spc計算公式一覽表(編輯修改稿)
2025-07-27 17:15 本頁面
【文章內容簡介】 )=k：偏移系數(shù)規(guī)格上、下限的平均數(shù)據(jù)值，所有樣本值的總平均值Pp過程性能指數(shù)（長期）Pr過程性能比值Ppu上限過程性能指數(shù)Ppl下限過程性能指數(shù) Ppk修正的過程性能指數(shù)Ppk=Min（Ppl，Ppu）=Pp(1k)，若只有單側能力指數(shù)，另一側當作無窮大Cpm目標能力指數(shù)考慮到目標值不在規(guī)格中心的情況下，能反映過程的真正能力的能力指數(shù)，它的計算公式有兩種，不同的企業(yè)有不同的選擇：（1） （2） 例:產品規(guī)格為(40177。),。Cpm=1/=Ppm目標過程性能指數(shù)Zu(Cap) 規(guī)格上限Sigma水平 另Zl(Cap) 規(guī)格下限Sigma水平 另Zu(Perf)Zl(Perf)Fpu(Cap) 超出控制上限機率 Fpl(Cap) 超出控制下限機率 Fp (Cap) 超出控制界線的機率 Fpu(Perf) Fpl(Perf) Fp (Perf) Skewness偏度，對稱度 如果0右偏，=0正對稱，0左偏（尾巴偏左）Kurtosis峰度 一定0，值越大則越好，越密集二、計數(shù)型輸入?yún)?shù)：sg_value：子組均值，即缺陷數(shù)或不良數(shù)，以下用c或pn表示ChartType：控制圖編號，4 Pn Chart；5 P Chart；6 C Chart；7 U ChartBatchSize：批量，以下用n表示計算出：k：子組總數(shù)Mean均值 C圖 其中k是總子組數(shù)，C是當前子組的取值，即缺陷數(shù) U圖 其中k是總子組數(shù)，n是當前子組的檢驗數(shù)，即所謂的非固定批量，C是當前子組的取值，即缺陷數(shù) Pn圖 其中k是總子組數(shù)，Pn是當前子組的取值，即不良數(shù) P圖 其中k是總子組數(shù)，n是當前子組的檢驗數(shù)，即所謂的非固定批量，Pn是當前子組的取值，即不良數(shù) Max C圖 最大缺陷數(shù)（計點型） U圖 最大單位缺陷數(shù)（計點型，只適用固定批量） Pn圖 最大不良數(shù)（計件型） P圖 最大不良率（計件型，只適用固定批量） Min C圖 U圖 Pn圖 P圖 Range極差 StdDev標準差 C圖
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