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正文內(nèi)容

畢業(yè)設(shè)計(jì)-基于at89c51單片機(jī)的蓄電池的自動(dòng)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)(編輯修改稿)

2025-02-12 23:40 本頁(yè)面
 

【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 義: Rtp和 Rtn是電極離子遷移電阻; Lp、 Ln為正負(fù)極電感;Cdlp,、 Cdln是極板雙電層電容; Zwp, Zwn為阻抗; Rhf是歐姆電阻。 電池阻抗是一個(gè)復(fù)阻抗,對(duì)于蓄電池的阻抗就包擴(kuò)兩個(gè)方面,其中一方面是歐姆阻抗,另外一方面就是蓄電池兩端的正負(fù)極阻抗,在其他條件不變的情況下與測(cè)試頻率有關(guān)。 通常情況的內(nèi)阻是指某一固定頻率下的內(nèi)阻值,一般的內(nèi)阻測(cè)試有兩種:測(cè)蓄電池的內(nèi)阻測(cè)量,如鎳鎘電池、鎳氫電池和鋰電池,使用的頻率一般為 1KHz;用于測(cè)鉛酸電池的頻率一般為 1060Hz。 設(shè)計(jì)方案論證 蓄電池的內(nèi)阻 要精確測(cè)量具有一定的難度的,其中存在幾個(gè)原因:第一,蓄電池內(nèi)阻非常小,小到毫歐數(shù)量級(jí)。第二,精度要求高,重復(fù)性,穩(wěn)定性要好,攀枝花學(xué)院本科畢業(yè)設(shè)計(jì)(論文) 2 測(cè)試方法的研究 6 內(nèi)阻的變化在一個(gè)長(zhǎng)時(shí)間里是很小的,達(dá)不到精度,重復(fù)性和穩(wěn)定性的要求,測(cè)量是沒(méi)有意義的。第三,在線測(cè)量,干擾十分嚴(yán)重,特別是在同心系統(tǒng)中使用中、還有來(lái)自通信設(shè)備的干擾。第四,必須是在線測(cè)量,離線測(cè)量意義不大。 現(xiàn)目前,要測(cè)出蓄電池的內(nèi)阻的常見(jiàn)方法有許多種,其中包括:密度法、直流放電法、開(kāi)路電壓法、交流注入法。 ( 1)密度法:它是通過(guò)測(cè)量出蓄電池中的容液的密度,通過(guò)測(cè)量到的容液的密度來(lái)然后 算出蓄電池內(nèi)阻大小,而現(xiàn)在的蓄電池基本都是封閉式的,無(wú)法取得電解液。該方法的適用范圍窄并且這種方法在精度上有很大的缺陷。 ( 2)開(kāi)路電壓法:它主要是通過(guò)測(cè)出蓄電池的端電壓,理由測(cè)出來(lái)的端電壓,利用所知的知識(shí)運(yùn)算出蓄電池的內(nèi)阻,但是這種方法的精度很差,甚至可能算出不是我們需要的答案,即是算出來(lái)的內(nèi)阻數(shù)據(jù)是錯(cuò)誤的結(jié)果。因?yàn)?,即使一個(gè)容量已變小的蓄電池,在浮充狀態(tài)下的時(shí)候其端電壓仍然可能會(huì)表現(xiàn)出正常狀態(tài)。 ( 3)直流放大法就是通過(guò)對(duì)電池進(jìn)行瞬間大電流放電,測(cè)量電池的瞬間電壓降,通過(guò)歐姆定律計(jì)算出電池內(nèi)阻。由于 瞬間大電流對(duì)蓄電池有一定的危害,并且當(dāng)內(nèi)阻值很小時(shí),在一定電流下的電壓變化幅值相對(duì)較小,給準(zhǔn)確測(cè)量帶來(lái)困難。另外,由于放電過(guò)程電壓的變化,需要選擇穩(wěn)定區(qū)域計(jì)算電壓變化幅值。實(shí)際測(cè)量中,直流方法所得數(shù)據(jù)的重復(fù)性較差。 ( 4) 交流法是通過(guò)對(duì)蓄電池外加上一個(gè)交流電流,當(dāng)然該電流必須是低頻的,然后我們就可以測(cè)出蓄電池兩端的電壓和流過(guò)的電流,因?yàn)榧尤氲碾娏魇堑皖l的,所以所測(cè)出的電壓和電流都是低頻的,通過(guò)測(cè)出的數(shù)據(jù)之間的的電壓差,最后通過(guò)這些算出蓄電池當(dāng)時(shí)的內(nèi)阻。 交流法是通過(guò)加入一個(gè)額外電流,即在使用交流法的時(shí)候 ,不用讓電池處于放電狀態(tài)或者放完點(diǎn)的狀態(tài),我們就可以實(shí)現(xiàn)對(duì)蓄電池的在線監(jiān)測(cè)和管理,由此不會(huì)對(duì)設(shè)備運(yùn)行方面有什么影響。同時(shí),我們對(duì)蓄電池施加的低頻信號(hào)的頻率非常低,電流值相對(duì)也非常小,這樣就不會(huì)對(duì)電池的性能造成什么影響。首先產(chǎn)生一個(gè) 1KHz的恒定交流激勵(lì)信號(hào),交流法通過(guò)對(duì)蓄電池注入一個(gè)交流信號(hào) Is,測(cè)量出蓄電池兩端的電壓響應(yīng)信號(hào) Vo,以及兩者的相位差θ,由阻抗公式( 2)和( 3) IsVZ 0? ( 2) ?ZCOSR? ( 3) 即可 計(jì)算出蓄電池的阻抗,進(jìn)而反映出蓄電池的性能。 有以上比較,我們選用交流法,來(lái)進(jìn)行對(duì)蓄電池的一些性能的測(cè)量。 攀枝花學(xué)院本科畢業(yè)設(shè)計(jì)(論文) 2 測(cè)試方法的研究 7 交流法 當(dāng)使用受控電流時(shí)電流如公式( 4)所示 )2sin(Im ftaxI ?? ( 4) 產(chǎn)生的電壓響應(yīng)如公式 ( 5)所示 )2s in(m a x ?? ?? ftVV ( 5) 若使用受控電壓激勵(lì)如公式( 6)所示 )2sin(m ax ftVV ?? ( 6) 產(chǎn)生的電流響應(yīng)如公式( 7)所示 )2sin(Im ?? ?? ftaxI ( 7) 兩種情況的阻抗均為: 即阻抗是與頻率有關(guān)的復(fù)阻抗,其模如公式( 8)所示 axVZ Imma x? ( 8) 相角為 φ 。 一般情況下激勵(lì)引起的電壓幅值變化小于 10mV,這樣能保證阻抗測(cè)量的線性。 從理論上講,向電池饋入一個(gè)交流電流信號(hào),測(cè)量由此信號(hào)產(chǎn)生的電壓變化即可測(cè)得電池的內(nèi)阻 ,如公式( 9)所示 IavVavR? ( 9) 式中 Vav為檢測(cè)到交流信號(hào)的平均值; Iav 為饋入交流信號(hào)的平均值 用交流法測(cè)量?jī)?nèi)阻的時(shí)候,我們是在電池上面加上一會(huì)交流信號(hào),然后測(cè)量出通過(guò)電池的電流( I)和該電流在電池兩端的所產(chǎn)生的交流電壓( V),通過(guò)測(cè)量到的電流和電壓,我們就可以算出蓄電池的阻抗。一般情況下,我們所選擇的交流信號(hào)都是低頻的,并且該交流信號(hào)在使用的時(shí)候,對(duì)于電容的所產(chǎn)生的影響很小,所以一般 我們都忽略不計(jì),所以對(duì)于我們測(cè)得的數(shù)據(jù)而言,實(shí)際上就是我們需要的蓄電池的電阻。對(duì)于交流法,它存在的缺點(diǎn)是很容易受到外界的影響。但是我們?nèi)绻x擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)試頻率,并采用有效的濾波器,還可以避免電源紋波和其他噪聲的影響的。交流法對(duì)正在使用的蓄電池來(lái)說(shuō),它對(duì)系統(tǒng)額外的影響很小,而且測(cè)量的準(zhǔn)確性很高,并且在測(cè)量的時(shí)候不會(huì)對(duì)蓄電池造成什么影響,是測(cè)量蓄電池的不二之選。 攀枝花學(xué)院本科畢業(yè)設(shè)計(jì)(論文) 3 硬件電路設(shè)計(jì) 8 第 3 章 硬件電路設(shè)計(jì) 總體框架 在 實(shí)際使用中,由于饋入信號(hào)的幅值有限,電池的內(nèi)阻在微歐或毫歐級(jí),因此,產(chǎn)生的電壓變化幅值也在微伏級(jí),信號(hào) 容易受到干擾。尤其是在線測(cè)量時(shí),會(huì)受到充電機(jī)或用電負(fù)載的影響。 交流法,首先要有一個(gè)交流源,原理框圖如圖 2 所示,交流原,就是提供交流信號(hào),使之注入到蓄電池后能在蓄電池兩端產(chǎn)生一個(gè)交流相應(yīng)信號(hào)。同時(shí)考慮到交流源與蓄電池串聯(lián)后,蓄電池會(huì)產(chǎn)生一個(gè)直流信號(hào)。為了避免與恒流源影響。故在串聯(lián)電路中串聯(lián)一個(gè)電容,電容可以起到隔直流,通交流的作用。其阻值的大小選取,選擇較大電容阻值的,因?yàn)檫x擇較大的電容 c,交流信號(hào)在其分的電壓降,就少,其阻抗為 1/jω c。 蓄電池的內(nèi)阻不是純電阻,里面存在有容性成分,故交流信號(hào)經(jīng)過(guò)蓄電池 后相位差會(huì)發(fā)生變化。所以要測(cè)出蓄電池的阻抗,還要測(cè)出相位差 θ 。為了測(cè)出相位差我們需要一個(gè)參考電壓,電阻 Ro,就是提供一個(gè)參考電壓, R 取值 1KΩ,流過(guò)一個(gè)恒定的交流信號(hào),如公式( 10)所示 )sin( ??? wtAI ( 10) R上產(chǎn)生一個(gè)已知的電壓信號(hào),如公式( 11)所示 )sin( ??? wtARUr ( 11)設(shè)計(jì)總體框圖如圖 2 所示 圖 2 設(shè)計(jì)總體框圖 交流源 蓄電池 差分放大 AD8302幅相檢測(cè) A/D采樣 單片機(jī) LCD顯示 攀枝花學(xué)院本科畢業(yè)設(shè)計(jì)(論文) 3 硬件電路設(shè)計(jì) 9 因?yàn)榻涣餍盘?hào)經(jīng)過(guò)蓄電池后,在蓄電池兩端的相應(yīng)信號(hào)十分微弱,直接取值不方便,并且如果直接取值還攜帶有直流信號(hào),故我們選擇一個(gè)差分放大器,其輸入信號(hào)就是蓄電池兩端的的信號(hào),經(jīng)過(guò)差分放大。得到蓄電池兩端的交流相應(yīng)電壓信號(hào),并且此時(shí)已經(jīng)將直流信 號(hào)去掉。同樣我們對(duì)已知的參考信號(hào) R 兩端的信號(hào)作為輸入信號(hào)也經(jīng)過(guò)差分放大器。所以,我們就需要兩個(gè)完全一樣的差分放大器,放大器我們選用 INA2321芯片, INA2321 放大器一塊芯片里面有兩個(gè)完全一樣的放大器。故經(jīng)過(guò) INA2321后,信號(hào)放大同樣的倍數(shù)。 放大后的信號(hào)經(jīng)過(guò) AD8302幅相檢測(cè)芯片可以得到兩個(gè)輸入信號(hào)的幅度之比和兩輸入信號(hào)的相位差 θ 。假設(shè)幅度之比為 q,則蓄電池兩端的相應(yīng)電壓信號(hào)如公式( 12)所示 )1(0 ?? ??? wtqA RU ( 12) 帶入阻抗公式( 2)和( 3),其中 Vo=Umax= qARo, Is=Imax=A 得公式( 13) R=qRocosθ ( 13) 在單片機(jī)里數(shù)據(jù)處理后,送入 LCD顯示。直觀現(xiàn)實(shí)出來(lái)蓄電池性能的好壞。 主處理器模塊 AT89C51它是由一個(gè) 8位中央處理器,一個(gè) 256B片內(nèi) RAM以及 4KB Flash ROM,還要 21 個(gè)特殊功能寄存器, 4 個(gè) 8 位并行 I/O 口,兩個(gè) 16 位定時(shí) /計(jì)數(shù)器,一個(gè)串行 I/O口以及中斷系統(tǒng)等部分組成,各個(gè)功能部件通過(guò)片內(nèi)單一總線連為一 體,集成在一塊芯片上。 ( 1)主要特性 ?與 MCS51 兼容 ?4K字節(jié)可編程閃爍存儲(chǔ)器 ?壽命: 1000 寫(xiě) /擦循環(huán) ?數(shù)據(jù)保留時(shí)間: 10年 ?全靜態(tài)工作: 0Hz24Hz ?三級(jí)程序存儲(chǔ)器鎖定 ?128*8位內(nèi)部 RAM ?32可編程 I/O 線 ?兩個(gè) 16位定時(shí)器 /計(jì)數(shù)器 ?5個(gè)中斷源 ?可編程串行通道 ?低功耗的閑置和掉電模式 ?片內(nèi)振蕩器和時(shí)鐘電路 攀枝花學(xué)院本科畢業(yè)設(shè)計(jì)(論文) 3 硬件電路設(shè)計(jì) 10 AT89C51引腳如圖 3所示 圖 3 AT89C51 引腳 ( 2)管腳說(shuō)明: VCC:供電電壓。 GND:接地。 P0 口: P0 口為一個(gè) 8 位漏級(jí)開(kāi)路雙 向 I/O 口,每腳可吸收 8TTL 門(mén)電流。當(dāng)P1口的管腳第一次寫(xiě) 1時(shí),被定義為高阻輸入。 P0能夠用于外部程序數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器,它可以被定義為數(shù)據(jù) /地址的第八位。在 FIASH 編程時(shí), P0 口作為原碼輸入口,當(dāng) FIASH進(jìn)行校驗(yàn)時(shí), P0輸出原碼,此時(shí) P0外部必須被拉高。 P1口: P1口是一個(gè)內(nèi)部提供上拉電阻的 8位雙向 I/O口, P1口緩沖器能接收輸出 4TTL 門(mén)電流。 P1 口管腳寫(xiě)入 1 后,被內(nèi)部上拉為高,可用作輸入, P1 口被外部下拉為低電平時(shí),將輸出電流,這是由于內(nèi)部上拉的緣故。在 FLASH 編程和校驗(yàn)時(shí), P1口作為第八位地址接 收。 P2口: P2口為一個(gè)內(nèi)部上拉電阻的 8 位雙向 I/O口, P2口緩沖器可接收,輸出 4 個(gè) TTL 門(mén)電流,當(dāng) P2 口被寫(xiě)“ 1”時(shí),其管腳被內(nèi)部上拉電阻拉高,且作為輸入。并因此作為輸入時(shí), P2 口的管腳被外部拉低,將輸出電流。這是由于內(nèi)部上拉的緣故。 P2口當(dāng)用于外部程序存儲(chǔ)器或 16位地址外部數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器進(jìn)行存取時(shí),攀枝花學(xué)院本科畢業(yè)設(shè)計(jì)(論文) 3 硬件電路設(shè)計(jì) 11 P2口輸出地址的高八位。在給出地址“ 1”時(shí),它利用內(nèi)部上拉優(yōu)勢(shì),當(dāng)對(duì)外部八位地址數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器進(jìn)行讀寫(xiě)時(shí), P2口輸出其特殊功能寄存器的內(nèi)容。 P2口在 FLASH編程和校驗(yàn)時(shí)接收高八位地址信號(hào)和控制信號(hào)。 P3 口: P3 口管腳是 8 個(gè)帶內(nèi)部上拉電阻的雙向 I/O 口,可接收輸出 4 個(gè) TTL門(mén)電流。當(dāng) P3 口寫(xiě)入“ 1”后,它們被內(nèi)部上拉為高電平,并用作輸入。作為輸入,由于外部下拉為低電平, P3口將輸出電流( ILL)這是由于上拉的緣故。 P3口也可作為 AT89C51的一些特殊功能口,如下所示: RXD(串行輸入口) TXD(串行輸出口) /INT0(外部中斷 0) /INT1(外部中斷 1) T0(記時(shí)器 0外部輸入) T1(記時(shí)器 1外部輸入) /WR(外部數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器寫(xiě)選 通) /RD(外部數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器讀選通) P3口同時(shí)為閃爍編程和編程校驗(yàn)接收一些控制信號(hào)。 RST:復(fù)位輸入。當(dāng)振蕩器復(fù)位器件時(shí),要保持 RST腳兩個(gè)機(jī)器周期的高電平時(shí)間。 ALE/PROG:當(dāng)訪問(wèn)外部存儲(chǔ)器時(shí),地址鎖存允許的輸出電平用于鎖存地址的地位字節(jié)。在 FLASH 編程期間,此引腳用于輸入編程脈沖。在平時(shí), ALE端以不變的頻率周期輸出正脈沖信號(hào),
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