spc執(zhí)行作業(yè)規(guī)范(doc)-作業(yè)指導(dǎo)(編輯修改稿)
2024-09-22 19:37 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 = 20 ) C 依附件四 :”管制圖選用原則 ”挑選適用的管制圖并開始收集資料與點繪管制圖 . D 當(dāng)點繪超出規(guī)格或不在管制狀況內(nèi) ,須針對各類異常原因撰寫有效的改善計劃 . A 將狀態(tài)穩(wěn)定之參數(shù) ,以現(xiàn)有數(shù)據(jù)繪成直方圖檢驗是否合乎規(guī)格呈現(xiàn)常態(tài)分配 .若 無符合則須檢討制程之人、機(jī)、料、法是否須再做變更 ,待改善後再匯集 20組以 上數(shù)據(jù)計算所要管制參數(shù)之管制上、下限并計算 Ca, Cp, Cpk. B 當(dāng) Cp,Cpk ,需檢討是否有必要改變管制的方法 ,或利 用其他手法 ,如 Precontrol chart, 不良率超近零之管制圖 … 等 . ,應(yīng)依判圖準(zhǔn)則確認(rèn)是否有不良 ,若有則須立即采取矯正措施 ,使其恢 復(fù)正常 . . : SPC導(dǎo)入流程 : 制程關(guān)鍵參數(shù)一覽表 : 品質(zhì) (Q)制程能力診斷表 : 管制圖選用原則 Quanta Storage Inc. System Document Subject : SPC執(zhí)行作業(yè)規(guī)範(fàn) Rev. : Doc. No. : Effective Date : 2020/4/24 Page 6 of 8 附件一 : SPC導(dǎo)入流程 決定衡量方法 執(zhí)行 GRamp。R 決定抽樣計劃 (抽樣頻率 ) 繪制直方圖 滿足規(guī)格 管制用管制圖 管制內(nèi) 計算 Cp, Cpk Cp, Cpk 考慮改變管制方式 改善行動以降低衡量誤差 /錯誤 繪制解析 管制圖 ＊ 適度之區(qū)分 ＊ 儀校規(guī)劃 ＊ 衡量方法 /程序 amp。訓(xùn)練 ＊ 改善儀器設(shè)備之衡量方法 amp。訓(xùn)練 誤差 /錯誤 不 被授受 誤差 /錯誤可授受 N≧ 100, n = 2~5 滿足規(guī)格 是 消除異常原因 檢討機(jī)器設(shè)備等等之問題 ,提升制程能力 ,并重新開始 是 是 分析資料以確認(rèn) 特殊因之變異 設(shè)計和導(dǎo)入改善措施以降低變異 否 是 否 分析資料以確認(rèn) 共同因之變異 設(shè)計和導(dǎo)入改善措施以降低變異 ＊ 必須呈常態(tài)分配 否 否 Quanta Storage Inc.
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