spc統(tǒng)計(jì)制程管制概述與持續(xù)改善(編輯修改稿)
2024-07-26 07:45 本頁面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 (如設(shè)備精度﹑進(jìn)料品質(zhì)一致性﹑量測(cè)系統(tǒng)精度﹑制程之基本設(shè)計(jì)﹑工作環(huán)境﹑工作方法等)加以改善，并由管理階層參與進(jìn)行系統(tǒng)面分析改善，期使制程能力提升?！⒁猓喝鬋pk或Ppk≥，亦不代表制程完美無缺。`Xs Chart平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖() s＝ 229。(Xi`X2)/(n1) ＝ 229。Xi178。n`X2)/(n1) ＝ (X1178。＋X2178。＋…＋Xn178。－n`X178。)/(n1)UCLX＝`X＋A3`s UCLs＝B4`s CLX＝`X CLS＝`sLCLX＝`X＋A3`s LCLS＝B3`s? A3．B4．B3為常數(shù)，(1) σ`s/C4＝`s/C4(2)? C4為常數(shù)，()()※注意:本法可能需用計(jì)算機(jī)運(yùn)算較為恰當(dāng)。 XR Chart中位數(shù)與全距管制圖()※補(bǔ)充:(1)樣本大小以不超過10個(gè)數(shù)據(jù)，且為奇數(shù)個(gè)較佳。 (2)在繪點(diǎn)時(shí)，可將所有數(shù)據(jù)(同組)均點(diǎn)繪于圖上，再將中位數(shù)圈出，并將各種中位值連接起來即可。UCLX＝`X＋A2`R UCLR＝D4`R CLX＝`X CLR＝`RLCLX＝`XA2`R LCLR＝D3`R? A2．D4．D3為常數(shù)，()()() XRm Chart個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖(1)數(shù)據(jù)通常為單獨(dú)一個(gè)數(shù)據(jù)(2)其全距可為量測(cè)數(shù)據(jù)減去前量測(cè)數(shù)據(jù)(或前幾次量測(cè)數(shù)據(jù))而得，此時(shí)n(樣本數(shù))則應(yīng)視全距值是由幾次量測(cè)數(shù)據(jù)比較而得(例如(a)│X2X1│＝R，則n＝2，(b)│MAXMIN()│＝R，則n＝3，(c)以此類推)。(3)抽樣頻度應(yīng)要能發(fā)現(xiàn)制程潛在變異(如生產(chǎn)者變更﹑環(huán)境變更﹑訓(xùn)練期間﹑不同原料批等)為原則訂定。UCLX＝`X＋E2`R UCLRm＝D4`R CLX＝`X CLRm＝`RLCLX＝`X－E2`R LCLRm＝D3`R? E2．D4．D3為常數(shù)，()()()(1)制程能力——衡量制程之共同原因變異是否存在6σ以內(nèi)，其中σ＝`R/d2，記為σ`R/d2。(2)制程運(yùn)轉(zhuǎn)——衡量制程之總變異是否在6σ以內(nèi)，其中σ ＝ 229。(X1`X)178。/(n1) ，記為σs(1)Cp－制程穩(wěn)定能力指數(shù)＝(USL－LSL)/6σ`R/d2(2)Pp－制程穩(wěn)定運(yùn)轉(zhuǎn)指數(shù)＝(USL－LSL)/6σs(3)CPU－規(guī)格上限區(qū)制程能力指數(shù)＝(USL－`X)/3σ`R/d2(4)CPL－規(guī)格上限區(qū)制程能力指數(shù)＝(`X－LSL)/3σ`R/d2(5)Cpk－制程能力指數(shù)＝Min.(CPUamp。CPL)(6)Ppk－制程運(yùn)轉(zhuǎn)指數(shù)＝Min.(USL－`X)/3σs或(`X－LSL)/3σs 1(1)CR制程穩(wěn)定能力比率＝6 R/d2/(USL－LSL)＝ Cp 1(2)PR制程穩(wěn)定運(yùn)轉(zhuǎn)比率＝6σｓ/(USL－LSL)＝ Pp S與s的差異雖s與S之計(jì)算公式相同(即 229。(X1`X)178。/(n1)，但其樣本數(shù)n不同。s之n為組內(nèi)樣本數(shù)。而S之n為所有樣本數(shù)總合(例如一張管制圖分為25組，且每組抽取5個(gè)樣本，則s之ｎ＝5。S之n＝25*5＝125)。故σs是某一組之估計(jì)標(biāo)準(zhǔn)差；σS是一個(gè)整體制程之估計(jì)標(biāo)準(zhǔn)差；因此Cpk僅能輔助判斷制程能力是否滿足客戶要求而已，并不能做為整體制程運(yùn)轉(zhuǎn)的判斷依據(jù)，在現(xiàn)今計(jì)算機(jī)運(yùn)用已普及化的時(shí)代，應(yīng)采用Ppk，甚至Cpm來表示制程()。第3章 計(jì)數(shù)值管制圖 p Chart不良率管制圖通常需要較大的樣本數(shù)以發(fā)現(xiàn)任何漸進(jìn)的制程變化，而每組樣本數(shù)若能維持在177。25%以內(nèi)，對(duì)計(jì)算將有很大的助益。UCLp＝`P＋3 `P(1`P) / `n CLP＝`PLCLP＝`P3 `P(1`P) / `n雖然一般計(jì)數(shù)值不須計(jì)算制程能力指數(shù)或制程運(yùn)轉(zhuǎn)指數(shù)。()() np Chart不良數(shù)管制圖除每組樣本數(shù)必須相同外，UCLnp＝n`P＋3 n`p(1－n`p)/n CLnp＝n`pLCLnp＝n`P3 n`p(1－n`p)/n()()() c Chart缺點(diǎn)數(shù)管制圖()UCLc＝`C＋3 `C CLC＝`CLCLC＝`C－3 `C()()() u Chart單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖()UCLu＝`u＋3 `u / `n CLu＝`uLCLu＝`u－3 `u / `n()()()第4章 附 錄 `X－R及`X－s管制圖`X and R Charts*`X and s Charts*Chart for Averages(`X)Chart for Ranges (R)Chart for Averages(`X)Chart for standard Deviations (s)SubgroupsizeFactors for control LimitsDivisors for Estimate of standard DeviationFactors for control LimitsFactors for control LimitsDivisors for Estimate of standardDeviationFactors forcontrolLimitsnA2d2D3D4A3C4B3B423
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