館查找相關(guān)資料,不但給我們的方案選擇指明了方向,而且拓寬了視野,增長了見識。在提出一系列初步方案之后,要求我們根據(jù)客觀實(shí)際情況作出最優(yōu)化的選擇,通過各環(huán)節(jié)各方案的仔細(xì)比較,我們不但對各元器件的 功能性能增加了了解,而且更加熟悉和深刻了該方案的目的和作用要求,整體方案 是由各小方案組成的,這又要求我們根據(jù)誤差要求及前后環(huán)節(jié)的實(shí)際情況進(jìn)行優(yōu)化組合。在方案框架基本成型后,要求我們對方案進(jìn)行細(xì)化,對各原理圖進(jìn)行細(xì)化,這需要我們根據(jù)各環(huán)節(jié)的功能及應(yīng)達(dá)到的目的進(jìn)行定量分析,我們必須計(jì)算出各器件的參數(shù),確定其規(guī)格型號,使之符合設(shè)計(jì)要求。本次畢業(yè)設(shè)計(jì)涉及了模擬電子技術(shù),數(shù)字電子技術(shù)和單片機(jī)等多方面的知識,比如小信號部分用的主要是模擬電子技術(shù)方面的知識,而計(jì)數(shù)部分又用到數(shù)字電子技術(shù)知識,最后處理使用的是單片機(jī)編程, 環(huán)環(huán)相扣,需要我們對每個(gè)環(huán)節(jié)的設(shè)計(jì)考慮周全。而在仿真方面,這是一個(gè)考驗(yàn)人耐性的階段,在我們用Protel 99SE繪制出 SCH原理圖并設(shè)置參數(shù)進(jìn)行仿真時(shí),總是出現(xiàn)錯(cuò)誤,經(jīng)過將近 10天的檢查,原本以為準(zhǔn)確無誤的原理圖被我們找出了將近十幾個(gè)錯(cuò)誤,修改之后,終于柳暗花明,撥云見日,預(yù)期的波形躍入了眼簾。而經(jīng)過這個(gè)階段,我們對 Protel軟件的使用比以前大有長進(jìn)。在仿真波形及各項(xiàng)參數(shù)得出之后,要求我們對其進(jìn)行分析運(yùn)算,看看是否達(dá)到了預(yù)期要求。誤差分析要求我們對各環(huán)節(jié)可能產(chǎn)生的誤差進(jìn)行分析,并有針對性的提出改進(jìn)方案。 在論文書寫方面,論文書寫格式,字體等的要求相當(dāng)嚴(yán)格,經(jīng)過這個(gè)階段后,基本掌握了論文的規(guī)范書寫,而在專業(yè)英語翻譯部分,為我們以后對外文資料的閱讀打下了基礎(chǔ)。等等這些都為以后在工作崗位上更好的工作有很大的幫助。同是由于論文書寫中需要將圖形畫出,迫使我們從頭開始學(xué)習(xí) AUTO CAD軟件,這樣一來我們對 AUTO CAD的使用又有了相當(dāng)基礎(chǔ)的了解。 總之,本次畢業(yè)設(shè)計(jì)鞏固了我們的專業(yè)理論知識,拓寬了視野,其中遇到的種種困難,提高了我們解決實(shí)際問題的能力。同時(shí)因?yàn)槭莾蓚€(gè)人做一個(gè)課題,分工明確,要求我們互相幫助,學(xué)習(xí),互 相體諒。增強(qiáng)了我們的團(tuán)隊(duì)合作精神。 劉峰 基于單片機(jī)的相 位差測試儀的研究 41 感謝辭 本次畢業(yè)設(shè)計(jì)歷時(shí)三個(gè)月,在這三個(gè)月里,從一開始課題分析,到方案的選擇,成型;從方案的各環(huán)節(jié)的理論驗(yàn)證,到各環(huán)節(jié)的功能的實(shí)現(xiàn);從仿真時(shí)的疑惑重重,到論文的書寫等等,期間,在資料的查找,元器件的選擇,方案的比較選擇,等等,都得到了劉百芬老師的有力指導(dǎo)和幫助。特別是在遇到各種困難,難以突破的局面時(shí),劉百芬老師更是不厭其煩,耐心的細(xì)心指導(dǎo),解答,他循循善誘的教育方法,和創(chuàng)造性的思維給了我們很大的啟發(fā)。尤其是在方案的選擇 方面,他給的參考性意見給了我們莫大的幫助,使我們少走了很多彎路。在此,對劉百芬老師表示衷心的感謝。還有甘方成老師和張永賢老師,在仿真方面給我們提出了富有建設(shè)性的意見,幫助我們解決了不少實(shí)際問題,在此一并致謝。同時(shí),在遇到了問題時(shí),我們經(jīng)常尋找自動化教研室的老師進(jìn)行解答,感謝他們的熱誠幫助。 劉峰 基于單片機(jī)的相 位差測試儀的研究 42 參考文獻(xiàn) [1] 潘永雄 沙河 劉向陽 電子線路 CAD 使用教程 [M], 西安 : 西安電子科技大學(xué)出版社 [2] 全國大學(xué)生電子設(shè)計(jì)競賽獲獎 作品選 (2021)[M] 北京理工大學(xué)出 版社 [3] 馬忠梅 劉濱 戚軍 馬巖 單片機(jī) C 語言 Windows環(huán)境編程寶典 [M] 北京 :,北京航空航天大學(xué)出版社 [4] 張毅坤 陳善久 裘雪紅 單片機(jī)微型計(jì)算機(jī)原理及應(yīng)用編著 [M] , 西安 :西安電子科技大學(xué) [5] 呂鳳 C++語言基礎(chǔ)教程 [M],北京,清華大學(xué)出版社 [6] 邱關(guān)源 電路 [M],北京;高等教育出版社 [7] 丁學(xué)鈞,劉建臣 AutoCAD 2021 中文實(shí)用教程 [M],國防工業(yè)大學(xué)出版社 [8] 李偉 王祥仲 AutoCAD 2021 直通車 [M],北京;清華大學(xué)出版社 [9] 祝曉 東 電氣工程專業(yè)英語實(shí)用教程 [M] 北京;清華大學(xué)出版社 [10] 李建防 (成都 ) 張鳳生 (青島 )《 兩同頻交變信號相位差測量的新方法》 [C],方正數(shù)據(jù)庫 [11] 史健芳 《 用單片機(jī)測量相位差的新方法》 [C]太原 :方正數(shù)據(jù)庫 [12]《 基于單片機(jī)的低頻數(shù)字相位測量儀的設(shè)計(jì)》 [C] 西安 :方正數(shù)據(jù)庫 [13] 中國芯片手冊網(wǎng) [DB/OL],
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