【正文】 掃描電路 接收 /放大電路 顯示電路 和各種輔助電路，如延遲、報警、閘門、補償?shù)取? 反之，晶體材料在 交變電場 作用下產(chǎn)生交變應(yīng)力和形變的現(xiàn)象叫 逆壓電效應(yīng) 。 70176。 圖 CSKIB 試塊 1）編號登記管理； 2）使用、運輸中注意保護(hù)； 3）防銹的問題； 4）使用時，清除反射體內(nèi)的油污； 5）妥善保管，防止重壓和火烤，防止變形。 平行移動探頭，同一反射體產(chǎn)生兩個波峰的現(xiàn)象 稱為雙峰 。 ? 分辨力是指在屏幕上 區(qū)分相鄰兩缺陷的能力 。 ? 始波寬度是指在一定的靈敏度下，屏幕上高度超過垂直幅度 20％時的始波延續(xù)長度。 測定探頭的入射點和前沿長度是為了便于對缺陷定位和測定探頭的 K值。 適用的厚度范圍不同 （ 8120mm； 120mm以上） 圖 CSKIB 試塊 （ GB1134589） 焊縫超聲探傷用 216。 斜探頭主要結(jié)構(gòu) 橫波斜探頭與直探頭的主要區(qū)別： 1）多透聲斜楔： 實現(xiàn)波型轉(zhuǎn)換，使工件中只存在折射橫波 特點：縱波聲速小于工件縱波聲速 衰減系數(shù)適當(dāng) 耐磨宜加工 加工吸聲槽，減少反射雜波 2）少保護(hù)膜 晶片不與工件直接接觸 30 176。 顯示的位置反映了缺陷的聲程，波高反映缺陷的當(dāng)量大小。 超聲波在工件中傳播，遇到缺陷或界面產(chǎn)生反射波。 ：保護(hù)晶片不致磨損或損壞。 (1)臺階孔 (2)階梯圓弧 (3)折射角改為 K值 (4)材質(zhì)一般同工件 有機玻璃CSKIA 試塊 圖 CSKIB 試塊 測定儀器的水平線性、垂直線性、動態(tài)范圍 調(diào)節(jié)掃描速度和范圍 測定斜探頭的入射點、折射角（ K值） 調(diào)節(jié)靈敏度 圖 CSKIB 試塊 （中心切槽 /不切槽） 測定儀器的水平線性、垂直線性、動態(tài)范圍 調(diào)節(jié)掃描速度和范圍 測定斜探頭的入射點 調(diào)節(jié)靈敏度 圖 CSKIB 試塊 65 176。 一般不得小于 26dB。 圖 CSKIB 試塊 ? 盲區(qū)是指 規(guī)定的探傷靈敏度下 ，從探測面到能夠發(fā)現(xiàn)缺陷的最小距離。 ? 信噪比是指屏幕上 有用的最小缺陷信號 幅度與無用的噪聲 雜波幅度之比 。 圖 CSKIB 試塊 a)靈敏度一般是指整個探傷系統(tǒng)（儀器和探頭）發(fā)現(xiàn)最小缺陷的能力。 常用耦合劑 (1)水 (2)甘油 (3)機油