插卡式光分路器技術(shù)規(guī)范書(編輯修改稿)
2024-12-22 09:17 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 不均勻分光；本規(guī)范重點規(guī)定均勻分光。 根據(jù)制作工藝，光分路器可分為熔融拉錐式光分路器（ FBT Splitter）和平面光波導(dǎo)光分路器（ PLC Splitter）兩種類型，本規(guī)范從應(yīng)用角度出發(fā)，均 勻分光光分路器應(yīng)采用 PLC 工藝，不均勻分光光分路器可采用 PLC 或 FBT 工藝 。 四 功能及性能要求 1 工作波長要求 考慮 到 PON網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用需求，包括 EPON/GPON、 10G PON、 ODN在線測試的等要求，光分路器需在 1270nm、 1310nm、 1490nm、 1550nm、 1577nm、 1625nm、 1650nm等波長窗口 具 有良好的工作性能 ，光分路器應(yīng)支持 1260nm～ 1650nm工作波長。 2 光學(xué)性能要求 在工作溫度范圍內(nèi) 均勻分光 的 光分路 器設(shè)備（含 插頭 ）應(yīng)滿足 下 表的光 性能指標要求。 表 1 均勻分光的光分路器光性能要求 單位為 dB 規(guī)格 1x2 1x4 1x8 1x16 1x32 1x64 1x128 光纖類型 工作波長 1260nm~1650nm 最大插入損耗 (dB) ≤ ≤ ≤ ≤ ≤ ≤ ≤ 端口插損均勻性 (dB) ≤ ≤ ≤ ≤ ≤ ≤ ≤ 波長間插損均勻性(dB) ≤ ≤ ≤ ≤ ≤ ≤ ≤ 回波損耗(dB) （輸出端截止） ≥50 ≥50 ≥50 ≥50 ≥50 ≥50 ≥50 回波損耗(dB) （輸出端開路） ≥18 ≥20 ≥22 ≥24 ≥28 ≥28 ≥30 方向性 (dB) ≥55 ≥55 ≥55 ≥55 ≥55 ≥55 ≥55 注 1：不帶插頭光分路器的插入損耗在上面要求的基礎(chǔ)上減少 不小于 ，其它指標要求相同； 注 2： 2xN 均勻分光的光分路器的插入損耗在上面要求的基礎(chǔ)上增加 不大于 ， 端口插損均勻性是指同一個輸入端口所對應(yīng)的輸出端口間的一致性， 其它指標要求相同； 注 3：插入損耗在 1260~1300,1600~1650nm 波長區(qū)間最大插入損耗在上面要求基礎(chǔ)上增加 ； 注 4： 128 分光比性能指標暫定； 注 5：工作波長、插入損耗、回波損耗、方向性測試方法按照 YD/T 11172020 中第六章進行； 注 6：波長 間插損均勻性測試方法如下：在 1260～ 1650nm波長范圍內(nèi)，以單位波長輸出功率 22dBm/nm，全光譜總輸出功率 6dBm 的光功率注入光分路器 30 分鐘，監(jiān)測在此注入條件下波長間插入損耗均勻性； 3 環(huán)境性能要求 光分路器設(shè)備應(yīng)能通過表 2中規(guī)定的環(huán)境性能試驗要求，同時應(yīng)滿足表 1光 性能指標要求 。 表 2 光分路器的環(huán)境性能試驗要求 單位為 dB 序號 試驗名稱 試驗方法 判定標準 插入損耗 變化量 試驗后外形變化 a 高溫 85℃（177。 2℃），持續(xù)時間 96h，在線測試 ≤ 外觀無機械損傷，如變形、裂痕、松弛等，不得出現(xiàn)光纖斷裂、光纜拉出、光纖端點處的故障以及光纜密封損壞等。 b 低溫 40℃（177。 2℃），持續(xù)時間 96h，在線測試 ≤ c 濕熱 75℃（177。 2℃）， 95%(177。 5%)RH，持續(xù)時間 96h，在線測試 ≤ d 溫度循環(huán) (－ 40℃ ~＋ 85℃ )，一次循環(huán) 8h， 21次循環(huán)，在線測試 ≤ e 水浸泡 常溫，自來水 , 持續(xù)時間 168h ≤ f 鹽霧 鹽溶液： 5% NaCl, PH。溫度： 35176。 C 持續(xù)時間： 96小時 ≤ 注 1：溫度循環(huán)測試按下圖所示的溫度變換曲線， 一次循環(huán) 8h， 21次循環(huán)。 4 機械性能要求 光分路器設(shè)備應(yīng)能通過表 3中規(guī)定的機械性能試驗，同時應(yīng)滿足表 1光 性能指標要求 。 表 3 光分路器的機械性能要求 單位為 dB 序號 試驗名稱 試驗方法 判定標準 插入損耗 變化量 試驗后外形變化 a 跌落試驗 高度： 次數(shù)： 3個軸向，每個軸向 8次 循環(huán)： 5次 ≤ 外觀無機械損傷，如變形、裂痕、松弛等，不得出現(xiàn)光纖斷裂、光纜拉出、光纖端點處的故障以及光纜密封損壞等。 b 振動試驗 頻率： 10～ 55HZ 掃頻：每分鐘 45次 振幅： 時間： X、 Y、 Z方向各持續(xù) 30min ≤ c 光纜扭轉(zhuǎn)試驗 負荷： ? ： 15N ? ： 4N ? ： 2N ≤ 7 8 6 5 4 3 2 1 +23 Ta Tb 小時 9 序號 試驗名稱 試驗方法 判定標準 插入損耗 變化量 試驗后外形變化 方法：載重點距插頭 22～ 28cm,177。1800扭轉(zhuǎn)， 10次 /min， 25次 d 光纜抗拉試驗 負荷： ? ： 50N ? ： 4N ? ： 2N 方法： 插頭側(cè)： 載重點距插頭 22～ 28cm,2min； 封裝側(cè)： 載重點距 封裝 22～ 28cm,2min； ≤ 注 1：光纜抗拉試驗包括光纜插頭側(cè)測試以及封裝側(cè)測試。 5 環(huán)境壽命要求 光分路器產(chǎn)品應(yīng)能滿足表 4中
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