原子發(fā)射光譜法4定性定量分析方法(編輯修改稿)
2025-06-17 17:52 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 采用哈特曼光闌 ， 可多次暴光而不影響譜線相對位置 ， 便于對比 。 20:34:05 二、 光譜定量分析 quantitative spectrometric analysis 1. 光譜半定量分析 與目視比色法相似；測量試樣中元素的大致濃度范圍； 應(yīng)用 ：用于鋼材 、 合金等的分類 、 礦石品位分級等大批量試樣的快速測定 。 譜線強度比較法 ：測定一系列不同含量的待測元素標(biāo)準(zhǔn)光譜系列 ， 在完全相同條件下 (同時攝譜 )， 測定試樣中待測元素光譜 ， 選擇靈敏線 ， 比較標(biāo)準(zhǔn)譜圖與試樣譜圖中靈敏線的黑度 ， 確定含量范圍 。 20:34:05 2. 光譜定量分析 (1) 發(fā)射光譜定量分析的基本關(guān)系式 在條件一定時 ， 譜線強度 I 與待測元素含量 c關(guān)系為： I = a c a為常數(shù) (與蒸發(fā) 、 激發(fā)過程等有關(guān) )， 考慮到發(fā)射光譜中存在著自吸現(xiàn)象 ， 需要引入自吸常數(shù) b ， 則： acbIcaI blglglg ???? 發(fā)射光譜分析的基本關(guān)系式 ， 稱為塞伯 羅馬金公式 （ 經(jīng)驗式 ） 。 自吸常數(shù) b 隨濃度 c增加而減小 ， 當(dāng)濃度很小 ， 自吸消失時 ， b=1。 20:34:05 (2) 內(nèi)標(biāo)法基本關(guān)系式 影響譜線強度因素較多 ， 直接測定譜線絕對強度計算難以獲得準(zhǔn)確結(jié)果 ， 實際工作多采用內(nèi)標(biāo)法 （ 相對強度法 ） 。 在被測元素的光譜中選擇一條作為分析線 (強度 I)， 再選擇內(nèi)標(biāo)物的一條譜線 (強度 I0)， 組成分析線對 。 則： 0000bbcaIcaI???? 相對強度 R： AcbR
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