電氣設(shè)備絕緣試驗(yàn)(編輯修改稿)
2025-01-16 04:45 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 。 試驗(yàn)電壓極性對引線電暈電流的影響 極性效應(yīng)：在不均勻電場中，外加電壓極性不同，其放電過程及放電電壓不同的現(xiàn)象，稱為極性效應(yīng)。 測量時的操作規(guī)定 正確接線； 升壓過程中應(yīng)密切觀測微安表讀數(shù)，緩慢升壓以避開吸收電流； 測量過程中若有擊穿、閃絡(luò)等異常現(xiàn)象發(fā)生，應(yīng)迅速降壓，并斷開電源； 實(shí)驗(yàn)完畢，降壓、斷開電源，并對被試設(shè)備充分放電； 按照規(guī)定做好試驗(yàn)記錄。 1）指針來回擺動 產(chǎn)生原因：電源波動、直流脈動系數(shù)大、試驗(yàn)回路和被試設(shè)備有充放電現(xiàn)象。 若擺動不大，又不影響讀數(shù)，可取其平均值；若擺動很大，影響讀數(shù)，則可增大主回路和保護(hù)回路中的濾波電容的電容量。 2）指針周期性擺動 產(chǎn)生原因：回路存在反充電、被試設(shè)備絕緣不良產(chǎn)生周期性放電。 測量中可能出現(xiàn)的問題 從微安表中反映出來的情況 3） 指針突然沖擊 若向小沖擊，可能是電源回路引起的；若向大沖擊，可能是試驗(yàn)回路或被試設(shè)備出現(xiàn)閃絡(luò)或產(chǎn)生間歇性放電引起的。 4） 指針指示數(shù)值隨測量時間而發(fā)生變化 若逐漸下降，則可能是由于充電電流減小或被試設(shè)備表面絕緣電阻上升所致；若逐漸上升，往往是被試設(shè)備絕緣老化引起的。 5） 指針反指 可能是由于被試設(shè)備經(jīng)測壓電阻放電所致。 6） 接好線后，未加壓時，微安表有指示 這可能是外界干擾太強(qiáng)或地電位抬高引起的。 從泄漏電流數(shù)值上反映出來的情況 1）泄漏電流過大 設(shè)備絕緣不佳或屏蔽不好。首先應(yīng)檢查實(shí)驗(yàn)設(shè)備和屏蔽；若確認(rèn)無誤，則說明被試設(shè)備絕緣不良。 2）泄漏電流過小 檢查線路和微安表（是否線路接錯、微安表保護(hù)部分分流或有斷脫現(xiàn)象）。 3）當(dāng)采用微安表在低壓側(cè)讀數(shù)，且用差值法消除誤差時，可能會出現(xiàn)負(fù)值。 這可能是由于高壓線過長、空載時電暈電流大所致。因此高壓引線應(yīng)當(dāng)盡量粗、短、無毛刺 設(shè)備較輕便； 絕緣無介質(zhì)極化損失 ； 可制作伏安特性曲線； 可以兼做泄漏電流測量； 試驗(yàn)電壓高，易于發(fā)現(xiàn)局部缺陷。 二、直流耐壓試驗(yàn) 直流耐壓試驗(yàn)的特點(diǎn) 直流耐壓試驗(yàn)?zāi)軌虬l(fā)現(xiàn)某些交流耐壓試驗(yàn)所不能發(fā)現(xiàn)的缺陷；但直流與交流性質(zhì)不同，兩者不能相互代替。 試驗(yàn)電壓的確定 直流耐壓試驗(yàn)的外施電壓數(shù)值通常應(yīng)參考交流耐壓試驗(yàn)電壓和交、直流下?lián)舸╇妷褐龋饕歉鶕?jù)運(yùn)行經(jīng)驗(yàn)確定。（ 3UN、 、 2UN、 UN） 實(shí)驗(yàn)電壓極性 規(guī)程規(guī)定施加電壓極性為負(fù)極性。 直流耐壓試驗(yàn)比交流耐壓試驗(yàn)的時間長 直流耐壓試驗(yàn)應(yīng)注意的問題 介質(zhì)損耗 的本質(zhì)？ 介質(zhì)損耗 在交流、直流電壓下的區(qū)別？介質(zhì)損耗的表示方法？ 為什么要關(guān)注絕緣損耗？ 第三節(jié) 介質(zhì)損耗角正切值測量 介質(zhì)損耗：介質(zhì)損耗由 IR 產(chǎn)生，夾角 ?大時， IR就越大，故稱 ?為介質(zhì)損耗角，其正切值為 ： 關(guān)于極化損耗 優(yōu)點(diǎn)：靈敏度高，容易發(fā)現(xiàn)絕緣整體受潮、劣化、變質(zhì)，及小體積設(shè)備的局部缺陷。 缺點(diǎn)： tan?不能發(fā)現(xiàn) 大體積設(shè)備的局部缺陷。 規(guī)程中對電機(jī)、電纜等電氣設(shè)備，因?yàn)槿毕莸募行约绑w積較大，通常不做此項(xiàng)試驗(yàn)；而對套管、電力變壓器、互感器、電容器等則做此項(xiàng)試驗(yàn)。 關(guān)于 tan?測量 潮氣擴(kuò)散對 絕緣性能的影響 電容式套管：出廠絕緣電阻試驗(yàn)合格，現(xiàn)場交接試驗(yàn)絕緣電阻超標(biāo)。 出廠 tan?試驗(yàn)合格，現(xiàn)場交接試驗(yàn) tan?超標(biāo)。 絕緣 介質(zhì) tg?過大 ， 會引起嚴(yán)重發(fā)熱，材料容易劣化，甚至可能導(dǎo)致熱擊穿。 在絕緣預(yù)防性試驗(yàn)中， tg?是一基本測試項(xiàng)目，當(dāng)絕緣受潮或劣化時， tg?急劇上升。 測量 介質(zhì) 損耗 的意義 tan?測量原理：西林電橋 正接線：要求被試設(shè)備能與地分離。 反接線：被試設(shè)備一端接地，要求電橋本體有足夠的絕緣。 為保證安全應(yīng)采取的措施： 電橋和操作者整體絕緣或使用“法拉第籠 ”； 通過絕緣連桿調(diào)節(jié)。 對角線接線：被試設(shè)備一端接地，而且電橋沒有足夠的絕緣。 測量原理： 容性電流 與全電流 的關(guān)系。 tan?測量原理：角差法（非平衡法） 外界電場干擾 高壓標(biāo)準(zhǔn)電容器質(zhì)量劣化 試品電容量的變化（關(guān)注 tan?參數(shù)的同時，也應(yīng)注意試品電容量的變化 ） 表面泄漏電流 空氣濕度 接地 tan?測試中需要注意的事項(xiàng)： 電橋引線的影響。 （ 1）引線長度（ 對小容量試品影響較大，應(yīng)引起重視 ） （ 2）高壓引線與試品夾角（ 對小容量試品影響較大，應(yīng)引起重視 ） （ 3）引線電暈（電暈損耗通過雜散電容將被計(jì)入被試品的 tan ? 內(nèi) ） （ 4）引線接觸不良（相當(dāng)于被試支路中串聯(lián)一個附加電阻） （ 5）高壓引線應(yīng)懸空 “平衡法 ”測量可以采用的措施： （ 1）加設(shè)屏蔽 （ 2）采用移相電源 （ 3）倒相法 “角差法 ”測量時可以采用的措施： （ 1）采用異頻電源 （ 2）補(bǔ)償法 tgδ測量中的抗干擾措施 溫度： tgδ值受溫度影響而變化，為了比較試驗(yàn)結(jié)果，對同一設(shè)備在不同溫度下的變化必須將結(jié)果歸算到一個鞏固的基準(zhǔn)溫度，一般歸算到 20。 濕度 。在不同的濕度下測得的 tgδ值也是有差別的，應(yīng)在空氣相對濕度小于 80%下進(jìn)行試驗(yàn)。 清潔度和表面泄漏電流 ?？梢杂们鍧嵑透稍锉砻鎭?
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