【正文】 記錄并描繪每個子組內(nèi)的不合格數(shù)（ c）﹒ B. 計算控制限 （參見本章第一節(jié) B 部分﹐不同之處如下） ? 計算過程不合格數(shù)均值（ c ）﹔ c c c ck K? ? ? ?1 2 ? 式中﹔ c c1 2, ? 為 k 個子組內(nèi)每個子組的不合格數(shù)﹒ ? 計算控制限（ UCLc 和 LCLc ）﹔ UCL c cc ? ? 3 LCL c cc ? ? 3 C. 過程控制解釋 （ 參見本章第一節(jié) C 部分） D. 過程能力解釋 （ 參見本章第一節(jié) D 部分﹐不同之處如下） 過程能力為 c ﹐即固定容量 n 的樣本的不合格數(shù)平均值 ﹒ S3 40 第四節(jié) 單位產(chǎn)品不合格數(shù)的 u 圖 u 圖用來測量具有容量不同的樣本（受檢材料的量不同）的子組內(nèi)每檢驗單位產(chǎn)品之內(nèi)的不合格數(shù)量﹒除了不合格數(shù)是按每單位產(chǎn)品為基本量表示以外﹐它是與 c 圖相似的﹒ u 圖和 c 圖適用于相同的數(shù)據(jù)情況﹐但如果樣本含有多于一個 “單位產(chǎn)品 ”的量﹐為使報告值更有意義時﹐可以使用 u 圖﹐并且在不同時期內(nèi)樣本容量不同時必須使用 u 圖﹒ u 圖的繪制與 p 圖相似﹐不同之處如下﹔ A. 收集數(shù)據(jù) （參見本章第一節(jié) A 部分﹐不同 之處如下） ? 各子組樣本的容量彼此不必都相同﹐盡管使它的容量保持在其平均值的正負 25％以內(nèi)可以簡化控制限的計算? ? 記錄并描繪每個子組內(nèi)的單位產(chǎn)品不合格數(shù)（ u）﹔ u ? 式中﹔ c 為發(fā)現(xiàn)的不合格數(shù)量﹐ n 為子組中樣本的容量（檢驗報告單位的數(shù)量）﹐ c 和 n 都應記錄在數(shù)據(jù)表中﹒ S3 41 注﹔每個子組的樣本容量 n是按檢驗報告單位來表示的﹐有時報告的單位是一個產(chǎn)品單元﹐如一臺發(fā)動機﹒然而﹐多數(shù)情況下檢驗報告單位不是一個產(chǎn)品單位﹒例如﹐在注明為每 100 個單位產(chǎn)品中不合格的報告中﹐報告單位應為 100 個單位產(chǎn)品﹐而 n 代表檢驗了多少個一百﹒ B. 計算控制限 （參見本章第一節(jié) B 部分﹐不同之處如下） ? 計算每單位產(chǎn)品過程不合格數(shù)的平均值﹔ u c c n nkk? ? ? ?? ? ?1 21 2 ?? 式中﹔ c c1 2, ? 及 n n1 2, ? 為 k 個子組內(nèi)每個子組的不合格數(shù)及樣本容量﹒ 計算控制限（ UCL 和 LCL）﹔ UCL u u n u unu ? ? ? ?3 3 L C L u u n u unu ? ? ? ?3 3 式中﹔ n 為平均 樣本容量﹒ 注﹔如果某些子組的樣本容量與平均樣本容量的差超過正負 25％﹐按下式重新計算其準確的控制限﹔ UCL L C L u u n u unu u, ? ? ? ?3 3 式中﹔ u 為過程均值﹐ n 為特定子組的樣本。 S3 22 ? 設計目標值位于規(guī)范的 中心 . 2. 一般情況下 ,將過程輸出的分布與工程規(guī)范相比 ,看是否始終滿足這些規(guī)范 . 3. 如果不知道分布是否是正態(tài)分布 ,則應進行正態(tài)性檢驗使用諸如審查直方圖 , 在正態(tài)分布紙上描點 . D. 1 計算過程的標準偏差 使用平均極差 R 來估計過程的標準偏差 ?? . 2?? 2 dRdR ?? ?? A. n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 只要過程的極差和均值兩者都處于統(tǒng)計控制狀態(tài) ,則可用估計的過程標準偏差( 2? dR?)來評價過程的能力 . D. 2 計算過程能力 ? 對于單邊容差 ,計算 : 2? dRXUSLZ ? ?? 或2? dRLSLXZ ??? (選擇合適的一個 ) 式中 :SL=規(guī)范界限 ,X =測量的過程均值 , 2?d? =估計的過程標準偏差 . ? 對于雙向容差 ,計 算 : 2? dRUSLXUSLZ ? ?? 2? dRLSLLSLXZ ??? Z ZUSLmin ? 或 ZLSL 的最小值 式中 :USL,LSL=規(guī)范上限和下限 。每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或多個具有完 ? 全不同的過程均值的過程流的測量值 。區(qū)分普通變差和特殊變差 ,采取措施 例如：如果需要管理人員對系統(tǒng)采取措施（如選擇提供一致輸入材料的供方）時卻采取的是局部措施（如調(diào)整機器）就不對。 過程控制系統(tǒng)： 要使系統(tǒng)保持良好的水平或提高過程性能時才有用。統(tǒng)計技術是如何區(qū)分一個問題實質(zhì)是局部的還是涉及到整個系統(tǒng)的？ （第 4 節(jié)） 通常由與過程直接相關的人員實施 新的過程參數(shù)確定后 ,回轉(zhuǎn)至 “分析過程 ” 圖 4 過程改進循環(huán) 第七節(jié) 控制圖 上控制限 程 程 S3 13 中 線 下控制限 分析過程 ? 連續(xù) 7 點上升 (后點等于或大于前點 )或下降 。 ? 數(shù)據(jù)已被編輯 . 如果大大少 于 23 的數(shù)據(jù)點落在過程平均值的附近 (對于 25 個分組的 情況 ,如果有 40%或少于 40%的數(shù)據(jù)落在中間三分之一區(qū)域內(nèi) ),則應調(diào)查 下列情況之一或兩者 : ? 控制限或描點計算錯或描錯 。 ? 單值控制圖不能區(qū)分過程的零件間重復性 ,因此 ,在很多情況下 ,最好還是 使用常規(guī)的子組樣本容量較小 (2 到 4)的 X R? 控制圖 ,盡管在子組間都要 求較長的時間 。 ? 刻度的設置為下列的較大者 (a)產(chǎn)品規(guī)范容差加上允許的超出規(guī)范的 讀數(shù)或 (b)測量值的最大值與最小值之差的 倍到 2 倍 .圖的刻度應 與量具一致 。 ? 測量系統(tǒng)已改變 (飄移﹑偏差﹑靈敏度等 ). c. 明顯的非隨機圖形 各點與過程均值的距離 :一般情況下 ,大約三分之二的描點應落在控制 限三分之一的中間區(qū)域內(nèi) ,大約 13 的點落在其它三分之二的區(qū)域 。 ? 測量系統(tǒng)變化 (例如 ,不同的檢驗員或量具 )。達到統(tǒng)計控制狀態(tài) ? S3 12 由于特殊原因造成的過程分布的改變有些有害，有些有利。 一種在第一步就可以避免生產(chǎn)無用的輸出，從而避免浪費的更有效的方法是 —— 預防 。例如：一個機加工軸的直徑易于受到由于機器（間隙、軸承磨損）、工具（強度、磨損率）、材料（直徑、硬度）、操作人員（進給速率、對中準確度）、維修（潤滑、易損零件的更換）及環(huán)境（溫度、動力供應是否恒定）等原因造成潛在的變差的影響。會出現(xiàn)什么錯誤 ? 過程會有那些變化 ,多大變差 ,那些 使用控制圖 參數(shù)影響變差最大 4. 由于在作出可靠的決定以前 ,只需檢查少量產(chǎn)品 ,因此可以縮短零件生產(chǎn)和采取糾正措施之間的時間間隔 。 ? 測量系統(tǒng)發(fā)生變化 (例如 :不同量具或檢驗員 ). b. 鏈 ――下列每一種情況都表明過程已開始變化或有變化的趨勢 : ? 連續(xù) 7 點在平均值的一側 。 ? 有方便適用的袖珍計算器使 s 的計算能簡單按程序算出 。 ? 產(chǎn)品之規(guī)范值滿足客戶之需求 2. ? 過程固有變差 (普通變差 )――僅由普通原因產(chǎn)生的部分過程變差 .如 Rd2 或 SC4 ? 過程總變差――普通變差 +特殊變差 sniIn XXS ??1 )(12 ???? ?? 3. ? Cpk=min(22 ?3,?3dRdRXUSLLSLX ?? ?? )為穩(wěn)定過程的能 力指數(shù) 。 ? 過程的各測量值服從正態(tài)分布 。 ? 測量系統(tǒng)改變 ,這樣會遮掩過程真實性能的變化 . 注﹔當子組數(shù) (n)變得更小 (5 或更小 )時 ,低于 R 的鏈的可能性增 加 ,則 8 點 或更多點組成的鏈才能表明過程變差減少 . c. 明顯的非隨機圖形 : 各點與 R 的距離 :一般地 ,大約 23 的描點應落在控制限的中間三分之一 S3 19 的區(qū)域內(nèi) ,大約 13 的點落在其外的三分之二的區(qū)域 . 如果顯著多于 23 以上的描點落在離 R 很近之外 (低于 25 個子組 ,如果 超過程 90%的點落在控制限三分之一的區(qū)域 ),則應對下列情況的一種或更 多進行調(diào)查 : ? 控制限或描點已計算錯或描錯 。識別變差的特殊原因并采取措施 幾乎總是要求管理措施，以便糾正 什么是控制圖？如何使用？（第 7 節(jié)） 什么是持續(xù)改進循環(huán)？過程控制對哪一部分起作用？（第 6 節(jié)） 通常用來消除變差的普通原因 根據(jù)過程數(shù)據(jù)計算試驗控制限 ? 測量系統(tǒng)改變 (例如 ,新的檢驗員或量具 ). 低于平均極差的鏈 ,或下降鏈表明存在下列情況之一或全部 : ? 輸出值分布寬度減小 ,這常常是一個好狀態(tài) ,應研究以便推廣應用和 改進過程 。如 果變化是可調(diào)整的 ,則應根據(jù)當前的性能重新計算控制限 . 有關 “控制 ”的最后概念――用于進一步的考慮 過程控制圖的目的不是完美的而是合理﹑經(jīng)濟的控制狀態(tài) .因此 ,在實 踐中 ,一個受控的過程并不是圖上無任何失控之處的過程 .如果一張控制圖 上從來不出現(xiàn)失控點 ,我們將嚴肅地查問該操作是否應畫圖 . 適時地檢查某控制點是否失控是控制圖的優(yōu)點 . D 過程能力解釋 1. 假設下的過程能力的解釋 : ? 過程處于統(tǒng)計穩(wěn)定狀態(tài) 。 ? 過程呈常態(tài)分配 。 ? 使用的子組樣本容量較大 ,更有效的變差量度是合適的 . A. 收集數(shù)據(jù) ? 如果原始數(shù)據(jù)量大 ,常將他們記錄在單獨的數(shù)據(jù)表上 ,只有每組的 X 和 s 出現(xiàn)在圖上 。 ? 7 點連續(xù)上升或下降 . 標注這些促使 人們作出決定的點 。 5. 用計量型數(shù)據(jù) ,可以分析一個過程的性能 ,可以量化所作的改進 ,即使每個單值都在規(guī)范界限之內(nèi) .這一點對尋求持續(xù)改進來說是很重要的 . 計量型控制圖可以通過分 布寬度 (零件間的變異性 )和其位置 (過程的平均值 )來解釋數(shù)據(jù) .由于這個原因 ,計量型數(shù)據(jù)用控制圖應該始終成對準備及分析――一張圖用于位置 ,另一張圖用于分布寬度 .最常用的是 X 圖和 R 圖 . 第一節(jié) 均值和極差圖（ X R 圖） 大 綱 S3 16 收集數(shù)據(jù) 選擇子組大小﹑頻率和數(shù)據(jù) a. 子組大小 b. 子組頻率 c. 子組數(shù)的大小 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) 計算每個子組的均值 (X )和極差 (R) 選擇控制圖的刻度 將均值和極差畫到控制圖上 (初始研究 Initial study) B. 計算控制限 計算平均極差 (R )及過程平均值 X 計算控制限 在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線 C. 過程控制解釋 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點 (首先分析 R 圖 ) a. 超出控制限的點 b. 鏈 c. 明顯的非隨機圖形 識別并標注特殊原因 (極差圖 ) 重新計算控制極限 (極差圖 ) 分 析均值圖上的數(shù)據(jù)點 a. 超出控制限的點 b. 鏈 c. 明顯的非隨機圖形 識別和標注特殊原因 (均值圖 ) 重新計算控制限 (均值圖 ) 為了繼續(xù)進行控制延長控制限 a. 估計過程的標準偏差 (用 ? 表示 ) b. 按照新的子組容量查表得到系數(shù) d2 ﹑ D3 ﹑ D4 和 A2 ,計算新的極差和控制限 有關 ”控制 ”的最后概 念―用于進一步的考慮 .