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正文內(nèi)容

綜合布線測(cè)試與驗(yàn)收(編輯修改稿)

2025-06-01 22:33 本頁(yè)面
 

【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 輔機(jī)充電工作并觀察充電是否達(dá)到 80%以上。 ? 熟悉現(xiàn)場(chǎng)和布線圖,測(cè)試過程也同時(shí)可對(duì)管理系統(tǒng)現(xiàn)場(chǎng)文檔、標(biāo)識(shí)進(jìn)行檢驗(yàn)。 ? 發(fā)現(xiàn)鏈路結(jié)果為 “ 測(cè)試失敗 ” 時(shí),可能有多種原因造成,應(yīng)進(jìn)行復(fù)測(cè)再次確認(rèn)。 ? 測(cè)試儀存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)和鏈路數(shù)有限,及時(shí)將測(cè)試結(jié)果轉(zhuǎn)存計(jì)算機(jī)。 ? ( 6)、測(cè)試結(jié)果分析 ? 數(shù)字電纜測(cè)試儀用顯示最差情況的近端串?dāng)_或綜合近端串?dāng)_與測(cè)試極限之間的距離即最差情況的余量來(lái)顯示被測(cè)鏈路的安裝質(zhì)量。 ? 如圖 722所示,測(cè)試結(jié)果最差情況的余量為 ,結(jié)果為 PASS。 圖 722 用最差情況的余量表示測(cè)試結(jié)果 ? 所謂余量 (Margin),就是各性能指標(biāo)測(cè)量值與測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)極限值的差值 ,正余量表示比測(cè)試極限值好,結(jié)果為 PASS。 ? 負(fù)值表示比測(cè)試極限值差,結(jié)果為FAIL,余量越大,說明距離極限值越遠(yuǎn),性能越好。 ? 最差情況的余量有兩種情況,一種是在整個(gè)頻率上距離測(cè)試極限值最近的點(diǎn),如圖 723最差情況的余量是 dB,發(fā)生在約 。 ? 另一種是所有線對(duì)中余量最差的線對(duì),如圖 724所示,最差情況的余量在1278線對(duì)間,值為 dB。最差余量綜合兩種情況考慮。 圖 723 最差情況的余量 圖 724所示,最差情況的余量 ? 當(dāng)測(cè)試儀根據(jù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)對(duì)所有測(cè)試項(xiàng)目測(cè)試完成后,就會(huì)根據(jù)各項(xiàng)測(cè)試結(jié)果對(duì)線纜給出一個(gè)評(píng)估結(jié)果,測(cè)試結(jié)果與評(píng)估結(jié)果關(guān)系如表 79所示。 表 79 線纜測(cè)試中 Pass/Fail的評(píng)估 ? ( 7)、 DSP4X00的故障診斷 ? 5e類和 6類標(biāo)準(zhǔn)對(duì)近端串?dāng)_和回波損耗的鏈路性能要求非常嚴(yán)格,即使所有元件都達(dá)到規(guī)定的指標(biāo)且施工工藝也可達(dá)到滿意的水平。 ? 但可能是鏈路測(cè)試失敗,綜合布線存在的故障包括接線圖錯(cuò)誤、電纜長(zhǎng)度問題、衰減過大、近端串?dāng)_過高、回波損耗過高等。 ? 為了保證工程的合格,故障需要被及時(shí)解決,這樣對(duì)故障的定位技術(shù)以及定位的準(zhǔn)確度提出了較高的要求,診斷能力可以節(jié)省大量的故障診斷時(shí)間。 ? DSP4X00采用兩種先進(jìn)的高精度時(shí)域反射分析 HDTDR和高精度時(shí)域串?dāng)_分析 HDTDX對(duì)故障定位分析。 ? 高精度的時(shí)域反射分析,高精度的時(shí)域反射( High Definiton Time Domain Reflectometry,HDTDR)分析。 ? 主要用于測(cè)量長(zhǎng)度、傳輸時(shí)延(環(huán)路)、時(shí)延差(環(huán)路)和回波損耗等參數(shù),并針對(duì)有阻抗變化的故障進(jìn)行精確的定位,用于與時(shí)間相關(guān)的故障診斷。 ? 該技術(shù)通過在被測(cè)試對(duì)中發(fā)送測(cè)試信號(hào),同時(shí)監(jiān)測(cè)信號(hào)在該線對(duì)的反射相位和強(qiáng)度來(lái)確定故障的類型,通過信號(hào)發(fā)生反射的時(shí)間和信號(hào)在電纜中輸?shù)乃俣瓤梢跃_地報(bào)告故障的具體位置。 ? 測(cè)試端發(fā)出測(cè)試脈沖信號(hào),當(dāng)信號(hào)在傳輸過程中遇到阻抗變化就會(huì)產(chǎn)生反射,不同的物理狀態(tài)所導(dǎo)致的阻抗變化是不同的,而不同的阻抗變化對(duì)信號(hào)的反射狀態(tài)也是不同的。 ? 當(dāng)遠(yuǎn)端開路時(shí),信號(hào)反射且相位未發(fā)生變化,而當(dāng)遠(yuǎn)端為短路時(shí),反射信號(hào)的相位發(fā)生了變化,如果遠(yuǎn)端有信號(hào)終結(jié)器,則沒有信號(hào)被反射。 ? 測(cè)試儀就是根據(jù)反射信號(hào)的相位變化和時(shí)廷來(lái)判斷故障類型和距離。 ? 高精度的時(shí)域串?dāng)_分析高精度的時(shí)域串?dāng)_( High Definiton Domain Crosstalk HDTDX)分析,通過在一對(duì)線對(duì)上發(fā)出信號(hào)的同時(shí),在另一對(duì)線上觀測(cè)信號(hào)的情況來(lái)測(cè)量串?dāng)_相關(guān)的參數(shù)以及故障診斷。 ? 以往對(duì)近端串?dāng)_的測(cè)試僅能提供串?dāng)_發(fā)生的頻域結(jié)果,即只能知道串?dāng)_發(fā)生在哪個(gè)頻點(diǎn),并不能報(bào)告串?dāng)_發(fā)生的物理位置,這樣的結(jié)果遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿足現(xiàn)場(chǎng)解決串?dāng)_故障的需求。 ? 由于是在時(shí)域進(jìn)行測(cè)試,因此根據(jù)串?dāng)_發(fā)生的時(shí)間以及信號(hào)的傳輸速度可以精確地定位串?dāng)_發(fā)生的物理位置。 ? 這是目前惟一能夠?qū)舜當(dāng)_進(jìn)行精確定位并且不存在測(cè)試死區(qū)的技術(shù)。 ? ● 故障診斷步驟。當(dāng)測(cè)試結(jié)果未通過時(shí),就可啟動(dòng) DSP4X00故障診斷程序?qū)收线M(jìn)行分析。方法是按故障診斷鍵[Fault Info]。 ? 測(cè)試儀就提供即時(shí)的診斷圖表,如圖 725先自動(dòng)顯示故障點(diǎn): 1,23,6的NEXT未通過;再啟動(dòng) TDR或 TDX進(jìn)行故障分析,如圖 726是用時(shí)域串?dāng)_ TDX分析NEXT失敗的地點(diǎn)和大小。 圖 725自動(dòng)顯示故障點(diǎn) 圖 726 TDX時(shí)域串?dāng)_分析 ● 故障類型及解決方法 ? 電纜接線圖未通過:電纜接線圖及長(zhǎng)度問題主要包括開路、短路、交叉等幾種錯(cuò)誤類型。 ? 開路、短路在故障點(diǎn)都會(huì)有很大的阻抗變化,對(duì)這類故障都可以利用 HDTDR技術(shù)來(lái)進(jìn)行定位。 ? 故障點(diǎn)會(huì)對(duì)測(cè)試信號(hào)造成不同程度的反射,并且不同的故障類型的阻抗變化是不同的,因此測(cè)試設(shè)備可以通過測(cè)試信號(hào)相位的變化以及相位的反射時(shí)延來(lái)判斷故障類型和距離。 ? 當(dāng)然定位的準(zhǔn)確與否還受設(shè)備設(shè)定的信號(hào)在該鏈路中的標(biāo)稱傳輸率( NVP)值決定。 ? 長(zhǎng)度問題: ? 長(zhǎng)度未通過的原因可能有: NVP設(shè)置不正確,可用已知的長(zhǎng)度的好線纜校準(zhǔn)NVP;實(shí)際長(zhǎng)度超長(zhǎng);開路或短路;設(shè)備連線及跨接線的總長(zhǎng)過長(zhǎng)。 ? ● 信號(hào)的衰減同很多因素有關(guān),如現(xiàn)場(chǎng)的溫度、濕度、頻率、電纜長(zhǎng)度、端接工藝等。 ? 在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試工程中,在電纜材質(zhì)合格的前提下,衰減大多與電纜超長(zhǎng)有關(guān),通過前面的介紹我們很容易知道,對(duì)于鏈路超長(zhǎng)可以通過 HDTDR技術(shù)進(jìn)行精確的定位。 ? ● 近端串?dāng)_故障常見于鏈路中的接插件部位,由于端接時(shí)工藝不規(guī)范,如接頭末雙絞線部分超過推薦的 13mm,造成了電纜絞距被破壞,從而導(dǎo)致在這些位置產(chǎn)生過高的串?dāng)_。 ? 串?dāng)_不僅僅發(fā)生在接插件部位,一段不合格的電纜同樣會(huì)導(dǎo)致串?dāng)_的不合格。 ? 對(duì)這類故障,可以利用 HDTDX技術(shù)發(fā)現(xiàn)它們的位置,無(wú)論是在某個(gè)接插件還是某一段鏈路。串繞線對(duì)、外部噪聲也是產(chǎn)生近端串?dāng)_的重要因素。 ? 回波損耗是由于鏈路阻抗不匹配造成的信號(hào)反射。它主要發(fā)生在連接器的地方,端接工藝不良和鏈路上產(chǎn)品非同一廠家生產(chǎn)等因素都會(huì)引起阻抗不匹配。 ? 由于在千兆以太網(wǎng)中用到了雙絞線中的四對(duì)線同時(shí)雙向傳輸(全雙工),因此被反射的信號(hào)會(huì)被誤認(rèn)為是收到的信號(hào)而產(chǎn)生混亂。 ? 知道了回波損耗產(chǎn)生的原因是由于阻抗變化引起的信號(hào)反射,我們就可以利用針對(duì)這類故障的 HDTDR技術(shù)進(jìn)行精確定位了。 ? 4. FLUKE DTX系列電纜認(rèn)證測(cè)試儀 ? DTX系列電纜認(rèn)證測(cè)試儀是 FLUKE公司 2022年推出的新一代銅纜和光纜認(rèn)證測(cè)試平臺(tái)。 ? 目前有 DTXLT, DTX1200, DTX1800三種型號(hào);其測(cè)試速度很快, 12秒即完成一條 6類鏈路測(cè)試;達(dá)到 IV級(jí)認(rèn)證測(cè)試精度;彩色操作界面,操作方便。 ? 雙光纜雙向雙波長(zhǎng)認(rèn)證測(cè)試,集成VFL可視故障定位儀; DTX1800的測(cè)試帶寬高達(dá) 900MHz,滿足未來(lái) 7類布線系統(tǒng)測(cè)試要求。 圖 727 DTX系列電纜認(rèn)證測(cè)試儀 光纖測(cè)試 ? 對(duì)光纖測(cè)試主要是衰減測(cè)試和光纜長(zhǎng)度測(cè)試,衰減測(cè)試就是對(duì)光功率損耗的測(cè)試,引起光纖鏈路損耗的原因主要有。 ? ①材料原因。光纖純度不夠和材料密度的變化太大。 ? ②光纜的彎曲程度。包括安裝彎曲和產(chǎn)品制造彎曲問題,光纜對(duì)彎曲非常敏感,如果彎曲半徑大于 2倍的光纜外徑,大部分光保留在光纜核心內(nèi),單模光纜比多模光纜更敏感。 ? ③光纜接合以及連接的耦合損耗。這主要由截面不匹配、間隙損耗、軸心不匹配和角度不匹配造成。 ? ④不潔或連接質(zhì)量不良。低損耗光纜的大敵是不潔凈的連接,灰塵阻礙光傳輸。 ? 對(duì)已敷設(shè)的光纜,可用插損法來(lái)進(jìn)行衰減測(cè)試,即用一個(gè)功率計(jì)和一個(gè)光源來(lái)測(cè)量?jī)蓚€(gè)功率的差值。 ? 第
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