【正文】 收集數(shù)據(jù)並用統(tǒng)計(jì)方法來解釋不是最終目標(biāo) 最終目標(biāo)是對(duì)使用者的過程不斷加深理解 . 研究變差和應(yīng)用統(tǒng)計(jì)知識(shí)來改進(jìn)性能 ,可以是在車間或辦公室 統(tǒng)計(jì)技術(shù)來控制輸出 ,僅是第一步 .產(chǎn)生輸出的過程經(jīng)過努 力后 ,對(duì)改進(jìn)質(zhì)量 ,提高生產(chǎn)率 ,降低成本方能發(fā)揮作用 . 與自己工作場(chǎng)所實(shí)際相聯(lián)系 ,才能真正理解這些知識(shí)的運(yùn)用 . SPC是提供從經(jīng)中得到的法則 ,並不能滿足對(duì)統(tǒng)計(jì)方法和 理論知識(shí)的進(jìn)一步需要。 12 每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同 范 圍 范 圍 范 圍 范 圍 但它們形成一個(gè)棋形 ﹐ 若穩(wěn)定 ﹐ 可以描述為一個(gè)分布 范 圍 范 圍 范 圍 分布可以通過以下圖案來加以區(qū)分 范圍 范圍 范圍 位置 分布寬度 形狀 如果僅存在變差的普通原因 ﹐隨著時(shí)間的推移 ﹐ 過程的輸出形成一個(gè)穩(wěn)定的分布并可預(yù)測(cè) 目標(biāo)值線 預(yù)測(cè) 時(shí)間 范圍 時(shí)間 范圍 目標(biāo)值線 預(yù)測(cè) 如果存在變差的特殊原因 ﹐ 隨著時(shí)間的推移 ﹐過程的輪出不穩(wěn)定 圖 2 變差 ﹕ 普通及特殊原因 13 帶有不同水平的變差的能夠符合規(guī)范的過程 (所有的輸出都在規(guī)范之內(nèi) )。 E級(jí) :對(duì)產(chǎn)品實(shí)施全檢 ,加 以分類 ,並全面檢討所有可能因素必要時(shí)停止生產(chǎn)。10mm,元月份切削狀況為 值。 ○更高的有效能力 ○為討論過程的性能提供共同的語言 22 25 計(jì)量型控制圖 1. R圖均值和極差圖 ◎ 使用控制圖的準(zhǔn)備 ○適用於實(shí)施的環(huán)境 ○定義過程 ○確定待管理的特性 ○確定量測(cè)系統(tǒng) ○使不必要的變差最小 ◎ 收集數(shù)據(jù) 1. ○ 子組大小 ○ 子組頻率 ○ 子組數(shù)的大小 和極差 ◎ 計(jì)算控制限 ,及過程均值 XnxxxX n???? ....21KRRRR k???? ....21Kxxxx k???? ....21最小 值最大 值 XXR ??)(X )(R)(X)(R26 –R圖 。 25次檢驗(yàn)后建立 C管制圖 ,如表中為這 25組樣本 ,一張 C管制圖上所有的缺陷數(shù)都能被解釋原因。 P36 ?收集數(shù)據(jù) (可參照 P圖 P16) O樣本的容量必需相同 O分組周期應(yīng)按生產(chǎn)間隔或反饋系統(tǒng)而定 ?計(jì)算控制制 (參照 P圖 P16) 不同之處為 np 上下控制限 UCLnp LCLnp ?過程控制解釋 (參照 P圖 P17) ?過程能力解釋 (參照 P圖 P17) :不合格數(shù) 一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的不合格的數(shù)量 ,主要應(yīng)用於下列檢驗(yàn) O不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上 ,以及可以用不合格的平均率表示的地方 O在單個(gè)的產(chǎn)品檢驗(yàn)中 ,可能發(fā)現(xiàn)許多不同潛在原因造成的不合格。 CaTxKTKC PK ??????2,6)1( ??????3)(3)())(),(()()1(L S LLC p kU S LuC p kLC p kUC p kM i nC p kCpCaC p k???????﹐或變邊規(guī)格? ?x規(guī)格下限 規(guī)格上限 超過管制 界限的機(jī)率 x?圖 66 Cpk值之意義圖解 母體均數(shù) 24 統(tǒng)計(jì)過程概述 ７ .控制圖 過程控制工具可控制和不可控制的變差 ８ .控制圖的益處 ◎ 控制圖的功能 ○數(shù)據(jù)的收集 ○控制限 :利用數(shù)據(jù)計(jì)算試驗(yàn)控制限 ○分析及改進(jìn) ● 管理措施 ● 對(duì)於調(diào)整過程的變差 ,應(yīng)在顧客滿意和經(jīng)濟(jì)性 兩方面進(jìn)行權(quán)衡 ○更高的質(zhì)量。所以 Ca值越小表示偏離規(guī)格值越集中，準(zhǔn)確度越良好。 C級(jí) :表示尚可 ,但需立即找出對(duì)策 ,加以改善 ,不要使其品質(zhì)惡化。 圖 25 圖 26 11 圖 27說明制程是不在統(tǒng)計(jì)管制狀態(tài)下 ,顯示制程遭受某種變動(dòng) ,而影響其制程的變異以不定的狀態(tài)改變 ,此時(shí)制程被稱為是非管制狀態(tài)。 . 如果測(cè)量系統(tǒng)缺少統(tǒng)計(jì)控制 ,或變差占過程數(shù)據(jù)總變差中很 大比例 ,就可能作出不當(dāng)?shù)臎Q定 。 不能符合規(guī)范的過程 (有超過一側(cè)或兩側(cè)規(guī)范的產(chǎn)品輸出 ) 標(biāo)準(zhǔn)偏差與極差的關(guān)系 (對(duì)于給定的樣本容量 ﹐ 平均極差一越大 ﹐ 標(biāo)準(zhǔn)偏差越大 ) 來自示例 (用均值極差來估計(jì)過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差 ) 范圍 范圍 規(guī)范下限 (LSL) 規(guī)范上限 (USL) 規(guī)范下限 (LSL) 規(guī)范上限 (USL) 范圍 范圍 (LSL) (USL) (LSL) (USL) 范圍 范圍 范圍 (USL) (LSL) 500 900 738 x? 14 ◎ 過程能力指數(shù) 短期 :是以從一個(gè)操作循環(huán)中獲取的測(cè)量為基礎(chǔ)的。 【 例題 】 某一射出成型廠 ,其產(chǎn)品厚度規(guī)格為 30177。 求此三 個(gè)月的 三月份切削狀 況為二月份切削狀 況為Ca mmmm mm X, 6 5 . 850。 ◎ 過程控制解釋 識(shí)別過程變化性的任何證據(jù)或過程均值沒有處於恆定的水平 11超出控制限的點(diǎn)。 車號(hào) 缺點(diǎn)數(shù) 車號(hào) 缺點(diǎn)數(shù) 車號(hào) 缺點(diǎn)數(shù) 1 1 10 1 19 4 2 0 11 1 20 6 3 4 12 0 21 3 4 3 13 8 22 1 5 1 14 0 23 0 6 2 15 2 24 2 7 5 16 1 25 4 8 0 17 3 9 2 18 5 39 解 C管制圖的中心線和上、下界限的計(jì)算方法 ,如下 : 管制圖如下圖所示 : 樣本 13超出管制上限 ,假設(shè)可找出其異常原因 ,故將該點(diǎn)刪掉 ?????KcCkii03????????CCL C LCCU C LCCL缺點(diǎn)數(shù)管制圖 8 7 6 5 4 3 2 1 0 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23 25