核工業(yè)無(wú)損檢測(cè)中心ut-i 講義(三、設(shè)備)-預(yù)覽頁(yè)
【正文】 射超聲波，同時(shí)接收來(lái)自探頭的電信號(hào)并顯示，得到顯示的幅度、位置等信息。 A型脈沖反射式超聲探傷儀框圖 工作原理 ? 同步電路產(chǎn)生同步脈沖，觸發(fā)掃描電路和發(fā)射電路。其被探頭接收，聲能轉(zhuǎn)化為電能輸入接收電路。 。 一般，超聲探頭晶片是利用壓電效應(yīng)工作的。 作用： 1）阻尼晶片振動(dòng)，減小脈沖寬度（持續(xù)振動(dòng)時(shí)間），提高分辨力，減小盲區(qū)。 硬保護(hù)膜 （剛玉）適用于光潔度高的表面（如鍛件表面）； 軟保護(hù)膜適用于光潔度低或表面較軟的工件表面（如軸瓦合金）。 等 45176。 制作成本高，覆蓋深度有限。 如 CSI， CSKIIA (1)平底孔試塊 (2)橫孔試塊 (RB3) (3)槽形試塊（矩形槽， V形槽， U形槽） (4)自然缺陷試塊 (1)鋼管試塊 (2)鋼板試塊 (CBII216。 70 176。 RB1 RB2 RB3 圖 CSKIB 試塊 、對(duì)比試塊的要求 形狀要求：小，輕，宜加工，攜帶，適用； 材質(zhì)要求：均勻，無(wú)雜質(zhì)，無(wú)影響使用的缺陷； 標(biāo)準(zhǔn)試塊具有廣泛的代表性； 對(duì)比試塊材料聲學(xué)特性應(yīng)盡可能與工件一致。 (1)排出空氣 (2)減小摩擦，便于操作 (3)保護(hù)探頭 圖 CSKIB 試塊 (1)潤(rùn)濕工件和探頭表面，流動(dòng)性、粘度和附著力適當(dāng)，不難清洗； (2)聲阻抗高，透聲性好； (3)來(lái)源廣，價(jià)格便宜； (4)對(duì)工件、人體、環(huán)境無(wú)害； (5)性能穩(wěn)定，容易保存。 垂直線性誤差 ≤5% （ JB47302022） 圖 CSKIB 試塊 2)水平線性 儀器水平線性是指儀器屏幕上時(shí)基線顯示的 水平刻度值與實(shí)際聲程之間成正比的程度， 或者說(shuō)是屏幕上多次底波等距離的程度。 圖 CSKIB 試塊 1)斜探頭的入射點(diǎn)和前沿距離 ? 斜探頭的入射點(diǎn)是指其主聲束軸線與探測(cè)面的交點(diǎn)。 （注意測(cè)定斜探頭的 K值或折射角也應(yīng)在近場(chǎng)區(qū)以外進(jìn)行。 圖 CSKIB 試塊 ? 探頭聲束特性 ? 探頭聲束特性是指探頭發(fā)射聲束的擴(kuò)散情況，常用軸線上聲壓下降 6dB時(shí)探頭移動(dòng)距離（即某處的聲束寬度）來(lái)表示。 c)靈敏度余量，又叫儀器與探頭的綜合靈敏度；是指儀器最大輸出時(shí)（ 增益、發(fā)射強(qiáng)度最大，衰減和抑制為 0），使規(guī)定反射體回波達(dá)基準(zhǔn)高所需衰減的衰減總量。 盲區(qū)內(nèi)的缺陷一概不能發(fā)現(xiàn)。 始波寬度大，盲區(qū)大。 直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于 30dB，斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于 6dB。 圖 CSKIB 試塊
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