minitab培訓(xùn)-spc統(tǒng)計(jì)過(guò)程分析(編輯修改稿)
2025-02-28 22:35 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 正常點(diǎn)子之動(dòng)態(tài)之管制圖，如圖。 1. 多數(shù)的點(diǎn)子，集中在中心線附近，且兩邊對(duì)稱。 2. 少數(shù)的點(diǎn)子，落在管制界限附近。 3. 點(diǎn)子之分布呈隨機(jī)狀態(tài)，無(wú)任何規(guī)則可尋。 4. 沒(méi)有點(diǎn)子超出管制界限外 (就是有也很少 )。 管制圖的判定方法 計(jì)量型管制 圖判讀 管制圖之不正常型態(tài)之鑒別是 根據(jù)或然率之理論而加以判定的 ，出現(xiàn)下述之一項(xiàng)者，即為不正常之型態(tài)，應(yīng)調(diào)查可能原因。 53 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 P管制圖 P圖是用來(lái)測(cè)量在一批檢驗(yàn)項(xiàng)目中不合格品（缺陷）項(xiàng)目的百分 數(shù)。 收集數(shù)據(jù) 選擇子組的容量、頻率和數(shù)量 子組容量：子組容量足夠大（最好能恒定），并包括幾個(gè)不 合格品。 分組頻率：根據(jù)實(shí)際情況，兼大容量和信息反饋快的要求。 子組數(shù)量：收集的時(shí)間足夠長(zhǎng)，使得可以找到所有可能影響 過(guò)程的變差源。一般為 25組。 計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率（ P） P=np /n n為每組檢驗(yàn)的產(chǎn)品的數(shù)量； np為每組發(fā)現(xiàn)的不良品的數(shù)量。 選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 一般不良品率為縱坐標(biāo)，子組別（小時(shí) /天）作為橫坐標(biāo) ,縱坐標(biāo)的刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀讀數(shù)中最大的不合格率值的 2倍。 將不合格品率描繪在控制圖上 a b 描點(diǎn)，連成線來(lái)發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢(shì)。 在控制圖的 “備注 ”部分記錄過(guò)程的變化和可能影響過(guò)程的異常情況。 計(jì)算控制限 計(jì)算過(guò)程平均不合格品率（ P） P=（ n1p1+n2p2+…+ nkpk） / (n1+n2+…+ nk) 式中 ： n1p1； nkpk 分別為每個(gè)子組內(nèi)的不合格的數(shù)目 n1； nk為每個(gè)子組的檢驗(yàn)總數(shù) 計(jì)算上下控制限（ UCL； LCL） UCLp = P + 3 P ( 1– P ) / n LCLp = P– 3 P ( 1– P ) / n P 為平均不良率； n 為恒定的樣本容量 注： 從上述公式看出，凡是各組容量不一樣，控制限隨之 變化。 在實(shí)際運(yùn)用中，當(dāng)各組容量不超過(guò)其平均容量 25%時(shí)， 可用平均樣本容量 n 代替 n 來(lái)計(jì)算控制限 UCL； LCL。方法如 下： A、確定可能超出其平均值 177。 25%的樣本容量范圍。 B、分別找出樣本容量超出該范圍的所有子組和沒(méi)有超出該范圍 的子組。 C、按上式分別計(jì)算樣本容量為 n 和 n 時(shí)的點(diǎn)的控制限 . 畫(huà)線并標(biāo)注 過(guò)程平均（ P）為水平實(shí)線，控制限（ USL； LSL）為虛線。 (初始研究時(shí)，這些被認(rèn)為是試驗(yàn)控制限。） 過(guò)程控制用控制圖解釋： 分析數(shù)據(jù)點(diǎn)，找出不穩(wěn)定的證據(jù)（一個(gè)受控的 P管制圖中，落在均值兩側(cè)的點(diǎn)的數(shù)量將幾乎相等） 。 超出控制限的點(diǎn) a b 超出極差上控制限的點(diǎn)通常說(shuō)明存在下列情況中的一種 或幾種： 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) 。 測(cè)量系統(tǒng)變化（如：不同的檢驗(yàn)員或量具）。 過(guò)程惡化。 低于控制限之下的點(diǎn)，說(shuō)明存在下列情況的一種或多種： 控制限或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò)。 測(cè)量系統(tǒng)已改變或過(guò)程性能已改進(jìn)。 鏈 a 出現(xiàn)高于均值的長(zhǎng)鏈或上升鏈（ 7點(diǎn)），通常表明存在下列 情況之一或兩者。 測(cè)量系統(tǒng)的改變（如新的檢驗(yàn)人或新的量具 ） 過(guò)程性能已惡化 b 低于均值的鏈或下降鏈說(shuō)明存在下列情況之一或全部： 過(guò)程性能已改進(jìn) 測(cè)量系統(tǒng)的改好 注：當(dāng) np 很小時(shí)（ 5以下），出現(xiàn)低于 P 的鏈的可能性增加， 因此有必要用長(zhǎng)度為 8點(diǎn)或更多的點(diǎn)的長(zhǎng)鏈作為不合格 品率降低的標(biāo)志。 明顯的非隨機(jī)圖形 a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢(shì)；周期性；子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有 規(guī)律的關(guān)系等。 b 一般情況，各點(diǎn)與均值的距離：大約 2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點(diǎn)落在其外的 2/3的區(qū)域。如果顯著多余 2/3以上的描點(diǎn)落在離均值很近之處（對(duì)于 25子組，如果超過(guò) 90%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)描錯(cuò) 過(guò)程或取樣方法被分層，每個(gè)子組包含了從兩個(gè)或多個(gè)不同平均性能的過(guò)程流的測(cè)量值（如：兩條平行的生產(chǎn)線的混合的輸出）。 數(shù)據(jù)已經(jīng)過(guò)編輯（明顯偏離均值的值已被調(diào)換或刪除）如果顯著少余 2/3以上的描點(diǎn)落在離均值很近之處（對(duì)于 25子組，如果只有 40%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域）則應(yīng)對(duì)下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)描錯(cuò) 過(guò)程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個(gè)或多個(gè)不同平均性能的過(guò)程流的測(cè)量 . 尋找并糾正特殊原因 當(dāng)有任何變差時(shí)，應(yīng)立即進(jìn)行分析，以便識(shí)別條件并防止再發(fā)生，由于控圖發(fā)現(xiàn)的變差一般是由特殊原因引起的，希望操作者和檢驗(yàn)員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。并在備注欄中詳細(xì)記錄。 重新計(jì)算控制限 初次研究，應(yīng)排除有變差的子組，重新計(jì)算控制限。 過(guò)程能力解釋 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖上的每一點(diǎn)直接表明不符合顧客要求的不 合格品的百分?jǐn)?shù)和比值，這就是對(duì)能力的定義 不合格品數(shù)的 np 圖 采用時(shí)機(jī) 不合格品的實(shí)際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報(bào)告。 各階段子組的樣本容量相同。 數(shù)據(jù)的收集（基本和 p 圖相同） 受檢驗(yàn)的樣本的容量必須相同，樣本容量足夠大使每個(gè)子組內(nèi)都有幾個(gè)不良品并在。 記錄表上記錄樣本的容量。
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