靜電危害及防護(hù)ppt課件(編輯修改稿)
2025-05-31 18:03 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 見(jiàn)人體對(duì) ESD的敏感人體對(duì)靜電的敏感度 ESD基本知識(shí) ? 器件 ESD失效機(jī)理實(shí)驗(yàn) IC中的線路進(jìn)行人體模式放電： ?200V~400V 線路的阻抗沒(méi)有發(fā)現(xiàn)變化 ?600V 微電路的性能指標(biāo)稍有下降，但仍能通過(guò)測(cè)試。 ?800V~900V 出現(xiàn)了局部熔斷和孔洞，線路阻抗發(fā)生了明顯變化 ?1000V 線路斷路，器件被完全損壞。 靜電損傷 ? AT89S52晶振管腳靜電損傷 ? 背景：外協(xié)加工廠協(xié)助生產(chǎn)，在先期生產(chǎn)完并返回的 800塊某卡件中，有 6塊卡件上的 AT89S52失效。經(jīng)電測(cè)試，發(fā)現(xiàn)失效的管腳為 AT89S52連接晶振的兩個(gè)管腳 XTAL1， XTAL2。 ? 影響：產(chǎn)品一次通過(guò)率降低，對(duì)同批次卡件存在造成隱性靜電損傷的隱患。 ? 現(xiàn)象：卡件上電后，從指示燈觀察到卡件程序未運(yùn)行，檢測(cè)發(fā)現(xiàn)為單片機(jī)故障。連接晶振的芯片管腳 IV曲線異常。 ? 結(jié)論： AT89S52芯片連接晶振的管腳受 ESD損傷失效。 靜電損傷 管腳 XTAL1（ Pin21）， XTAL2（ Pin20）模擬 靜電放電失效的器件 生產(chǎn)返回卡件中使用的 89S52的失效點(diǎn) 靜電損傷 ? CD14538BE生產(chǎn)過(guò)程中靜電損傷 ? 背景：本批次共生產(chǎn) 150塊某卡件，卡件生產(chǎn)返回后進(jìn)行測(cè)試過(guò)程中發(fā)現(xiàn)亮紅燈，共測(cè)試 20塊卡件，有 16塊出現(xiàn)同樣的異常狀況。 ? 影響：本次異?？客．a(chǎn)，無(wú)法正常入庫(kù)，導(dǎo)致卡件生產(chǎn)周期過(guò)長(zhǎng)，同批次卡件存在隱性的靜電損傷。 ? 現(xiàn)象：卡件上電進(jìn)行調(diào)試時(shí)發(fā)現(xiàn)卡件亮紅燈，而且無(wú)法進(jìn)行標(biāo)定，經(jīng)過(guò)測(cè)試分析為 CD14538BE這顆器件 PIN11對(duì) PIN1短路。 ? 結(jié)論：本次 CD14538失效是因?yàn)榭M裝生產(chǎn)過(guò)程中，操作人員靜電防護(hù)不到位，將靜電引入器件，造成本品次卡件所使用的 CD14538出現(xiàn)大量失效。 靜電損傷 工廠返回失效器件 PIN11失效圖 靜電放電模擬失效器件 PIN11失效圖 工廠返回失效器件 PIN1失效圖 靜電放電模擬失效器件 PIN1失效圖 靜電損傷 ? 某模塊的 GAL16靜電損傷 ? 背景：批任務(wù)卡件 98 塊，發(fā)現(xiàn)有上述問(wèn)題現(xiàn)象的卡件 6塊。通過(guò)與測(cè)試人員溝通，確認(rèn)在卡件沒(méi)有裝入外殼的情況下測(cè)試正常，當(dāng)裝完外殼再次測(cè)試時(shí)才出現(xiàn)異常。 ? 影響：產(chǎn)品一
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