sixsigma測度(編輯修改稿)
2025-03-07 08:16 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 率 SMD檢查 %數(shù)率 PBA檢查 %數(shù)率 ICT %數(shù)率 RTY = = = % Y % 7 . 96 967 . 0 874 . 0 RTY 4 1 4 Nor = = = = ? Yield (數(shù)率 ) Yield Proprietary to Samsung Electronics Company Six Sigma 測度 16 Rev. 例 1) 現(xiàn)場某一位機(jī)士對特定類型 Defect觀察結(jié)果 346個生產(chǎn)單位中發(fā)現(xiàn) 1個。對這特性 (Characteristic)的 RTY? 346 1 = = DPU 00289 . 0 = = = e e RTY DPU 計算 ) 例 2) 有 3個工程組成的生產(chǎn) Line， 各工程通過數(shù)率為 98% 時 Line的 RTY ? 計算 ) RTY = = ? RTY計算 例 Yield Proprietary to Samsung Electronics Company Six Sigma 測度 17 Rev. ? 水準(zhǔn) ? 水準(zhǔn) : 規(guī)格中心和規(guī)格上限或下限距離是標(biāo)準(zhǔn)偏差的幾倍？ ? ? 水準(zhǔn)的概念 ? 品質(zhì)特性值隨正態(tài)分布時，從規(guī)格中心到規(guī)格界限為止距離相當(dāng)于標(biāo)準(zhǔn)偏差幾倍的測度， Process散布越小， ?水準(zhǔn)越大。 m 1? 3? 平均 規(guī)格界限 ? 測定 Process可以生產(chǎn)多少均一品質(zhì)制品能力的測度。 Proprietary to Samsung Electronics Company Six Sigma 測度 18 Rev. 1? m 1? 發(fā)生不良限度 3? 平均 ?記號前數(shù)值 (Z) 越大，不良發(fā)生 的概率越小。 6? 規(guī)格界限 3? 水準(zhǔn)的 穩(wěn)定工程 6? 水準(zhǔn)的 穩(wěn)定工程 Proprietary to Samsung Electronics Company Six Sigma 測度 19 Rev. ? 由于作業(yè)者倒班、原材料 LOT變化、設(shè)備的保 養(yǎng)、模具交換等現(xiàn)實性的變化要素而規(guī)格中心和Process平均常時間維持一致狀態(tài)是很難。 ? 根據(jù)經(jīng)驗隨著時間過 去，一般 Process平均離中心約 ?左右變動 。 ? Process dynamics LSL USL 起點 1 起點 2 起點 3 起點 4 Process 固有能力 長期 Process 能力 目標(biāo)值 Proprietary to Samsung Electronics Company Six Sigma 測度 20 Rev. ? ? 水準(zhǔn)和 DPMO ? 考慮 Process現(xiàn)實變化，計算對應(yīng) ?水準(zhǔn)的缺陷率或不良率時， Process平均離規(guī)格中心標(biāo)準(zhǔn)偏差的 。 ? 在 6?水準(zhǔn) Process中， 100萬次機(jī)會中能發(fā)生 ，這相當(dāng)于. USL LSL 規(guī)格中心 ?.st ?.st Proprietary to Samsung Electronics Company Six Sigma 測度 21 Rev. 999, 999,995 999,991 999,987 999,979 999,968 999,952 999,928 999,892 999,841 999,767 999,663 999,517 999,313 999,032 998,650 998,134 997,445 996,533 995,339 993,790 991,802 989,276 良品數(shù) 5 9 13 21 32 48 72 108 159 233 337 483 687 968 1,350 1,866 2,555 3,467 4,661 6,2
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