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手機(jī)測(cè)試經(jīng)典知識(shí)大全(編輯修改稿)

2025-07-25 13:47 本頁(yè)面
 

【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 0。 177。400KHz<60dB Spectrumdue toSwitchingCH1PCL5177。400KHz<19dB 177。600KHz<21dB 177。1200KHz<21dB 177。1800KHz<24dB CH62PCL5177。400KHz<19dB 177。600KHz<21dB 177。1200KHz<21dB 177。1800KHz<24dB CH124PCL5177。400KHz<19dB 177。600KHz<21dB 177。1200KHz<21dB 177。1800KHz<24dB 測(cè)試:        審核: 附件6 :      DCS1800中試射頻指標(biāo)測(cè)試數(shù)據(jù)1/3       日期: 項(xiàng)目號(hào)版本編號(hào) 測(cè)試項(xiàng)目信道功率等級(jí)下限值上限值測(cè)量值結(jié)果嚴(yán)重程度 Average PowerCH513PCL028 dBm32 dBm PCL321 dBm27 dBm PCL114 dBm12dBm PCL152 dBm8 dBm CH699PCL028 dBm32 dBm PCL321 dBm27 dBm PCL114 dBm12dBm PCL152 dBm8 dBm CH885PCL028 dBm32 dBm PCL321 dBm27 dBm PCL114 dBm12dBm PCL152 dBm8 dBm Peak burst powerCH513PCL028 dBm32 dBm PCL321 dBm27 dBm PCL114 dBm12dBm PCL152 dBm8 dBm CH699PCL028 dBm32 dBm PCL321 dBm27 dBm PCL114 dBm12dBm PCL152 dBm8 dBm CH885PCL028 dBm32 dBm PCL321 dBm27 dBm PCL114 dBm12dBm PCL152 dBm8 dBm 測(cè)試:        審核: 附件7:       DCS1800中試射頻指標(biāo)測(cè)試數(shù)據(jù)2/3 日期: 項(xiàng)目號(hào)版本編號(hào) 測(cè)試項(xiàng)目信道功率等級(jí)下限值上限值測(cè)量值結(jié)果嚴(yán)重程度 Power Time TemplateCH513PCL0 CH699 CH884 Phase Error PeakCH513PCL020186。20186。 CH69920186。20186。 CH88420186。20186。 Phase Error RMSCH513PCL05186。 CH6995186。 CH8845186。 Frequency ErrorCH513PCL0180Hz180Hz CH699180Hz180Hz CH884180Hz180Hz BER Class ⅡCH513PCL0(100 dBm)2% CH6992% CH8842% 項(xiàng)目號(hào)版本編號(hào) 測(cè)試項(xiàng)目信道功率等級(jí)電平下限值上限值測(cè)量值結(jié)果嚴(yán)重程度 RXLeverCH699PCL0102dBm4 dBm12 dBm 80dBm26 dBm34 dBm 60 dBm46 dBm54 dBm 測(cè)試:        審核: 附件8:      DCS1800中試射頻指標(biāo)測(cè)試數(shù)據(jù)3/3       日期: 項(xiàng)目號(hào)版本編號(hào) 測(cè)試項(xiàng)目信道功率等級(jí)電平下限值上限值測(cè)量值結(jié)果嚴(yán)重程度 RXQualityCH699PCL0102dBm4 80dBm1 60 dBm1 項(xiàng)目號(hào)版本編號(hào) 測(cè)試項(xiàng)目信道功率等級(jí)頻偏下限值上限值測(cè)量值結(jié)果嚴(yán)重程度 Spectrumdue toModulationCH513PCL0177。100KHz<+ 177。200KHz<30dB 177。250KHz<33dB 177。400KHz<60dB CH699PCL0177。100KHz<+ 177。200KHz<30dB 177。250KHz<33dB 177。400KHz<60dB CH884PCL0177。100KHz<+ 177。200KHz<30dB 177。250KHz<33dB 177。400KHz<60dB Spectrumdue toSwitchingCH513PCL0177。400KHz<22dB 177。600KHz<24dB 177。1200KHz<24dB 177。1800KHz<27dB CH699PCL0177。400KHz<22dB 177。600KHz<24dB 177。1200KHz<24dB 177。1800KHz<27dB CH884PCL0177。400KHz<22dB 177。600KHz<24dB 177。1200KHz<24dB 177。1800KHz<27dB 測(cè)試:        審核:我是做手機(jī)測(cè)試的,有資料與大家分享,好的話,要加分羅: SPECIFICATION JMG2003PT0002SPA JCT手機(jī)中試檢測(cè)程序書(shū) Company Confidential SUMMARY 本文件描述了手機(jī)試產(chǎn)時(shí),中試過(guò)程中整機(jī)所要進(jìn)行的檢測(cè)項(xiàng)目和檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。 NameSignatureDate OriginatorQuanfu Wang12/05/2003 Reviewer Approver StatusIssue A CHANGE HISTORY Document VersionDateNameChange Description A12/05/2003Quanfu WangInitial draft for ment CONTENTS 1 簡(jiǎn)介4 目的4 適用范圍4 責(zé)任4 參考文獻(xiàn)4 定義4 2程序內(nèi)容5 測(cè)試項(xiàng)目5 電性能測(cè)試5 ESD測(cè)試5 軟件功能測(cè)試5 環(huán)境測(cè)試5 壽命測(cè)試5 機(jī)械強(qiáng)度測(cè)試5 其它測(cè)試5 3測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)6 電性能測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)6 功能/軟件測(cè)試6 ESD靜電測(cè)試6 環(huán)境測(cè)試6 壽命測(cè)試8 機(jī)械強(qiáng)度測(cè)試9 其它測(cè)試10 4附件12 1 簡(jiǎn)介 目的 制定JCT整機(jī)中試過(guò)程中的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。 適用范圍 本程序書(shū)適用于JCT中試過(guò)程中的整機(jī)。 責(zé)任 中試工程師、品質(zhì)工程師、OEM廠家。 參考文獻(xiàn) JMG2003PT0003SPA 《JCT GSM手機(jī)中試測(cè)試程序書(shū)》 JMG2003PT0006SPA 《JCT GPRS手機(jī)中試測(cè)試程序書(shū)》 JMG2003PT0007SPA 《JCT CDMA手機(jī)中試測(cè)試程序書(shū)》 JMG2003PT0005SPA 《JCT手機(jī)軟件功能測(cè)試規(guī)程》  定義 ESD:electrostatic discharge 2程序內(nèi)容 測(cè)試項(xiàng)目 電性能測(cè)試 根據(jù)待測(cè)手機(jī)的機(jī)型,選擇選擇相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn),測(cè)試手機(jī)的各項(xiàng)電性能指標(biāo); ESD測(cè)試 測(cè)試手機(jī)在靜電環(huán)境中的性能; 軟件功能測(cè)試 測(cè)試用戶(hù)手冊(cè)規(guī)定的各項(xiàng)功能,以及模擬軟件的極端使用條件,測(cè)試軟件的性能; 環(huán)境測(cè)試 模擬手機(jī)使用的各種惡劣環(huán)境,測(cè)試其性能是否達(dá)到要求;主要包括溫度沖擊、高、低溫、濕熱、鹽霧等測(cè)試。 壽命測(cè)試 測(cè)試各易損部件的工作壽命是否達(dá)到規(guī)格要求;主要包括背光、馬達(dá)、電池、振鈴、按鍵測(cè)試; 機(jī)械強(qiáng)度測(cè)試 測(cè)試手機(jī)機(jī)械結(jié)構(gòu)的強(qiáng)度以及關(guān)鍵部件的器抗磨損性;主要包含振動(dòng)測(cè)試、跌落測(cè)試、沖擊測(cè)試、翻蓋強(qiáng)度及耐磨測(cè)試等。 其它測(cè)試 主要包括:鈴聲測(cè)試、時(shí)鐘維持測(cè)試、最長(zhǎng)待機(jī)時(shí)間、最長(zhǎng)通話時(shí)間、待機(jī)電流及電池與旅充通配測(cè)試。 3測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) 電性能測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) 根據(jù)待測(cè)手機(jī)的機(jī)型,選擇171。GSM 中試測(cè)試程序書(shū)187。、171。GPRS 中試測(cè)試程序書(shū)187?;?71。CDMA中試測(cè)試程序書(shū)187。作為標(biāo)準(zhǔn),來(lái)測(cè)試手機(jī)的電性能。并作好相關(guān)記錄。 功能/軟件測(cè)試 根據(jù)用戶(hù)手冊(cè)的內(nèi)容,詳細(xì)測(cè)試手機(jī)的各項(xiàng)功能;以及人為使手機(jī)軟件的負(fù)荷最大化(如使電話本、短消息信箱全部填滿(mǎn),鬧鐘全部設(shè)置等),然后測(cè)試軟件的性能是否達(dá)到要求。具體測(cè)試流程及規(guī)范參見(jiàn)《手機(jī)軟件測(cè)試規(guī)程》。 ESD靜電測(cè)試 手機(jī)在充電和通話狀態(tài)時(shí),進(jìn)行接觸放電和空氣放電測(cè)試,其中: 1.接觸放電為177。4
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