【正文】 度不低于 1100 ℃，且可自動控制溫度。本部分由XXX、XXX參加起草。本部分適用于氟化鋁中氟、鋁、鈉、硅、鐵、硫、磷含量的測定。 校正試驗隨同試樣分析同類型的標準樣品。元素間的吸收 增強效應用理論a系數(shù)或基本參數(shù)法校正。8 精密度 重復性在重復性條件下獲得的兩次獨立測試結(jié)果的測定值，測定結(jié)果的絕對差值不超過表2所規(guī)定的重復性限（r）要求。次方程式可通過最小二乘法計算。 校正：對于常量元素可選擇測量一個或兩個背景。而且要求規(guī)格：上端內(nèi)徑45mm，下端內(nèi)徑33mm，高25mm。本部分由中國鋁業(yè)股份有限公司鄭州研究院負責起草。測定范圍見表1。 試樣片的制備 混合：稱取熔劑()于瓷坩堝中，轉(zhuǎn)入鉑 金坩堝（）中一部分，稱取試樣于鉑 金坩堝中，與熔劑混合均勻，把剩余的熔劑轉(zhuǎn)入鉑 金坩堝中并覆蓋在上層，加入1滴脫膜劑。 光譜測量（）預熱使其穩(wěn)定，根據(jù)x射線管型號調(diào)節(jié)管電壓和管電流，根據(jù)x射線熒光光譜儀的型號選定工作參數(shù)〔見附錄A〕。表2 重復性組分含量范圍/%重復性限（r）/%組分含量范圍/%重復性限（r）/%F～Fe2O3～Al～SO42～Na～P2O5～SiO2～ 允許差實驗室間分析結(jié)果的差值不大于下表所列允許差。7 分析結(jié)果的計算測量標準樣品的X射線強度，得到強度與濃度的二次方程或一次方程。測量時，只能拿樣片的邊緣，以避免X射線測量面的沾污。若試樣在坩堝中熔融后直接成型，則要求坩堝底面內(nèi)壁平整光滑