【文章內容簡介】 合理的。矩陣式結構的鍵盤顯然比直接法要復雜一些，識別也要復雜一些，上圖中，列線通過電阻接正電源，并將行線所接的單片機的I/O口作為輸出端，而列線所接的I/O口則作為輸入。這樣，當按鍵沒有按下時，所有的輸入端都是高電平，代表無鍵按下。行線輸出是低電平，一旦有鍵按下，則輸入線就會被拉低，這樣，通過讀入輸入線的狀態(tài)就可得知是否有鍵按下了。 第五章 軟件設計與說明 ADC模數轉換程序模數轉換測量子程序是用來控制對0809 八路模擬輸入電壓的AD轉換，轉換后的數值存于P2口中。 START: CLR ；START置位低 NOP NOP NOP NOP ；延時us SETB ；將START引腳點平拉高 NOP NOP NOP NOP ；延時us CLR ；又將START拉低 RE: JB ,RE ；檢測AD轉換是否完成 ACALL D10ms1 ；調用延時子程序 ACALL AD ；調用AD轉換程序 ACALL DISP ；調用顯示子程序 RET ADC0809轉換之后輸出的結果是8位二進制數。由公式(1)可知，當ADC0809輸出為(1l1l11111)時，輸入電壓值V =5．00V{當ADC0809輸出為(00000000)時，；當ADC0809輸出為(10000000)時，輸入電壓值V =2．50V。由于單片機進行數學運算時結果只取整數部分，因此當輸出為(10000000)時計算出的電壓值V =2．OOV，很不準確。為了提高精確度，必須把小數部分保留，具體運算方式如公式(2)。個位：Dout*196/10000 十分位：(Dout*196/1000)%10 百分位：(Dout*196/100)%10 千分位：（Dout*196/10）%10 由此得到較為精確的數值。 十六進制轉換為三位BCD碼AD: MOV R0,P2 ；將才采集好的值存于R0中 MOV A,R0 ；將值存于寄存器A中 MOV B,51 ；給B賦值 DIV AB ；A/B MOV 30H,A ；將最高位存于H中 MOV A,B ；將余數存于A中 CLR F0 ；清F0 SUBB A,1AH ；將A與相減 MOV F0,C ；借位存于F0 MOV A,10 ；給A賦值為 MUL AB MOV B,51 DIV AB JB F0,LOOP1 ADD A,5 ；此段為最高位轉化LOOP1: MOV 31H,A MOV A,B CLR F0 SUBB A,1AH MOV F0,C MOV A,10 MUL AB MOV B,51 DIV AB JB F0,LOOP2 ADD A,5 ；此段為次高位的轉化LOOP2: MOV 32H,A ；最低位存于H中 RET DISP: MOV R4,00H SETB SETB ；顯示最高位LOOP3: MOV DPTR,TAB MOV A,30H ；將最高位存入A中 MOVC A,@A+DPTR ；查表 ADD A,80H ；顯示小數點 SETB WELA2 ；位選選通 MOV P0,0FEH NOP ；延時us CLR WELA2 ；清位選 SETB WELA1 ；置位選 MOV P0,A ；將顯示值送P0口顯示 NOP CLR WELA1 ACALL D10ms1；次高位顯示 MOV DPTR,TAB MOV A,31H ；將最次位存入A中 MOVC A,@A+DPTR ；查表 SETB WELA2 MOV P0,0FDH NOP CLR WELA2 SETB WELA1 MOV P0,A NOP CLR WELA1 ACALL D10ms1；最低位顯示 MOV DPTR,TAB MOV A,32H MOVC A,@A+DPTR SETB WELA2 MOV P0,0FBH NOP CLR WELA2 SETB WELA1 MOV P0,A NOP CLR WELA1 ACALL D10ms1；通道號顯示 MOV DPTR,TAB MOV A,33H MOVC A,@A+DPTR SETB WELA2 MOV P0,0F7H NOP CLR WELA2 SETB WELA1 MOV P0,A NOP CLR WELA1 ACALL D10ms1 DJNZ R4,LOOP3RE第6章 系統(tǒng)調試及結果分析 硬件調試及分析第一步 目測。檢查外部的各種元件或者是電路是否有斷點。第二步 用萬用表測試。先用萬用表復核目測中有疑問的連接點，再檢測 各種電源線與地線之間是否有短路現象。第三步 加電檢測。給板加電，檢測所有插座或是器件的電源端是否符合要求值 第四步 聯(lián)機檢查。因為只有用單片機開發(fā)系統(tǒng)才能完成對用戶系統(tǒng)的調試。 動態(tài)調試是在用戶系統(tǒng)工作的情況下發(fā)現和排除用戶系統(tǒng)硬件中存在的器件內部故障、器件連接邏輯錯誤的一種硬件檢查。動態(tài)調試的一般方法是由近及遠、由分到合。由分到合是指首先按邏輯功能將用戶系統(tǒng)硬件電路分為若干塊，當調試電路時，與該元件無關的器件全部從用戶系統(tǒng)中去掉，這樣可以將故障范圍限定在某個局部的電路上。當各塊電路無故障后，將各電路逐塊加入系統(tǒng)中，在對各塊電路功能及各電路間可能存在的相互聯(lián)系進行調試。由分到合的調試既告完成。由近及遠是將信號流經的各器件按照距離單片機的邏輯距離進行由近及遠的分層，然后分層調試。調試時，仍采用去掉無關元件的方法，逐層調試下去，就會定位故障元件了。在調試過程中我們發(fā)現在5V量程下，,；,。數碼管顯示結果有誤差是由于ADC0809輸出的二進制碼數轉換為BCD碼數的換算方法有一定誤差導致。起初我們開始用的ADC時鐘電路是單片機內部ALE經過D觸發(fā)器分頻得到的，但在實際電路中卻不起作用，測ALE引腳無法檢測到信號，導致0809無法采集到模擬信號，得到的全為5V電壓。模擬數據采集中原本設想的的是調節(jié)其中某一電位器，其相對應的那一路電壓發(fā)生改變，但在實際運行過程中其相鄰幾路電壓也隨之變化，經過分析，可能是模擬地和數字地不能接在一起，調整之后，問題得到解決。 軟件調試及分析 由于程序比較多，整體調試不容易