【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】
SHORT 設(shè)定操作說明 短路測(cè)試操作說明 MAIN INDEX SINGLE FREQ MULTFREQ EXIT 按此鍵即進(jìn)行單一頻率之LCRZ 開路測(cè)試動(dòng)作 按此鍵即跳出此測(cè)試選項(xiàng)畫面 按此鍵即進(jìn)行多種頻率之LCRZ 開路測(cè)試動(dòng)作 當(dāng)按下SHORT鍵顯示如下 DCR SHORT SINGLE FREQ 按此鍵即做DCR短路測(cè)試動(dòng)作 設(shè)定操作說明 短路測(cè)試操作說明 MAIN INDEX OPEN LOAD LIST SWEEP 按此鍵 選擇短路測(cè)試之項(xiàng)目后顯示器即出現(xiàn)下列畫面 SHORT SHORT CIRCUIT TEST LEADS THEN PRESS TRIGGER 設(shè)定操作說明 MAIN INDEX LIMITS BIN SET TRANSFORMER OPEN LOAD LIST SWEEP SHORT 按鍵(S tart/Tring開始鍵 )進(jìn)行短路測(cè)試 ,此時(shí)開路測(cè)試的測(cè)試值情況如下所示 SHORT MEASUREMENT IN PROGRESS 0 R: ? Q: 短路測(cè)試操作說明 設(shè)定操作說明 短路測(cè)試操作說明 MAIN INDEX LIMITS BIN SET TRANSFORMER OPEN LOAD LIST SWEEP SHORT 當(dāng)短路測(cè)試錯(cuò)誤時(shí)顯示器會(huì)顯 【 SHORT FAIL 】 字樣,表示開路測(cè)試動(dòng)作有問題,請(qǐng)檢查測(cè)試線是否有斷或是夾子接觸不良,檢修后再墊行開路測(cè)試,如下圖所示 OPEN MEASUREMENT IN PROGRESS 0 C: Pf D: 16 19 SHORT FAIL Press Any key Continue 設(shè)定操作說明 短路測(cè)試操作說明 MAIN INDEX LIMITS BIN SET TRANSFORMER OPEN LOAD LIST SWEEP SHORT 當(dāng)短路測(cè)試正確時(shí)顯示器會(huì)顯示【