【正文】 案例的 P 控制圖可以匯總?cè)缦拢? ? 控制下限和控制上限大約分別為 0 和 。 ? 不受控 過程顯示每個樣本中缺陷部分的非隨機變異，這可能是因存在特殊原因 所致。應(yīng)當(dāng)對這些點進行調(diào)查分析。而且，在這些限制內(nèi)的點顯示隨機 模式。 ，如下圖： 當(dāng)圖形異常時，會話框會提示是哪類異常，是哪幾個點，詳細(xì)的解釋請參考具體繪圖時會話框的內(nèi)容。 3. 使用 SPC前未作充分準(zhǔn)備。 過程控制解釋和過程能力解釋 同 p管制圖 不合格（缺陷）數(shù)的 c 圖 采用時機 C圖用來測量一個檢驗批內(nèi)的不合格（的缺陷）的數(shù)量， C圖 要求樣本的容量恒定或受檢驗材料的數(shù)量恒定，主要用于以下兩 類檢驗： 不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上（如：每條尼龍上的瑕疵，玻 璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點），以及可以用不合格的平均比率表示 的地方（如 100平方米上的缺陷） 在單個的產(chǎn)品檢驗中可能發(fā)現(xiàn)不同原因造成的不合格。 低于控制限之下的點，說明存在下列情況的一種或多種： 控制限或描點時描錯。一般為 25組。計算過程能力是否 符合要求。 ? 4. 不應(yīng)與運行圖或預(yù)控制圖混淆。 目的：若一群數(shù)據(jù)差異量大，則平均數(shù)代表性小，反之則大，因此為了了解一群數(shù)據(jù)之特性，除了計算平均數(shù)外，還必須計算差異量數(shù)的大小。 抽樣：是指從總體中隨機 抽取樣品組成樣本 的活動過程。 統(tǒng)計分析的基本概念 無 限 總 體 有 限 總 體 工序 一批 產(chǎn)品 一批 半成品 樣本 數(shù)據(jù) 樣本 數(shù)據(jù) 判斷 判斷 目的 總體 樣本 數(shù)據(jù) 對工序進行分析 控制 對一批產(chǎn)品質(zhì)量進 行判斷，確定是否 合格 數(shù)據(jù)、樣本和總體的關(guān)系 某種成品零件分裝在 20個零件箱裝，每箱各裝 50個，總共是 1000個。 種類： 極差 、標(biāo)準(zhǔn)差 案例說明： （ Range）－ R:度量 樣本數(shù)據(jù)分散范圍的量 , 公式： R=XmaxXmin(樣本或總體中的最大值減最小值 )。 ? 運用控制圖的目的之一就是，通過觀察控制圖上產(chǎn)品質(zhì)量特性值的分布狀況，分析和判斷生產(chǎn)過程是否發(fā)生了異常，一旦發(fā)現(xiàn)異常就要及時采取必要的措施加以消除，使生產(chǎn)過程恢復(fù)穩(wěn)定狀態(tài)。 ? 控制圖是受控的。 計算每個子組內(nèi)的不合格品率（ P） P=np /n n為每組檢驗的產(chǎn)品的數(shù)量； np為每組發(fā)現(xiàn)的不良品的數(shù)量。 測量系統(tǒng)已改變或過程性能已改進。 數(shù)據(jù)的收據(jù) 檢驗樣本的容量（零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長度等）要求相同，這樣描繪的 C值將反映質(zhì)量性能的變化而不是外觀的變化，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本容量。 例如：制程及管制特性之確定，決定量測方法，數(shù) 據(jù)如何收集等。 R 控制圖可評估過程變異 是否受控制 。 這個 R 控制圖沒有提供任何缺乏控制的證據(jù)。 R 控制圖必須受控，然后您才能解釋 XBar 控制圖。 缺陷是其中不一致（或缺陷）導(dǎo)致產(chǎn)品或服務(wù)不可用的產(chǎn)品或服務(wù)。 缺陷品的比率預(yù)期落于控制限制范圍內(nèi)。應(yīng)當(dāng)對這些點進行調(diào)查分析。 ? 受控 過程僅顯示每個樣本缺陷部分中的隨機 變異。未通過檢驗的點表明數(shù)據(jù)中存在可能因 特殊原因變異 而導(dǎo)致的非隨機模式。 ? 沒有一個子組極差在控制限制范圍外。 當(dāng)量產(chǎn)時控制上下限用試產(chǎn)時的管制上下限管制時，點“參數(shù)”選項，填寫試產(chǎn)時的均值與標(biāo)準(zhǔn)差，這樣做的目的是不讓在量產(chǎn)時的管制上下限隨量產(chǎn)抽樣數(shù)據(jù)的改變而改變。 2. 管制計畫不實際，無法落實。 計算上下控制限 p 為過程不良品率 , n 為子組的樣本容量。 過程惡化。 子組數(shù)量：收集的時間足夠長，使得可以找到所有可能影響 過程的變差源。 2. 每一張控制圖上的 控制界限都是由該圖 上的數(shù)據(jù)計算出來 。 ? 3. 控制圖不是高效的比較分析工具。 離散趨勢指標(biāo)。 （樣本大?。簶颖局兴臉悠窋?shù)目，常用 n表示。如果想從中取 100個零件作為樣本進行測試研究。 (): 樣本數(shù)據(jù)離散程度的統(tǒng)計量 ,利用 每個樣本數(shù)據(jù)偏離其中心位置的大小來表示離散程度 ,較精確。也可以應(yīng)用控制圖來使生產(chǎn)過程達(dá)到統(tǒng)計控制的狀態(tài)。 ? 過程能力能夠滿足生 產(chǎn)要求。 選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 一般不良品率為縱坐標(biāo)，子組別（小時 /天）作為橫坐標(biāo) ,縱坐標(biāo)的刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀讀數(shù)中最大的不合格率值的 2倍。 鏈 a 出現(xiàn)高于均值的長鏈或上升鏈（ 7點），通常表明存在下列 情況之一或兩者。 記錄并描繪每個子組內(nèi)的不合格數(shù)（ C）。 4. 欠缺統(tǒng)計技術(shù)。 R 控制圖包括下列各項： ? 標(biāo)繪點，表示子組極差。因此，過程變異受控制，且適于檢查 XBAR 控制圖以確定過程中心是否受控。如果 R 控制圖不受控，則 XBar控制圖的控制限制將不準(zhǔn)確，而且可能錯誤地表示 XBar控制圖的不受控狀態(tài)。缺陷的示例包括破裂的燈泡、延期交付、未接來電和熔斷的保險絲。中心線（缺陷品的平均比率）為 。未通過檢驗的點表明數(shù)據(jù)中存在可能因特殊原因變異 而導(dǎo)致的異常值或非隨機模式。 ，如下圖： 當(dāng)圖形異常時，會話框會提示是哪類異常，是哪幾個點，詳細(xì)的解釋請參考具體繪圖時會話框的內(nèi)容 使用 P 控制圖研究每個樣本中缺陷 的比率，并確定過程是否受控。在會話窗口中可顯示完整結(jié)果。中心線（過程變異的估計值）為 。 “統(tǒng)計” → “控制圖 ” →“ 子組的變量控制圖” → “ XbarR”，如下圖： “ XbarR”點擊后，將對應(yīng)的選擇項選擇到對應(yīng)的欄位中，如下圖： “ XbarR選項”