svc空間擴(kuò)展的層間上采樣算法(編輯修改稿)
2025-07-16 14:55 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 ntra上采樣的過(guò)程可以分為3個(gè)基本過(guò)程：層間Deblock，Intra周邊宏塊處理和分量上采樣的過(guò)程，對(duì)于層間Deblock過(guò)程，其濾波強(qiáng)度與一般的Deblock有所不同，這邊不對(duì)其做具體展開(kāi)說(shuō)明，可以參考Deblock的相關(guān)文檔。 Intra周邊宏塊處理主要針對(duì)Intra周邊的Inter宏塊做處理，對(duì)于一個(gè)宏塊來(lái)說(shuō)，有以下幾種情況需要處理：1， Intra塊，這時(shí)宏塊數(shù)據(jù)不需要特殊處理；2， Inter塊，這時(shí)需要更據(jù)宏塊的周邊宏塊信息作處理A， 周邊都是Inter塊，則宏塊信息清零；B， 周邊有一邊為Intra塊，則復(fù)制Intra塊數(shù)據(jù)給當(dāng)前宏塊；C， 周邊有多邊為Intra塊，則通過(guò)周邊宏塊數(shù)據(jù)插值給當(dāng)前宏塊。接下來(lái)就是YUV分量上采樣，設(shè)(xP , yP)為上采樣后的點(diǎn)坐標(biāo)，可以通過(guò)以下幾個(gè)步驟得出(xP , yP)點(diǎn)的值1， 計(jì)算對(duì)應(yīng)基層1/4像素點(diǎn)坐標(biāo)，計(jì)算公式如下2， 計(jì)算對(duì)應(yīng)基層整像素坐標(biāo)3， 計(jì)算1/4像素位置4， 通過(guò)整像素點(diǎn)插值1/4像素點(diǎn)的值，Y分量使用4tap插值，UV分量使用2tap插值pred[x,y] = interp[xI ,yI] 殘差上采樣殘差上采樣的過(guò)程相比于Intra上采樣更加簡(jiǎn)單，少了層間的Deblock和宏塊周?chē)鷶?shù)據(jù)的特殊處理過(guò)程，只保留了YUV分量的上采樣過(guò)程。YUV分量的上采樣過(guò)程與Intra上采樣基本一致，只是數(shù)據(jù)源采用基層的殘差數(shù)據(jù)，而對(duì)Y分量也使用了2tap的雙線性插值，對(duì)于宏塊的邊緣不做插值，只是復(fù)制原始數(shù)據(jù)。 運(yùn)動(dòng)矢量上采樣運(yùn)動(dòng)矢量上采樣時(shí)，按照宏塊循環(huán)，對(duì)于一個(gè)宏塊來(lái)說(shuō)，首先判斷是否存在基層宏塊（該宏塊的基層數(shù)據(jù)是
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