電壓波動(dòng)和閃爍檢測(cè)-資料下載頁(yè)
2025-05-14 23:56本頁(yè)面
【正文】 ngtze Normal University 《 電磁兼容檢測(cè)技術(shù)與應(yīng)用 》 27 電壓波動(dòng)和閃爍檢測(cè)試驗(yàn)儀器配置 框 4包含一個(gè)平方器和時(shí)間常數(shù)為 300ms的低通濾波器 ，用來(lái)模擬燈 眼 腦環(huán)節(jié)對(duì)燈光照度變化的暫態(tài)非線性響應(yīng) ，由 S(t)曲線作出的 CPF曲線示例記憶效應(yīng) 。 框 4的輸出 S(t)反映了人的視覺(jué)對(duì)電壓波動(dòng)的瞬時(shí)閃變感覺(jué)水平 ， 如圖 A2 a)所示 ， 可對(duì) S(t)作不同的處理來(lái)反映電網(wǎng)電壓引起的閃變情況 。 Yangtze Normal University 《 電磁兼容檢測(cè)技術(shù)與應(yīng)用 》 28 圖 A2 由 S(t)曲線作出的 CPF曲線示例 累積概率函數(shù) cumulative probability function（ CPF） 其橫坐標(biāo)表示被測(cè)量值 (例如瞬時(shí)閃變值 )， 縱坐標(biāo)表示超過(guò)對(duì)應(yīng)橫坐標(biāo)值的時(shí)間占整個(gè)測(cè)量時(shí)間的百分?jǐn)?shù) (見(jiàn)圖 A2)。 Yangtze Normal University 《 電磁兼容檢測(cè)技術(shù)與應(yīng)用 》 29 進(jìn)入框 5的 S（ t） 值是用積累概率函數(shù) CPF的方法進(jìn)行分析 。 在觀察期內(nèi) （ 10min） ， 對(duì)上述信號(hào)進(jìn)行統(tǒng)計(jì) 。 電壓波動(dòng)和閃爍檢測(cè)試驗(yàn)儀器配置 Yangtze Normal University 《 電磁兼容檢測(cè)技術(shù)與應(yīng)用 》 30 電壓波動(dòng)和閃爍檢測(cè)試驗(yàn)儀器配置 實(shí)驗(yàn)配置 (1) 接地平板厚度 ， 面積 2 000mm 2 000mm的金屬板； (2) 接地線用薄銅條：長(zhǎng)寬比 5:1；厚度 。 (3) 器具與屏蔽室距離 800mm, 落地式器具離接地平板的絕緣高 度為 100mm177。 25%； (4) 器具與人工電源網(wǎng)絡(luò)的距離為 800mm， 超出部分應(yīng)折疊成 300~ 400mm長(zhǎng)的線束 ， 且與測(cè)量?jī)x器的距離不小于 800mm。 (5) 人工電源網(wǎng)絡(luò)接地用長(zhǎng)寬比不超過(guò) 3: 厚度為 條 。 Yangtze Normal University 《 電磁兼容檢測(cè)技術(shù)與應(yīng)用 》 31 Yangtze Normal University 《 電磁兼容檢測(cè)技術(shù)與應(yīng)用 》 32 電壓波動(dòng)和閃爍檢測(cè)方法及過(guò)程 測(cè)量電路 （ 單相 ） Yangtze Normal University 《 電磁兼容檢測(cè)技術(shù)與應(yīng)用 》 33 電壓波動(dòng)和閃爍檢測(cè)方法及過(guò)程 標(biāo)準(zhǔn)運(yùn)行條件和正常負(fù)載 Yangtze Normal University 《 電磁兼容檢測(cè)技術(shù)與應(yīng)用 》 34 電壓波動(dòng)和閃爍檢測(cè)方法及過(guò)程 試驗(yàn)判定標(biāo)準(zhǔn) 判定標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)查閱國(guó)標(biāo) GB/T 123262021標(biāo)準(zhǔn) 。 Yangtze Normal University 《 電磁兼容檢測(cè)技術(shù)與應(yīng)用 》 35 課后作業(yè) : 1, 2 Yangtze Normal University 《 電磁兼容檢測(cè)技術(shù)與應(yīng)用 》 36
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