質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)(專業(yè)版)
【正文】 Westgard多規(guī)則質(zhì)控方法 ? 是在 LJ方法基礎(chǔ)上發(fā)展起來的 ? 通過單值質(zhì)控圖進(jìn)行簡(jiǎn)單的數(shù)據(jù)分析和顯示 ? 具有低的假失控或假報(bào)警概率 ? 當(dāng)失控時(shí)，能確定產(chǎn)生失控的分析誤差的類型 ? 有六個(gè)質(zhì)控規(guī)則， 12s/ 13s /22s /R4s/ 41s/ 10X ? 以 12s警告規(guī)則啟動(dòng)其他規(guī)則 質(zhì)控?cái)?shù)據(jù) 12s 13s 22s R4s 41s 10X 否 否 否 否 否 是 是 是 是 是 是 否 在日常使用時(shí)，需注意的是： 12s為警告規(guī)則，不是失控規(guī)則。 為了減少隨機(jī)誤差的影響 ,在實(shí)際測(cè)量條件中常常對(duì)一個(gè)量進(jìn)行 多次重復(fù)測(cè)量 以提高測(cè)量的精密度和再現(xiàn)性 . 系統(tǒng)誤差 定義 : 在指定測(cè)量條件下，多次測(cè)量同一量時(shí)，如果測(cè)量誤差的絕對(duì)值和符號(hào)總是保持恒定，使測(cè)量結(jié)果永遠(yuǎn)朝一個(gè)方向偏，那么這種測(cè)量誤差稱為系統(tǒng)誤差 系統(tǒng)誤差的產(chǎn)生 與下列因素有關(guān) : 儀器裝置本身的精確度有限 儀器使用時(shí)的環(huán)境因素 測(cè)量方法的限制 所用化學(xué)試劑純度不符合要求 測(cè)量者個(gè)人的習(xí)慣性誤差 過失誤差 定義： 由于實(shí)驗(yàn)者的粗心 ,如標(biāo)度看錯(cuò) ,記錄寫錯(cuò) ,計(jì)算錯(cuò)誤所引起的誤差 ,稱為過失誤差 . 精密度 定義： 在一定條件下進(jìn)行多次測(cè)定時(shí)，所得測(cè)定結(jié)果之間的符合程度 以不精密度表達(dá)，有標(biāo)準(zhǔn)差表示 精密度評(píng)價(jià)：平行試驗(yàn)和重復(fù)性試驗(yàn) 準(zhǔn)確度 定義： 測(cè)量結(jié)果中系統(tǒng)誤差與隨機(jī)誤差的綜合，表示測(cè)量結(jié)果與真值的一致程度 以不準(zhǔn)確度來衡量 準(zhǔn)確度評(píng)價(jià)：回收實(shí)驗(yàn)，干擾試驗(yàn) 總誤差（ TE） ? 定義 ：測(cè)定結(jié)果與真值的差異是隨機(jī)誤差和系統(tǒng)誤差的總和 ? 允許總誤差 分析靈敏度 (檢測(cè)限 ) ? 定義 : 可檢測(cè)的最低分析物濃度為檢測(cè)系統(tǒng)的分析靈敏度或稱檢測(cè)限 . 基質(zhì)效應(yīng) （ 1）基質(zhì)：分析樣品中，除了分析物以外的所有其他物質(zhì)和組分稱為該分析物的基質(zhì) （ 2）基質(zhì)效應(yīng)：檢測(cè)系統(tǒng)檢測(cè)標(biāo)本中的分析物時(shí)，處于分析物周圍的所有非分析物對(duì)分析物參與反應(yīng)的影響 ? 正態(tài)曲線下面積有一定的規(guī)律， u +1σ的面積占總面積的 A、 % B、 % C、 D、 ? 正態(tài)曲線下面積有一定的規(guī)律， u +2σ的面積占總面積的 A、 % B、 % C、 % D、 % ? 正態(tài)曲線下面積有一定的規(guī)律 , u +3σ的面積占總面積的 A、 % B、 % C、 % D、 % ? 正態(tài)分布的兩個(gè)參數(shù)是 : A 、 均數(shù) u和標(biāo)準(zhǔn)差 σ B、均數(shù) X和標(biāo)準(zhǔn)差 s C、 標(biāo)準(zhǔn)差和方差
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