【正文】 822 數(shù)據(jù)的收集（基本和 p 圖相同） 8221 受檢驗的樣本的容量必須相同，樣本容量足夠大使每個子組 內(nèi)都有幾個不良品并在。 ） 813 過程控制用控制圖解釋： 8131 分析數(shù)據(jù)點，找出不穩(wěn)定的證據(jù)（一個受控的 P管制圖 中，落在均值兩側(cè)的點的數(shù)量將幾乎相等） 。 分組頻率： 根據(jù)實際情況，兼大容量和信息反饋快的要求。 12 53 描點 13 操作者將每個單值的點標在中位數(shù)圖上。 n – 1 式中： Xi， X； N 分別代表單值、均值和樣本容量。方法如下： b 1 估計過程的標準偏差（用 σ? 表示），用 現(xiàn)有的 子組容 量計算： σ? = R/d2 式中 R為子組極差的均值（在極差受控期間）， d2 為隨樣本 容量變化的常數(shù)，如下表： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 b –2 按照 新的 子組容量查表得到系數(shù) d2 、 D D4 和 A2，計算新 的極差和控制限： R新 = σ? d2 UCLR= D4 R新 LCLR = D3 R新 UCLX = X+ A2 R新 LCLX = X– A2 R新 將這些控制限畫在控制圖上。而是排除受已知的特殊原因影響的點。 注 2： 標注這些使人們作出決定的點，并從該點做一條參考線延伸 到鏈的開始點，分析時應考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時間 。 13 計算公式： 14 UCLx=X+ A2R UCLR=D4R 15 LCLx=X A2R LCLR=D3R 16 接上頁 注： 式中 A2,D3,D4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。 11 選擇子組大小，頻率和數(shù)據(jù) 111 子組大小 ：一般為 5件連續(xù)的產(chǎn)品，僅代表單一刀具 /沖頭 /過程 流等。 制程控制系統(tǒng) 有反饋的過程控制系統(tǒng)模型 過程的呼聲 人 設(shè)備 材料 方法 產(chǎn)品或 環(huán)境 服務 輸入 過程 /系統(tǒng) 輸出 顧客的呼聲 我們工作的方式 /資源的融合 統(tǒng)計方法 顧客 識別不斷變化的需求量和期望 變差的普通原因和特殊原因 普通原因： 是指過程在受控的狀態(tài)下，出現(xiàn)的具有穩(wěn)定的且可重 復的分布過程的變差的原因。 ? 為制程分析提供依據(jù)。 單值（ Individual） 一個單個的單位產(chǎn)品或一個特性的 一次測量 ，通常用符號 X 表示。 每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同 范圍 范圍 范圍 范圍 但它們形成一個模型 ， 若穩(wěn)定 ， 可以描述為一個分布 范圍 范圍 范圍 分布可以通過以下因素來加以區(qū)分 位置 分布寬度 形狀 或這些因素的組合 如果僅存在變差的普通原因， 目標值線 隨著時間的推移，過程的輸 出形成一個穩(wěn)定的分布并可 預測。一般為 25組，首次使 用管制圖選用 35 組數(shù)據(jù)，以便調(diào)整。 ? 對各條線標上記號（ UCLR ， LCLR ， UCLX ， LCLX） ? 注：在初始研究階段，應注明試驗控制限。 c3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（極差和均值相差太遠的幾個子組更改刪除）。 不受控制的過程的均值（長的上升鏈） 不受控制的過程的均值（出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長鏈） UCL X LCL UCL X LCL 343 明顯的非隨機圖形 a 非隨機圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點的分布在整個 控制限內(nèi) ， 或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等 。 422 對于雙向容差，計算： Zusl=(USLX) / σ Zlsl=(XLSL) / σ Z=Min{ Zusl。見下表： 當需要計算過程能力時；將 σ 帶入 XR圖 42的公式即可。 11 移動圖的三中用法： a 單值 b 移動組 c 固定子組 數(shù)據(jù)收集 （ 基本同 XR ） 21 在數(shù)據(jù)圖上 ， 從左到右記錄單值的讀數(shù) 。 8114 將不合格品率描繪在控制圖上 a 描點 ， 連成線來發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢 。 測量系統(tǒng)已改變或過程性能已改進。 832 數(shù)據(jù)的收據(jù) 8321 檢驗樣本的容量（零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長度 等）要求相同，這樣描繪的 C值將反映質(zhì)量性能的變化而 不是外觀的變化，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本容量。 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（明顯偏離均值的值已被調(diào)換或刪除） d 如果顯著少余 2/3以上的描點落在離均值很近之處（對于 25 子組，如果只有 40%的點落在控制限的 1/3區(qū)域）則應對下列 情況的一種或更多進行調(diào)查： 控制限或描點計算錯描錯 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個 不同平均性能的過程流的測量 8132 尋找并糾正特殊原因 當有任何變差時，應立即進行分析，以便識別條件并防止 再發(fā)生，由于控圖發(fā)現(xiàn)的變差一般是由特殊原因引起的， 希望操作者和檢驗員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。 B、 分別找出樣本容量超出該范圍的所有子組和沒有超出該范圍 的子組。見下表： 4 過程控制解釋（同其他計量型管制圖） 5 5 過程能力解釋 δ= R / d2 = δ R / d2 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 7 8 1 0 2 6 2 8 D3 * * * * * 8 4 8 2 E2 7 6 9 8 1 5 1 8 樣本容量小于 7時，沒有極差的控制下限。 3 過程控制分析（同 XR） 4 31 凡是超出控制限的點，連成鏈或形成某種趨勢的都必須進行特 5 殊原因的分析，采取適當?shù)拇胧?。 1≤Cpk≤,說明制程能力可以 ， 但需改善 。 UCL X LCL UCL X LCL 均值失控的過程（點離過程均值太近） 均值失控的過程（點離控制限太近） 35 識別并標注所有特殊原因（均值圖） a 對于均值數(shù)據(jù)內(nèi)每一個顯示處于失控狀態(tài)的條件進行一次過 程操作分析，從而確定產(chǎn)生特殊原因的理由，糾正該狀態(tài)， 防止再發(fā)生。 33 重新計算控制限（極差圖） a 在進行首次過程研究或重新評定過程能力時，失控的原因已 被識別和消除或制度化，然后應重新計算控制限，以排除失控 時期的影響，排除所有已被識別并解決或固定下來的特殊原因 影響的子組，然后重新計算新的平均極差 R和控制限，并畫下來， 使所有點均處于受控狀態(tài)。 b 超出極差上控制限的點通常說明存在下列情況中的一種或幾種： 控制限計算錯誤或描點時描錯 零件間的變化性或分布的寬度已增大 (即變壞 ） 測量系統(tǒng)變化 （ 如：不同的檢驗員或量具 ） c 有一點位于控制限之下 ， 說明存在下列情況的一種或多種 控制限或描點時描錯 分布的寬度變小 （ 變好 ） 測量系統(tǒng)已改變（包括數(shù)據(jù)編輯或變換） 不受控制的過程的極差（有超過控制限的點） UCL LCL UCL LCL R R 受控制的過程的極差 312 鏈 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢： ? 連續(xù) 7點在平均值一側(cè)； ? 連續(xù) 7點連續(xù)上升或下降； a 高于平均極差的鏈或上升鏈說明存在下列情況之一或全部： a1 輸出值的分布寬度增加 ， 原因可能是無規(guī)律的 （ 例如：設(shè)備工作不正?；蚬潭ㄋ蓜?） 或是由于過程中的某要素變化 （ 如使用新 的不一致的原材料 ） ， 這些問題都是常見的問題 ， 需要糾正 。 52 確保所畫的 X 和 R點在縱向是對應的。 確定待控制的特性 應考慮到： 顧客的需求 當前及潛在的問題區(qū)域 特性間的相互關(guān)系 確定測量系統(tǒng) a 規(guī)定檢測的人員、環(huán)境、方法、數(shù)量、頻率、設(shè)備或量具。 特殊原因 （ Special Cause） 一種間斷性的，不可預計的，不穩(wěn)定的變差根源。spc SPC(Statistical Process Control) 統(tǒng)計制程管制 目錄 ? 1 SPC的產(chǎn)生 ? 2 SPC的作用 ? 3 SPC常用術(shù)語解釋 ? 4 持續(xù)改進及統(tǒng)計過程控制概述 ? a 制程控制系統(tǒng) ? b 變差的普通及特殊原因 ? c 局部措施和對系統(tǒng)采取措施 ? d 過程控制和過程能力 ? e 過程改進循環(huán)及過程控制 ? f 控制圖 ? 5 管制圖的類型 ? 6 管制圖的選擇方法 ? 7 計量型數(shù)據(jù)管制圖 ? a 與過程有關(guān)的控制圖 ? b 使用控制圖的準備 ? c XR 圖 ? d