omnic使用指導(dǎo)ppt課件(編輯修改稿)
2025-06-01 18:16 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 16（細(xì) — 粗）。 ‘譜線粗細(xì)’： 允許值 110（細(xì) — 粗）。 ‘譜圖顏色’： 設(shè)定光譜、標(biāo)注、坐標(biāo)標(biāo)記、刻度和樣品信息的顏色。光譜加到窗口時(shí)，依次使用右邊八種譜圖顏色。第九張又開始使用第一種顏色。 編輯 選項(xiàng) \打?。? ‘軸線粗細(xì)’： 16；‘刻度粗細(xì)’： 16； ‘譜線粗細(xì)’： 110。（細(xì) 粗） ‘顏色用不同線性表示’：用相同粗細(xì)的不同條文（如虛線）代表不同顏色的譜圖（尤其用于黑白打印機(jī)） 選項(xiàng) \采集： ‘光闌過大影響分辨率時(shí)提示’：增加光闌孔徑會降低分辨率。 ‘光學(xué)臺和智能附件狀態(tài)監(jiān)測’ : 監(jiān)測光學(xué)臺狀態(tài)。安裝智能附件時(shí)出現(xiàn)相關(guān)信息。 ‘設(shè)定智能吹掃’：放入、取出樣品時(shí)，增加吹掃氣流速。最大 250秒。 選項(xiàng) \處理： ‘自動關(guān)閉任務(wù)窗口’：操作結(jié)果放入光譜窗口后自動關(guān)閉任務(wù)窗口。 ‘標(biāo)峰’：’譜圖分析‘標(biāo)峰時(shí)，選擇剪貼板拷貝出的峰表按峰位排序，還是強(qiáng)度排序。 ‘自動基線校準(zhǔn)’：選擇‘譜圖處理’ 自動基線校準(zhǔn)時(shí)用得多項(xiàng)式級數(shù)和反復(fù)次數(shù)。 ‘ Y軸檢查’：數(shù)據(jù)處理時(shí)檢查 Y軸數(shù)據(jù)格式。 ‘設(shè)定水和二氧化碳參考譜圖’：參考譜圖至少采集 64次，并盡量使用與樣品譜圖相同分辨率。 ‘設(shè)定環(huán)境空氣制動抑制參考譜圖’：采集時(shí)：分辨率為 1，格式為干涉圖。 選項(xiàng) \窗口： 用于新光譜窗口的默認(rèn)設(shè)定。已有窗口的設(shè)定在顯示菜單中的‘顯示參數(shù)設(shè)定’中。 采集 ? 實(shí)驗(yàn)設(shè)置：設(shè)定采集參數(shù)、如何檢查采集光譜質(zhì)量的參數(shù)、檢索設(shè)置參數(shù)、 執(zhí)行光譜儀診斷檢查和準(zhǔn)值光譜儀。生成實(shí)驗(yàn)（參數(shù)）文件。 打開參數(shù)文件：在‘參數(shù)文件’下來菜單中選擇，或者在‘實(shí)驗(yàn)設(shè)置’中打開。安裝智能附件時(shí)，軟件自動選擇相應(yīng)的參數(shù)文件。 恢復(fù)默認(rèn)設(shè)置：將 C:\My Documents\Omnic\PARAM\FACTOR拷貝要恢復(fù)的參數(shù)文件覆蓋C:\My Documents\Omnic\PARAM中同名文件 采集 采集： ‘掃描次數(shù)’：取多次掃描的平均值。優(yōu)點(diǎn)：增加掃描次數(shù) (n)可以提高信號 (Signal) 和 噪聲(Noise)的比值 — 信噪比 (SNR).SNR 。缺點(diǎn)：增加掃次數(shù)會延長掃描時(shí)間。 如何選擇：可先采 16次，然后視信噪比情況增加。采集完成后可選擇‘增加掃描次數(shù)’。背景掃描次數(shù)可與樣品不同。 ‘分辨率’：指分開兩條相鄰譜線的能力。單位 cm1。分辨率與譜圖數(shù)據(jù)點(diǎn)間隔成正比。優(yōu)點(diǎn)：分辨率越高（數(shù)值越?。庾V中的數(shù)據(jù)點(diǎn)靠得越近，從而可以區(qū)分越窄的譜帶。缺點(diǎn)：提高分辨率，延長掃描時(shí)間，降低信噪比。 如何選擇：通常固體或者液體，用 8cm1或 4cm1分辨率。氣體 2cm1或更高。樣品與背景應(yīng)使用相同的分辨率。 高分辨率光闌過大 (2cm1)時(shí)可能引起光譜畸變。此時(shí)儀器會自動調(diào)節(jié)光闌大小。 ‘最終格式’： KubelkaMunk(KM)： KM能夠減少或消除漫反射時(shí)與波長有關(guān)的鏡面反射效應(yīng)。采用漫反射技術(shù)時(shí)，由于光程長度的變化在許多情況下得到的樣品含量不隨 Log(1/R)形式成線性變化，KM提供了與含量更好的線性關(guān)系。 KM=(1R)178。/=樣品反射光強(qiáng) /背景反射光強(qiáng)。 光聲：將光聲光譜技術(shù)采集到的譜圖轉(zhuǎn)化為光聲光譜單位。 %反射率：使用反射技術(shù)（鏡面反射，衰減全反射，漫反射）時(shí)表示樣品反射能量的比率。 %R=(Is/Ib) 100 Is— 樣品反射能量強(qiáng)度 。Ib— 背景反射能量強(qiáng)度。 Log(1/R)：表示反射實(shí)驗(yàn)中所吸收的紅外能量，等價(jià)與透射測量中的吸光度。 ?n采集 ‘ 校正 ’： KramersKronig(KK): 采用鏡面反射 (SR)技術(shù)時(shí) ,入射角小于 30176。 測得的譜圖像透射譜的一階導(dǎo)數(shù)圖， KK可將其轉(zhuǎn)化成通常的透射光譜圖。從而進(jìn)行定量、定性分析和譜庫檢索。 ATR: 使用衰減全反射 (ATR)技術(shù)時(shí)，紅外光的穿透深度是波長的函數(shù)：長波比短波穿透深度更大，結(jié)果，低頻處的譜峰比高頻處的譜峰強(qiáng)的多。 ATR校正可改變因此造成的譜圖失真。 H2O/CO2/ H2O和 CO2校正：由于樣品和背景分開采集， H2O和 CO2在兩張譜圖中的不同使已扣除背景的樣品譜圖中仍有較小的正（負(fù)） H2O(3800和 1600cm1)或 CO2（ 2350和 668cm1)的特征峰。此校正可得到樣品譜圖與 H2O或 CO2的標(biāo)準(zhǔn)的差譜，消除其影響。除非環(huán)境濕度太高，不建議使用此校正。通常建議使用‘自動大氣背景扣除’修正。標(biāo)準(zhǔn)參考譜圖在‘編輯’菜單 — 選項(xiàng)－處理中指定。 ‘自動大氣背景扣除’：用定量的方法去除環(huán)境（主要是水和二氧化碳）的影響。不足是對譜圖引入了人工修飾。若采集背景和樣品時(shí)，環(huán)境條件變化不大，不建議使用。標(biāo)準(zhǔn)參考譜圖在‘編輯’菜單 — 選項(xiàng) — 處理 — ’ 環(huán)境空氣干擾自動抑制’中指定。 ? 光學(xué)臺 實(shí)時(shí)顯示：檢測器信號的實(shí)時(shí)顯示。人工調(diào)整儀器或附件時(shí)使用。 Loc干涉圖峰位置。 附件： 選擇某種智能附件后保存實(shí)驗(yàn)文件。安裝此智能附件時(shí)，此實(shí)驗(yàn)文件可供選擇。 窗口： 根據(jù)透射法使用的窗片材料或者壓片材料或者反射附件的晶體材料選擇。 增益： 決定檢測器信號在電路板放大倍數(shù)，它使信號相對電路噪聲水平大的多。透射法和準(zhǔn)直儀器時(shí)增益設(shè)定為‘ 1’。反射附件時(shí)建議選用自動增益。 動鏡速率：由選擇檢測器默認(rèn)設(shè)定?？斓乃俾蕟挝粫r(shí)間內(nèi)掃描次數(shù)多，但產(chǎn)生較高的噪音。 光闌： 可以防止檢測器能量飽
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