常用元器件好壞及判定方法及其特性(含元器件及圖片)(編輯修改稿)
2024-09-18 20:44 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 CMOS電池：用萬用表測量其電壓。低壓差三端穩(wěn)壓器1117：帶電測試1117的中間腳的電壓值大小，如果為0或小于3V，則該穩(wěn)壓器損壞。（）：用萬用表直流20v檔，紅黑表筆分別接晶振的兩個引腳，測試其兩個引腳的電壓差。另外可以用開關(guān)機方法測量，如果用手捏住萬用表表筆去接觸晶振的一個腳時，主板能開機，再接觸另一個腳時能關(guān)機，則說明晶振損壞。電源管理芯片：首先測量芯片的供電腳（5v或12v）有無電壓，如有，接著測量電源管理芯片的輸出腳和PG信號腳有無電壓信號，如果無電壓信號，則是電源管理芯片損壞。（加電保護80%是場效應(yīng)管壞，很少是IC壞）LM358芯片：該芯片損壞后，其輸出端無電壓信號輸出，將無法控制場效應(yīng)管工作，無法為內(nèi)存提供供電。判斷方法：首先測量芯片的供電腳有無12v電壓，如果，接著測量電源管理芯片的輸出腳有無電壓信號，如果無電壓信號，如果，則是LM358芯片損壞，如不是則可能是分壓電阻（RR2）損壞。：用示波器測晶振兩腳的波形和兩腳之間的阻值。如晶振的兩腳有波形且兩腳之間的阻值在450700歐之間，則晶振正常。系統(tǒng)時鐘發(fā)生器芯片：該芯片損壞將導致主板無法啟動。檢測方法：測量晶振兩腳的電壓（正常情況下晶振兩腳各有1v左右的電壓），如果有電壓說明系統(tǒng)時鐘芯片內(nèi)部的分頻器正常，否則分頻器損壞。接著測量PCI插槽的B16針腳和ISA插槽的B30針腳的時鐘信號，如果沒有則是系統(tǒng)時鐘發(fā)生器芯片損壞。門電路芯片：該芯片損壞將導致主板的復位電路無復位信號，首先檢測門電路芯片的供電腳有無供電，如沒有檢測電源插座到門電路芯片的Vcc引腳間的線路中的故障元器件；如有接著檢測門電路芯片鏈接南橋的針腳有無高電平信號，如沒有則是南橋壞，如有則是門電路芯片壞。 晶振的作用是為系統(tǒng)提供基本的時鐘信號。通常一個系統(tǒng)共用一個晶振，便于各部分保持同步。有些通訊系統(tǒng)的基頻和射頻使用不同的晶振，而通過電子調(diào)整頻率的方法保持同步。 晶振通常與鎖相環(huán)電路配合使用，以提供系統(tǒng)所需的時鐘頻率。如果不同子系統(tǒng)需要不同頻率的時鐘信號，可以用與同一個晶振相連的不同鎖相環(huán)來提供。場效應(yīng)管屬于電壓控制元件，這一特點類似于電子管，但它的構(gòu)造與工作原理和電子管是截然不同的，與雙極型晶體管相比，場效應(yīng)管具有如下特點。（1）場效應(yīng)管是電壓控制器件，它通過VGS來控制ID； （2）場效應(yīng)管的輸入端電流極小，因此它的輸入電阻很大。 ?。?）它是利用多數(shù)載流子導電，因此它的溫度穩(wěn)定性較好； ?。?）它組成的放大電路的電壓放大系數(shù)要小于三極管組成放大電路的電壓放大系數(shù)； （5）場效應(yīng)管的抗輻射能力強； ?。?
環(huán)評公示相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1