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【摘要】掃描電子顯微鏡第三章掃描電子顯微鏡1.掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)2.電子束與固體樣品作用時產(chǎn)生的信號3.掃描電鏡的工作原理4.掃描電鏡的構(gòu)造5.掃描電鏡襯度像二次電子像背散射電子像6.掃描電鏡的主要性能7.樣品制備8.應(yīng)用舉例1.掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)l高的分辨率。由于超高真空技術(shù)的發(fā)展，場發(fā)射

2025-01-15 04:39

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【摘要】第三章掃描電子顯微鏡LightvsElectronMicroscope?掃描電子顯微鏡（ScanningElectronMicroscope，簡稱SEM）是繼透射電鏡之后發(fā)展起來的一種電子顯微鏡?掃描電子顯微鏡的成像原理和光學(xué)顯微鏡或透射電子顯微鏡不同，它是以類似電視攝影的方式，利用細(xì)聚焦電子束在樣品表面掃描時激發(fā)出來的各種物理

2025-01-15 04:37

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【摘要】第五章掃描電子顯微鏡和電子探針分析2?掃描電子顯微鏡（ScanningelectronmicroscopeSEM）是以類似電視攝影顯像的方式，通過細(xì)聚焦電子束在樣品表面掃描激發(fā)出的各種物理信號來調(diào)制成像的顯微分析技術(shù)。?SEM在60’s商品化，應(yīng)用范圍很廣；SEM成像原理與TEM完全不同，不用電磁透鏡放大成像；新式SEM的二次電子

2025-05-04 06:57

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