變頻器故障分析安川,西門(mén)子-資料下載頁(yè)
2025-05-10 13:48本頁(yè)面
【正文】 應(yīng)檢查能量回饋單元（ CONVERTER）；也有可能網(wǎng)側(cè)容量不夠，即高壓側(cè)變壓器容量不夠，容易產(chǎn)生系統(tǒng)諧振。 絕緣柵雙極型晶體管 IGBT 雙極型功率晶體管 場(chǎng)效應(yīng)管 IGBT 大電流 開(kāi)關(guān)高速 絕緣柵雙極型晶體管 IGBT 絕緣柵雙極晶體管結(jié)合了 MOSFET和 BJT各自的優(yōu)點(diǎn)： ?可靠性高 ?功率大 ?輸入阻抗高 ?開(kāi)關(guān)速度快 ?通態(tài)電壓低 ?耐壓高 ?驅(qū)動(dòng)電路簡(jiǎn)單 ?保護(hù)容易 IGBT故障 西門(mén)子變頻器 (6SE7023)： 故障代碼： F02 F02 F02 F00 F011 富士變頻器 (5000VG7S)： 故障代碼： DCF 安川變頻器 (G7)： 故障代碼： PUF IGBT故障 通過(guò)對(duì)多例變頻器故障的分析，發(fā)現(xiàn)變頻器的功率輸出元件IGBT，快速熔斷器，驅(qū)動(dòng)板是故障發(fā)生時(shí)的易損元件，總結(jié)故障原因主要為以下兩類(lèi)： 1：變頻器輸出側(cè)短路（變頻器至電機(jī)引線對(duì)地或相間短路，電機(jī)繞組絕緣損壞）損壞 IGBT，快速熔斷器，驅(qū)動(dòng)板。 2：主控板故障造成誤觸發(fā)，損壞 IGBT，快速熔斷器，驅(qū)動(dòng)板。 IGBT故障 以 YASKAWA 變頻器的 Varispeed G7為例： 當(dāng)變頻器報(bào) PUF故障時(shí)，快速熔斷器損壞的同時(shí)， IGBT也會(huì)損壞，甚至損壞驅(qū)動(dòng)板。 IGBT是高頻開(kāi)關(guān)元件，工作頻率高，動(dòng)態(tài)相應(yīng)快，以保證變頻器的良好的輸出特性，當(dāng)故障發(fā)生時(shí)，因短路或誤觸發(fā)產(chǎn)生一個(gè)瞬時(shí)尖峰電流，變頻器監(jiān)測(cè)回路從監(jiān)測(cè)，判斷，到執(zhí)行雖然很快，但速度還是低于 IGBT的動(dòng)態(tài)響應(yīng)， IGBT一般在這個(gè)過(guò)程損壞擊穿， IGBT擊穿后，直流母線與輸出相之間的快速熔斷器會(huì)動(dòng)作，來(lái)避免故障范圍的擴(kuò)大，但熔斷器是熱熔元件，參數(shù)特性一致性不是很好，所以當(dāng)熔斷器的動(dòng)作時(shí)間稍有延遲，會(huì)造成短路電流急劇上升， IGBT炸裂，輸出極（ C極）與控制極（ G極）短路損傷驅(qū)動(dòng)板。在維修中，要仔細(xì)測(cè)量，認(rèn)真分析，準(zhǔn)確判斷出故障發(fā)生的原因，以免更換元件再次損壞。 IGBT故障 以 YASKAWA 變頻器的 Varispeed G7為例： 當(dāng)變頻器報(bào) PUF時(shí)，先斷開(kāi)變頻器輸入電源，從操作器屏幕查看一下U3和 U2參數(shù)（故障歷史及故障發(fā)生時(shí)電機(jī)的各項(xiàng)狀態(tài)）判斷出故障時(shí)電機(jī)的狀態(tài)，然后斷開(kāi)控制電源，待變頻器的充電指示燈熄滅，拆下變頻器輸出線，用萬(wàn)用表（最好是指針式） 10K檔分別測(cè)量變頻器輸出端（ U， V， W三相）對(duì)直流母線（＋， ）的阻值，正常時(shí) U， V， W三相對(duì)直流母線的阻值（正向，反向）應(yīng)平衡，若 U， V， W其中任意一相對(duì)母線的阻值趨于零則說(shuō)明此相橋臂的 IGBT已擊穿，應(yīng)進(jìn)一步檢查變頻器內(nèi)部，觀察 IGBT是否炸裂，測(cè)量 IGBT的 G極對(duì) C極的阻值應(yīng)不小于 10歐姆，可初步判斷出驅(qū)動(dòng)板大致完好，下一步檢查 RC阻容吸收模塊及浪涌吸收電阻（ 10歐姆），看有無(wú)擊穿現(xiàn)象，只有這些環(huán)節(jié)全部檢查完畢，確認(rèn)后再更換損壞件，不可盲目更換熔斷器，通電試車(chē)，以免造成更大損失。 IGBT故障 以 YASKAWA 變頻器的 Varispeed G7為例： IGBT測(cè)試方法： 用萬(wàn)用表（指針）的 100K檔測(cè) IGBT的 C端與 E端，紅表棒在 E端黑表棒在 C端。呈正常時(shí)阻值無(wú)窮大，這時(shí)用手同時(shí)觸摸 C極與 G極，表針應(yīng)停在中間位置左右，再用手同時(shí)觸摸 G極與 E極表針應(yīng)回到無(wú)窮大位置，表明IGBT能觸發(fā)導(dǎo)通和關(guān)斷。反之如阻值趨于零，觸發(fā)無(wú)效，關(guān)斷無(wú)效，都說(shuō)明 IGBT已損壞。 IGBT測(cè)試方法 G E C 萬(wàn)用表的表榜正反測(cè) G、 e兩極及 G、 c兩極的電阻，對(duì)于正常的 IGBT管（正常 G、 C兩極與 G、c兩極間的正反向電阻均為無(wú)窮大； 用萬(wàn)用表的電容檔測(cè)量 IGBT的 GE端（西門(mén)子的一般在 500～ 700nf之間）； 把 GE兩端短接，用兆歐表測(cè)量耐壓（根據(jù)變頻器的直流母線電壓來(lái)選擇量程）； 霍爾元件的測(cè)試方法 霍爾元件有電源，信號(hào)輸出端，最好測(cè)量其輸出電壓，變頻器在 STOP狀態(tài)下，電流應(yīng)該是 0A，這時(shí)霍爾輸出電壓也應(yīng)該是 0V，如果測(cè)的電壓有，一般這只就壞了，測(cè)量電阻和正常的霍爾對(duì)比也是一個(gè)方法，但實(shí)際看來(lái)壞的霍爾和好的電阻都差得不多，它的壞其實(shí)一般是上面的電位器阻值變化所致，導(dǎo)致取樣電壓點(diǎn)變化 ,CPU誤檢測(cè)出現(xiàn)保護(hù) ,千萬(wàn)不要試著修霍爾，因?yàn)榕缓?，?huì)把模塊炸了，在路檢查輸出電壓是最好的方法 謝謝！
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