【正文】
icroelectronics Xidian University (3) 如果數(shù)字電路的模擬結(jié)果異常,從出現(xiàn)異常的輸出端開始,逐級向前查找出現(xiàn)問題的位置。 模擬中異常情況的分析和原因查找 2021 School of Microelectronics Xidian University 例:出現(xiàn)異常情況的半加器 2021 School of Microelectronics Xidian University 例:出現(xiàn)異常情況的半加器 2021 School of Microelectronics Xidian University 為了分析 SUM信號出現(xiàn)異常的原因,增加顯示U3A器件兩個輸入端的信號。 例:出現(xiàn)異常情況的半加器 2021 School of Microelectronics Xidian University 增大 U1A器件的延遲時間 (將其 MNTYMXDLY參數(shù)設置為 3),減小U1B器件的延遲時間 (將其 MNTYMXDLY參數(shù) 設置為 1),有可能解決問題。 例:出現(xiàn)異常情況的半加器 2021 School of Microelectronics Xidian University (1)選擇執(zhí)行 PSpice/Markers命令,在電路圖中適當?shù)奈恢梅胖?Markers等符號,可以在 Probe窗口中自動顯示相應波形。 幾點快捷使用方法 2021 School of Microelectronics Xidian University (2)選擇執(zhí)行 Place/Parts命令 ,在電路圖中適當位置放置 Vprint、Iprint等符號,可以將相應 波形的數(shù)據(jù)存放到輸出文件中。 幾點快捷使用方法 2021 School of Microelectronics Xidian University (3)選擇執(zhí)行 PSpice/Bias Points命令,可以在電路圖上顯示出直流偏置信息,包括節(jié)點電壓和支路電流。 幾點快捷使用方法