【正文】 除了缺陷量是按每單位產(chǎn)品為基本量表示以外，它是與 c圖相似的。這些連續(xù)的受控的時(shí)期子組的 p值是該過程當(dāng)前的最好的估計(jì)值。然糾正該原因并盡可能防止其再發(fā)生。UCLCLLCLＤ過程能力解釋D1計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差D2計(jì)算過程能力D3評價(jià)過程能力D4提高過程能力D5對修改的過程繪制控制圖並分析建立 XR圖的步驟 D制程 準(zhǔn)確度反映制程中心與規(guī)格中心偏離的狀況。并且研究采取防止此項(xiàng)原因重復(fù)發(fā)生之措施。注意：在根據(jù)多種檢查項(xiàng)目總合起來確定不合格品率的情況,當(dāng)控制圖顯示異常后難以找出異常的原因。只靠這種控制圖，有時(shí)無法尋求不良的真正原因，而不能及時(shí)采取措施，延誤時(shí)機(jī)。使用不合格原料216。管制界限：應(yīng)用于一群單位產(chǎn)品量度，這種量度是從一群中各個(gè)單位產(chǎn)品所得之觀測值所計(jì)算出來的。3?控制方式下的穩(wěn)態(tài)不合格品率為 X 103, 6?控制方式下的穩(wěn)態(tài)不合格品率為 X 109后者比前者降低了： X 103 / X 109= X106 即一百三十五萬倍 !The contrast of two diagrams3?控制方式與 6?控制方式的比較：Base knowledge基礎(chǔ)知識(shí)正態(tài)分布 (Normal Distribution) 當(dāng)抽取的數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)趨于無窮大而區(qū)間寬度趨向于 0時(shí)，外形輪廓的折線就趨向于光滑的曲線，即：概率密度曲線 。SPC的作用預(yù)防： 判斷過程的異常，及時(shí)告警。– 它們之間是互相獨(dú)立。如果抽到這樣的產(chǎn)品進(jìn)行檢測并在控制圖中描點(diǎn) ,這時(shí)根據(jù)點(diǎn)子未出界判斷生產(chǎn)正常就犯了漏發(fā)警報(bào)錯(cuò)誤 ,發(fā)生這種錯(cuò)誤的概率通常記以 β, 制程的組成以及其波動(dòng)的原因波動(dòng)原因人機(jī)器材料方法測量環(huán)境引起 變 異 的原因The reason to cause variance普通原因 ： 是造成 隨著時(shí)間推移具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布過程中的許多變差的原因 ，我們稱之為： “處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài) ”、 “受統(tǒng)計(jì)控制 ”，或有時(shí)簡稱 “受控 ”，普通原因表現(xiàn)為一個(gè)穩(wěn)定系統(tǒng)的偶然原因。 COMMON CAUSE需各個(gè)部門共同解決， SPECAIL需現(xiàn)場制程n局部措施局部措施216。個(gè)別值與移動(dòng)全距控制圖 XRmu計(jì)數(shù)值控制圖216。 Pn圖用于 樣本大小相同的場合 cchart and uchart? C控制圖 。錯(cuò)誤的分組方式以及其后果? 如此的取樣方式會(huì)造成無法有效區(qū)別組內(nèi)變異和組間變異，造成控制界限變寬，無法有效偵測制造變異 。進(jìn)入 Xs 圖?A收集數(shù)據(jù)：在計(jì)算各個(gè)子組的平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差其公式分別如下：?B計(jì)算控制限計(jì)量型控制圖事例完畢 ,進(jìn)入記數(shù)型控制圖 不良和缺陷的說明結(jié)果舉例 控制圖車輛不泄漏／泄漏 P圖NP圖燈亮／不亮孔的直徑尺寸太小或太大給銷售商發(fā)的貨正確／不正確風(fēng)窗玻璃上的氣泡 C圖U圖門上油漆缺陷發(fā)票上的錯(cuò)誤P控制圖的制做流程A收集數(shù)據(jù)B計(jì)算控制限C過程控制解釋D過程能力解釋建立 p圖的步驟 AＡ階段收集數(shù)據(jù) A1選擇子組的容量、頻率及數(shù)量子組容量分組頻率子組數(shù)量A2計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率A3選擇控製圖的坐標(biāo)刻度A4將不合格品率描繪在控制圖A1子組容量、頻率、數(shù)量? 子組容量：用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖一般 要求較大的子組容量 (例如 50~200)以便檢驗(yàn)出性能的變化，一般希望每組內(nèi)能包括幾個(gè)不合格品，但樣本數(shù)如果太大也會(huì)有不利之處。?系統(tǒng)原因，需多部門協(xié)同解決。? 可以使用諸如 排列圖分析法及因果分析圖 等解決問題技術(shù)。取樣時(shí)間：批量生產(chǎn)后，至少25天以上。樣本容量應(yīng)足夠大使每個(gè)子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個(gè)不合格品，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量。，但未在 1倍標(biāo)準(zhǔn)差內(nèi)?系統(tǒng)原因，制程不是很好，有一定差異。? 當(dāng)點(diǎn)描完后，粗覽一遍看看它們是否合理， 如果任意一點(diǎn)比別的高出或低出許多，檢查計(jì)算是否正確。點(diǎn)出現(xiàn)在 3標(biāo)準(zhǔn)差以外（管制界限）的幾率 216?！皀”=10~25控制圖的選定資料性質(zhì)不良數(shù)或缺陷數(shù)單位大小是否一定“n”是否一定樣本大小n≧ 2Cl的性質(zhì)“n”是否較大“u”圖“c”圖“np”圖“p”圖XRm圖XR圖XR圖Xs圖計(jì)數(shù)值計(jì)量值“n”=1n≧ 1中位數(shù)平均值“n”=2~5缺陷數(shù)不良數(shù)不一定 一定一定不一定控制圖的選擇What is the next to?SolarisOracle HPUXOracle 8iTRU64Oracle 9i開始具體制作控制圖繪制流程搜集數(shù)據(jù)繪 分析 用控制圖是否穩(wěn)定繪直方圖是否滿足規(guī)格控制用控制圖尋找異常原因檢討機(jī)械、設(shè)備提升制程能力NYYN分 析用控制圖216。對于計(jì)量型數(shù)據(jù)而言 ,這是最常用最基本的控制圖。大約可糾正 85%的過程問題局部措施、系統(tǒng)措施示意圖解決普通原因的系統(tǒng)措施解決異常原因的局部措施解決異常原因的局部措施UCLLCL計(jì)量型與計(jì)數(shù)型控制圖比較p計(jì)量型216。合格原料的微小變化216。 ? 3?， 181。更高的 效率216。更低的單件成本216。 落在 [181。SPECIALCOMMON普通原因與特殊原因舉例