【正文】
A1,D2,G2繼續(xù)第二階段實驗 ,以便找出最佳操作條件 九、第二階段實驗配置 實驗因子與水平 因子代號 水平一 水平二 水平三 交互作用 A A11 A12 A13 D D21 D22 D23 G G21 G22 G23 點線圖 十、第二階段實驗數(shù)據(jù) P/N: 24001411(負(fù)片法 ) 1 2 3 4 5 6 7 8 9 Over hang 5 2 7 3 3 1 3.31 Solder dam 2 1 8 6 0 0 3.19 S/M 厚度 0 0 0 5 0 0 1.30 十一、第二階段實驗解析 Over hang 之 ANOVA FACTOR Si DF V F % D 2 A 2 G 2 e 2 St= t = Solder dam 之 ANOVA FACTOR Si DF V F % G 2 D 2 A 2 e 2 St= t= FACTOR Si DF V F % A 2 D 2 G 2 e 2 St= t= 從第二階段實驗解析發(fā)現(xiàn) , 在考慮 Over hang , Solder dam 與 S/M 厚度 等三個質(zhì)量特性中發(fā)現(xiàn) A、 D、 G三個因子水平變化皆 不顯著 , 表示第二階段實驗因子之各水平皆適用 十二、再現(xiàn)性確認(rèn) : 依實驗所得的最佳操作條件進(jìn)行再現(xiàn)性確認(rèn) 以再現(xiàn)性與第二階段實驗數(shù)據(jù)做 Two sample analysis 測試正片法料號亦適用此最佳操作條件 小量產(chǎn)一批做 Process capability analysis : P/N: 24001411 D/C: 9821 (負(fù)片法 ) P/N: 24000841 D/C: 9821 (正片法