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正文內(nèi)容

qztt3008-xxxx無源分布系統(tǒng)射頻電纜檢測規(guī)范(編輯修改稿)

2025-05-04 06:33 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡介】 其他諧振頻率上重復(fù)進行。試驗電路B可以防止對接收機的直接藕合。在接近1000MHz的頻率上也應(yīng)使用此電路,因為在此頻率時,難以保持ab的距離總比波長短。3) 結(jié)果表示衰減常數(shù)應(yīng)由諧振曲線的帶寬of以及相鄰諧振頻率之差△f來確定。?f=(fn,2fn,1)/(n2n1) …………………………(23)式中:n1—諧振頻率fn,1的諧振序數(shù);n2—諧振頻率fn,2的諧振序數(shù)。a=?δf?π2??f?1+?(t20)?100l(dB/100m)(20℃) …………(24)式中:l—試樣長度,m。t—試樣溫度,℃。當速比為已知時,l可用下式代替:l=150vr?f(m) ………………………………………(25)式中:Δf— 單位為MHz。如果 b =πδf/2Δf (電路A)或b =πδf/2Δf(電路B),%。此時,應(yīng)使用更精確的公式。電路A:a=?1+(t20)ln1+tanhx1tanhx(dB/100m)(20℃) ………(26)式中:tanhx=tanb/++。電路B:a=1+(t20)ln(1+sinb+sin2b)…………………(27)4) 要求衰減常數(shù)應(yīng)符合有關(guān)電纜規(guī)范的規(guī)定。 最大電壓駐波比 定義任一頻率下的輸人阻抗是局部特性阻抗變化的函數(shù),如變化是周期性的,則輸人阻抗也是變化間隔的函數(shù)。在高頻時輸人阻抗可以與試樣的平均特性阻抗有很大的差異,回波損耗是上述差異在頻域內(nèi)的度量?;夭〒p耗定義為:aτ=20lg(ui/ur)(dB)………………………………………(28)式中:ui—對應(yīng)于阻抗Zn的入射波的幅值;ur—試樣端接阻抗為Zn的負載時反射波的幅值;Zn—有關(guān)電纜規(guī)范中規(guī)定的標稱特性阻抗?;夭〒p耗與反射系數(shù)r的關(guān)系為:r=ur/ui=10(aτ/20)…………………………………(29)它與駐波比s有間接關(guān)系:s=(1+r)/(1r)……………………………………(30)試驗設(shè)備通常按圖10所示來配置。1— 信號發(fā)生器,≥10dBm;2—頻率計,分辨率≤1kHz;3—可變衰減器0dB~50dB步進;4—衰減器,≥6dB;5—電橋/反射計,定向度≥36dB;6—試驗轉(zhuǎn)換器,固有回波損耗≥40dB;7—試驗連接器,固有回波損耗≥40dB;8—試樣;9—終端負載,固有回波損耗≥40dB;10—信號處理單元;11—注1: 為了把誤差減至最小,反射計或電橋的標稱特性阻抗應(yīng)與試樣相同,推薦將具有足夠衰減量(如6dB)的緩沖衰減器直接接至電橋輸入和輸出端口,以使測試端口開路及短路測試引起的掃描圖形控制在1dB之內(nèi)。注2: 如有關(guān)電纜規(guī)范未作規(guī)定,則由電橋或反射計的定向度以及其他元件的固有損耗引起的誤差應(yīng)小于相當于最小允許回波損耗的反射的1/4。圖10 回波損耗測量的試驗配置圖 試樣制備除非另有規(guī)定,試樣的長度應(yīng)使最低試驗頻率時的插人損耗至少為6dB。如達不到此要求,則最小長度應(yīng)不小于100m,試樣兩端應(yīng)安裝固有反射較小的連接器,使試樣能直接與電橋或反射計以及終端負載相連接。 試驗設(shè)備的校準a) 用全反射來校準進行校準時,應(yīng)將電橋或反射計的試驗端口先開路,再短路。此時,反射信號相當于反射系數(shù)為100%或回波損耗為0dB。如果試驗端口開路及短路得到的信號電平有差異,則取兩者的平均值作為基準電平。為了得到與各個小反射系數(shù)或大回波損耗相對應(yīng)的信號電平,應(yīng)在規(guī)定的頻率范圍內(nèi)建立并記錄頻率校準曲線??捎每勺兯p器或帶有步進衰減器的信號處理單元來獲得不同的信號電平。b) 用標準失配器來校準本校準可用標準失配器來進行,失配器的反射系數(shù)或回波損耗為已知,且在規(guī)定的頻率范圍內(nèi)具有幾乎平直的響應(yīng)特性。校準時,為了使電橋或反射計的固有誤差的影響減至最小,標準失配器的反射系數(shù)至少應(yīng)為此誤差的5倍。應(yīng)按上述所述作出校準曲線。 測量準確度回波損耗的實測值將具有下述反射系數(shù)引起的測量誤差:δr=rA+rBe2τl≤rm/k…………………………(31)式中: rA=rd+rc+ra;rB = rc + ra + rl ;rd—對應(yīng)于電橋/反射計定向度的反射系數(shù);rc—連接器的反射系數(shù);ra—試驗轉(zhuǎn)接器的反射系數(shù);rl—負載的反射系數(shù);rA—電纜輸入端的總反射系數(shù);rB—電纜輸出端人射波的總反射系數(shù);τ—試樣的傳輸常數(shù);rm—試樣的最大允許反射系數(shù);l—試樣的物理長度;k—除非有關(guān)電纜規(guī)范另有規(guī)定,k=4。誤差δr 只能根據(jù)試驗來確定。為此,試樣用一短段同一類型的電纜來代替,短段電纜的特性阻抗盡可能接近其標稱值。電纜的反射系數(shù)應(yīng)在盡可能寬的頻帶內(nèi)測量,其物理長度應(yīng)滿足下述條件:l=(2或3)150vr/(f2f1) …………………(32)式中: l—試樣的物理長度,m;f1,f2—頻率,MHz。該電纜首先用匹配負載進行測量,得到如圖11所示那樣的反射系數(shù)曲線。然后用失配器來代替匹配負載重復(fù)進行測量,得到圖12所示的結(jié)果。失配器的失配量大于rA的設(shè)定值。圖11 反射系數(shù)曲線示意1圖12 反射系數(shù)曲線示意2rA和rB的模如下:rA=(r3r4)/2和rB=(rlrA) …………………(33)因此,固有誤差反射引起的測量誤差近似為:?r=177。(rA+rB10a/10) ………………………(34)式中:a—試樣的插人損耗,dB。 程序在用模擬信號進行處理和記錄時,掃頻速度應(yīng)與處理單元顯示和記錄的瞬態(tài)響應(yīng)相適應(yīng)。降低掃頻速度,直至峰值的大小不再變動為止。除非使用現(xiàn)代網(wǎng)絡(luò)分析儀來進行數(shù)字信號處理和/或記錄,否則,應(yīng)滿足下列條件:n≥3(f2f1)l150?vr…………………………………………(35)式中:n—在回波損耗曲線頻帶(f2~f1)中的取樣點數(shù);f1—頻帶的最低頻率,MHz;f2—頻帶的最高頻率,MHz;l—試樣的物理長度,m;vr—試樣標稱速比。當使用現(xiàn)代網(wǎng)絡(luò)分析儀時,測量結(jié)果與所用的專用設(shè)備的型號和調(diào)整有很大關(guān)系。所以當使用此類設(shè)備時,必須全面規(guī)定有關(guān)的測量參數(shù),以防對測量結(jié)果產(chǎn)生誤解和偏差。 要求除非另有規(guī)定,所測得的回波損耗最小值應(yīng)符合有關(guān)電纜規(guī)范的規(guī)定。為確定試樣兩端的特性阻抗,應(yīng)優(yōu)選與試樣的標稱特性阻抗相同的標準線。 機械物理性能 重復(fù)彎曲進行重復(fù)彎曲試驗的電纜試樣長度應(yīng)足以繞規(guī)定直徑的芯軸3整圈。彎曲試驗用芯軸直徑應(yīng)符合表6的規(guī)定。將電纜試樣的一端固定在芯軸圓周上,將電纜試樣繞芯軸纏繞不小于一整圈,解開電纜并將其自由端拉直,共重復(fù)15次。在卷繞和解繞過程中,電纜試樣的彎曲部分應(yīng)始終貼在芯軸的表面上。表6 彎曲試驗用圓柱體直徑(單位mm)電纜規(guī)格代號5678912172122233242圓柱體直徑501601002001102504002605005507601000完成試驗后,用正?;虺C正視力檢查試樣的金屬部件是否有裂紋。試驗前后應(yīng)測試試樣的電壓駐波比,要求如下:a) 試驗前的電壓駐波比測試——在試驗前,《無源分布系統(tǒng)射頻電纜技術(shù)要求()》,測試結(jié)果應(yīng)符合表以上規(guī)定的在至少2 個工作頻段內(nèi)符合相對應(yīng)的要求。記錄所有電壓駐波比符合要求的工作頻段;b) 試驗后的電壓駐波比測試——在試驗結(jié)束后,(1)條規(guī)定的測試后記錄的工作頻段內(nèi)的電壓駐波比。 最小彎曲半徑。 抗壓強度電纜試樣應(yīng)放置在試驗裝置的基板上,以防止橫向移動。用平行于基板的可移動鋼板或圓柱形鋼軸壓住試樣。試驗裝置示意圖見圖13。應(yīng)逐漸加載,避免任何突然變化。如采用逐級加載法,:1。圖13 抗壓強度試驗裝置 應(yīng)采用可移動鋼板進行試驗;可移動板應(yīng)在100mm長度的試樣上均勻地增加壓力??梢苿愉摪宓倪吘壍菇前霃讲粦?yīng)小于2 mm; 對于各種規(guī)格電纜抗壓強度應(yīng)符合表7 的規(guī)定; 試驗時,負載加載持續(xù)時間應(yīng)為20 min; 在試驗前和試驗結(jié)束后, 中的a)和b)條規(guī)定測試電纜試樣的電壓駐波比。表7 抗壓性試驗抗壓強度要求(單位為牛頓/毫米)電纜規(guī)格代號5678912172122233242抗壓強度181418201920131414142420 導(dǎo)體最小抗拉強度、導(dǎo)體最小斷裂延伸)條的規(guī)定測試。 護套抗張強度、護套斷裂伸長率 試驗設(shè)備拉力試驗機、指針式測厚儀()、千分尺()、鋼直尺()、啞鈴試片刀具(1號圖14,2號圖15各一個)、電熱老化箱或烘箱。 試樣制備a) 從成品電纜護套上切取足夠長的樣段,供制作5個試樣。如果還要進行老化試驗,則需另外制作5個同樣的試樣;圖14 1號啞鈴試片圖15 2號啞鈴試片b) 將護套內(nèi)外可能有的附著物全部去除,沿軸線剝開試樣。削平護套內(nèi)部可能有的凸脊,使標志線之間具有平行表面。若護套試樣的原始厚度較大,但其兩個表面都比較平整時,;c) 用1號啞鈴刀從加工好的試樣上沖取啞鈴狀試片。最好能在式樣上并排沖出兩個。試片厚度等于試樣厚度。如果試樣太小不能沖取1號啞鈴狀試片時,可沖取2號啞鈴狀試片;d) 在啞鈴試片狹帶部分的中部標出兩條平行的標記線,見圖14和圖15。 試驗條件表8 護套抗張強度和護套斷裂伸長率試驗條件試驗溫度℃拉伸速度mm/min夾具見得距離mm23177。525177。5常規(guī)試驗時允許取250177。501號啞鈴片 約502號啞鈴片 約34 試驗步驟拉力試驗前的試片應(yīng)在23℃177。5℃下至少保存3小時,且應(yīng)避免陽光的直接照射。試驗時,將試片對稱并垂直地夾在拉力試驗機上下夾具上,按照試驗條件的規(guī)定進行試驗。記錄試片斷裂時的負荷及兩標記線間的距離??箯垙姸群蛿嗔焉扉L率應(yīng)在同一試樣上同時進行測定。在夾頭處拉斷的任何試樣的實驗結(jié)果應(yīng)作廢,在這種情況下計算抗張強度和斷裂伸長率至少需要4個有效試驗數(shù)據(jù),否則試驗應(yīng)重做。在標記線外斷裂的試樣可重做。每個啞鈴試片的截面積應(yīng)按照標記線之間試片的寬度和在3點上測量的試片最小厚度之積計算。對試片寬度的均勻性有疑問時,則在3點上測量厚度的同時測量與每個測量點對應(yīng)的厚度。由每處測量的寬度和厚度計算出3個截面積,取其中的最小值來計算抗張強度。 試驗結(jié)果及計算a) 抗張強度及斷裂伸長率按照下式計算:…………………………………………………(36)………………………………………(37)式中:σ—試樣抗?jié)q強度。MPa;P—試樣斷裂時的負荷,N;S—試樣截面積,mm2;ε—試樣的斷裂伸長率,%;L0—試樣拉伸前兩標記線間的距離,mm;Lu—試樣斷裂時兩標記線間的距離,mm。b) 抗張強度和斷裂伸長率的實驗結(jié)果取各該項實驗結(jié)果的中間值。以上所述的實驗方法同樣適用于老化后的護套試樣,須經(jīng)受老化的一組試樣與不須經(jīng)受老化的一組試樣應(yīng)盡可能相同,它們的拉伸試驗應(yīng)接連進行。 絕緣附著力 試樣制備從電纜成品上截取至少300mm長的二根試樣,除非相應(yīng)電纜規(guī)范另有規(guī)定,每根電纜試樣應(yīng)按圖117或18來制備。圖16 柔軟電纜剝頭圖17 半硬電纜剝頭圖18 護套剝頭 程序?qū)⒃嚇友b人拉力機,試驗夾具如圖19或20所示。試驗板上小孔的直徑應(yīng)比內(nèi)導(dǎo)體直徑、介質(zhì)外徑、177。 mm。將內(nèi)導(dǎo)體、介質(zhì)芯子或外導(dǎo)體穿過試驗板上的小孔,用穩(wěn)定增加的力以不大于100mm/min的速度拉拽,應(yīng)避免突然拉拽和猛拉。對試樣的物理處理應(yīng)盡可能少,以免損傷試樣。圖19 柔軟電纜用試驗夾具圖20 半硬電纜用試驗夾具 結(jié)果表示絕緣附著力應(yīng)定義為導(dǎo)體與絕緣之間的粘合破壞時的最大拉力讀數(shù)。護套附著力應(yīng)定義為外導(dǎo)體和護套之間的粘合破壞時的最大拉力讀數(shù)。要求絕緣和/或護套附著力的值應(yīng)符合相應(yīng)電纜規(guī)范的規(guī)定。 環(huán)境性能 老化后護套斷裂伸長率、老化后護套抗張強度 試驗設(shè)備電熱老化箱或烘箱。 試樣制備。 試驗條件老化溫度:100℃177。2℃,老化時間:1024h。 試驗步驟將標好標距的啞鈴狀試樣垂直懸掛于老化箱內(nèi)的有效工作區(qū)內(nèi),溫度及時間按照實驗規(guī)定。試樣間應(yīng)保持至少20mm的間距。組成成分不同的材料不能放在同一老化箱中老化。屆時將試樣取出,至于環(huán)境溫度至少16h,避免陽光直接照射。,接連測定老化前和老化后的兩組試片的抗張強度與斷裂伸長率。 試驗結(jié)果及計算。 絕緣熱收縮率 測試設(shè)備自然通風(fēng)的空氣烘箱, 試樣準備;L是線材對應(yīng)標準要求的長度。除掉絕緣芯線上所有的附件及護層,在試樣的中部標識L177。5mm的試驗長度;測量標記之間的距離,;然后在每個試樣兩端,距離標記2~5mm處剝掉絕緣。如下圖所示:圖21 試樣標記要求(測試之前) 試驗過程將試樣導(dǎo)體裸露的端頭水平支架,或者水平放置于滑石粉槽的表面,使得樣品能夠自由伸縮;之后將樣品放入空氣烘箱中,115℃177。2℃放置4小時;達到規(guī)定的時間之后,取出試樣在空氣中冷卻至室溫,測量每個試樣標記之間的距離L1,如下圖所示:圖22 試樣標記要求(測試之后) 計算要求按照如下公式計算測試結(jié)果:LL1L100%……………………………………(38) 低溫彎曲電纜的低溫彎曲試驗應(yīng)按JB/T ,將電纜試樣放入低溫試樣箱內(nèi),在(30177。2)℃溫度條件下放置48h進行低溫處理。然后取出試樣,在30s內(nèi)進行一次彎曲,彎曲試驗用圓柱體直徑應(yīng)符合下表9的規(guī)
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