【正文】 由于該累積和是從20號(hào)樣本開始，因此20號(hào)樣本可能是過程均值增大的起始點(diǎn)。％，故令p＝%,確定p時(shí)，應(yīng)使p∕p的值不致于過小，根據(jù)過去的生產(chǎn)所能達(dá)到的較好水平，取p＝%。由于累積和控制圖與序貫概率比檢驗(yàn)有著緊密的聯(lián)系，當(dāng)隨機(jī)變量x服從正態(tài)分布、二項(xiàng)分布、幾何分布、指數(shù)分布、泊松分布時(shí)，基于序貫概率比檢驗(yàn)下，累積和控制圖參數(shù)k和h的選取方法各不相同。如果一個(gè)時(shí)間序列的獨(dú)立樣本觀測(cè)值X，X，…，X，服從方差為σ (均值未知)的正態(tài)分布，那么上式可以由以下式表示: ①其中Δ=μμ，是兩個(gè)假定的均值之差或過程均值偏離μ的程度,S是對(duì)樣本數(shù)據(jù)偏差的累積和 S=則式①確定了上下控制線。Thomas ， Luceno amp。若有異常波動(dòng),則認(rèn)為過程失控,這時(shí)就需要查找原因,采取適當(dāng)行動(dòng)及時(shí)糾正,使過程恢復(fù)到受控狀態(tài)。因此，本文將通過對(duì)河北省河間市恒泰壓鑄件廠生產(chǎn)的鑄件數(shù)據(jù)分別應(yīng)用休哈特控制圖分析和累積和控制圖來判斷生產(chǎn)過程質(zhì)量特性值是否受控, 從而表明累計(jì)和控制圖對(duì)過程異常有更高的靈敏度，從而顯示出它的優(yōu)越性。但是在實(shí)際應(yīng)用中前者比后者要普及得多。自從1954年P(guān)age提出應(yīng)用累積和控制圖監(jiān)控工業(yè)過程以后,累積和控制圖在國(guó)際上出現(xiàn)了一股研究熱潮。A. wald曾證明，令 A= B= ≥A，接受H。在控制圖中，僅僅向外擴(kuò)張的上下控制線可以用于檢測(cè)對(duì)均值的偏離.圖一 雙側(cè)檢驗(yàn)的累積和控制圖 圖二 連續(xù)取樣區(qū)間:（1）累積和控制圖充分利用所有樣本信息，對(duì)過程平均水平變化反映靈敏。GB488785中有兩種常用的L與L的值，一是L≈1000，L≈10，二是L≈200，L≈5。此檢驗(yàn)查找一長(zhǎng)串連續(xù)的點(diǎn)，這些點(diǎn)方向不變。參考文獻(xiàn)周紀(jì)薌. 茆詩(shī)松. 質(zhì)量管理統(tǒng)計(jì)方法[M] . 北京:中國(guó)統(tǒng)計(jì)出版社,1999. ，1998，17孫靜、1998，孟祥新、2000，2001，17(Cusum)，2003，26，2004王前洪、2006，(2)薛麗. 累積和控制圖參數(shù)選取方法. 碩士學(xué)位論文. [M] .經(jīng)濟(jì)管理出版社,1999.張維銘 ．統(tǒng)計(jì)質(zhì)量控制理論與應(yīng)用[M] ．浙江大學(xué)出版社,1992. 王毓芳, 郝鳳,張世榮,等．過程控制與統(tǒng)計(jì)技術(shù)[M] ．中國(guó)計(jì)量出版社,2001. 孫 靜 ．GBT40912001常規(guī)控制圖理解與實(shí)施[M] ．中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社,2002 .[J] .電子標(biāo)準(zhǔn)化與質(zhì)量,2000(4).王前洪，Page E S. Continuous inspection schemes[J](4)Lucus J R initial response for CUSUM quality control shemes:give your CUSUM a head start[J]Techonometrics 16 / 16。 檢驗(yàn) 3 連續(xù) 6 個(gè)點(diǎn)，全部遞增或全部遞減。當(dāng)過程處于極限質(zhì)量水平p時(shí)表示過程已到失控狀態(tài)，應(yīng)該發(fā)出警報(bào)，用L表示失控過程的平均鏈長(zhǎng)，即平均抽取L個(gè)樣本就發(fā)一次警報(bào)，而不發(fā)警報(bào)相當(dāng)于犯第二類錯(cuò)誤。雙側(cè)檢驗(yàn)的累積和控制圖的不同序貫概率比的可接受區(qū)間一般的連續(xù)抽樣的累積和控制圖模型如圖二所示，圖中有三個(gè)判斷區(qū)域來接受相應(yīng)的假設(shè):H:，H:(＞)，H:(＜)，如陰影部分表示。遠(yuǎn)小于1，H成立可能性大。設(shè)樣本不合格品率為p，則從數(shù)理統(tǒng)計(jì)知 μ＝p σ＝ 中心線CL 上控制界限 UCL +3下控制界限LCL －3三、累積和控制圖（一）累積和控制圖的發(fā)展及使用條件累積和控制圖（簡(jiǎn)稱CUSUM控制圖）理論基礎(chǔ)是序貫分析原理中的序貫概率比檢(Sequential Probability Ratio Test)，是一種基本的序貫檢驗(yàn)法。累積和控制圖是英國(guó)人佩基在序貫分析的基礎(chǔ)上提出，其理論在后來的學(xué)者的研究下逐步完善成熟。統(tǒng)計(jì)技術(shù)作為發(fā)現(xiàn)問題、解決問題及質(zhì)量改進(jìn)的手段，涉及產(chǎn)品壽命周期的各個(gè)階段和質(zhì)量管理體系的全過程。,休哈特控制圖的檢出效果很好。2004年Jo