層間短路機(jī)--設(shè)計(jì)原理說(shuō)明(編輯修改稿)
2025-09-05 15:17 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 及游離前電壓就消失了，還是無(wú)法偵測(cè)出層間短路問(wèn)題。因此我們必須選用，觸發(fā)時(shí)間短，電壓可以持續(xù)維持在待測(cè)體兩端的諧振電路，才可以達(dá)到這樣的要求。 7700 / 7703 / 7710 / 7720 Impulse / Surge Tester L為待測(cè)線圈， C C2為儀器內(nèi)諧振電容， R R R3為儀器及待測(cè)物之電阻。測(cè)試時(shí)首先將C1電容充電至要測(cè)試電壓，再以脈衝觸發(fā) SCR，則待測(cè)體將與 C C2產(chǎn)生諧振現(xiàn)象，待測(cè)體的兩端將出現(xiàn)如底下之諧振波形，我們?cè)俑鶕?jù)諧振波波形差異來(lái)判斷是否有層間短路現(xiàn)象。 L DUT 基本線路說(shuō)明： 7700 / 7703 / 7710 / 7720 Impulse / Surge Tester 比對(duì)項(xiàng)目： 儀器將樣品取得之諧振波設(shè)為標(biāo)準(zhǔn)波並儲(chǔ)存於記憶體內(nèi)，測(cè)試時(shí)再取得待測(cè)物之諧振波，然後跟標(biāo)準(zhǔn)波比較，判斷待測(cè)物之好與壞。 A: 總面積 Area B: 面積差 Area Differential C: 波形比對(duì) Waveform Comparison D: 顫動(dòng)數(shù) Flat E: 電暈數(shù) Corona 7700 / 7703 / 7710 / 7720 Impulse / Surge Tester 比對(duì)項(xiàng)目： A: 總面積 (Area) 將諧振波所涵蓋之所有面積加總稱之為「總面積」。當(dāng)待測(cè)物發(fā)生層間短路時(shí)，由於線圈能量損耗增加，諧振阻尼係數(shù)變大，諧振振幅會(huì)變小，總面積跟著變小，是檢查層間短路最基本的參數(shù)。 7700 / 7703 / 7710 / 7720 Impulse / Surge Tester 比對(duì)項(xiàng)目： B: 面積差 Area Differential 將標(biāo)準(zhǔn)波與待測(cè)波之相異處加總則稱為「面積差」。當(dāng)待測(cè)物發(fā)生層間短路時(shí)，電感變?。愃谱儔浩鞔螛O圈短路時(shí)，初極圈電感會(huì)變?。C振波形相位改變，面積差隨之改變，而出現(xiàn) FAIL。但這參數(shù)會(huì)因個(gè)別待測(cè)物電感誤差大時(shí)，諧振相位偏移，而造成誤判 (矽鋼片製品如馬達(dá)及傳統(tǒng)變壓器產(chǎn)品不宜 )。 7700 / 7703 / 7710 / 7720 Impulse / Surge Tester 比對(duì)項(xiàng)目： C: 波形比對(duì) Waveform Comparison 將標(biāo)準(zhǔn)波設(shè)定一可容許之波形範(fàn)圍，如果待測(cè)波在範(fàn)圍內(nèi)為PASS， 否則為 FAIL。此參數(shù)可同時(shí)判斷諧振波的振幅及相位，可加大層間短路的檢出能力，但亦不適用於待測(cè)物電感誤差範(fàn)圍過(guò)大之元件測(cè)試。 7700 / 7703 / 7710 / 7720 Impulse / Surge Tester 比對(duì)項(xiàng)目： D: 顫動(dòng)數(shù) Flat 將波形顫動(dòng)程度用軟體計(jì)算量化成一個(gè)數(shù)值，其大小隨顫動(dòng)激烈而增加，因此當(dāng)待測(cè)物體發(fā)生層間放電現(xiàn)象時(shí)，波形將產(chǎn)生顫動(dòng)，數(shù)值亦變大，判定為 FAIL。此參數(shù)可以找出線圈輕微放電所造成之波形抖動(dòng)的現(xiàn)象。 7700 / 7703 / 7710 / 7720 Impulse / Surge Tester 比對(duì)項(xiàng)目：
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