【正文】 USLnp=np + 3 np(1p) LSLnp=np 3 np(1p) p 為過(guò)程不良品率 , n 為子組的樣本容量。 2/3以上的描點(diǎn)落在離均值很近之處（對(duì)于 25子組， 如果超過(guò) 90%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況的一 種或更多進(jìn)行調(diào)查： 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)描錯(cuò) 過(guò)程或取樣方法被分層，每個(gè)子組包含了從兩個(gè)或多個(gè) 不同平均性能的過(guò)程流的測(cè)量值（如：兩條平行的生產(chǎn) 線的混合的輸出）。 ： 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) 。 方法如下： A、 確定可能超出其平均值 177。 分組頻率：根據(jù)實(shí)際情況 ,兼大容量和信息反饋快的要求 . 子組數(shù)量：收集的時(shí)間足夠長(zhǎng) ,使得可以找到所有可能影響 過(guò)程的變差源 。 2倍 。 :操作者將每個(gè)單值的點(diǎn)標(biāo)在中位數(shù)圖上。 。 （基本同 XR圖） ，常將他們記錄于單獨(dú)的數(shù)據(jù)表，計(jì)算出 X 和 s s = ∑ (Xi–X )2 n – 1 ◆ （ Xs圖） 式中： Xi， X； N 分別代表單值、均值和樣本容量。 式中 : UCL 和 LCL為工程規(guī)范上、下， σ ? 為過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)偏差 注： Z 值為負(fù)值時(shí)說(shuō)明過(guò)程均值超過(guò)規(guī)范。 ，（例如：減少樣本容量，增加抽樣頻率）應(yīng)調(diào)整 中心限和控制限 。 ， 各點(diǎn)與 X的距離：大約 2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi) ， 大約 1/3的點(diǎn)落在其外的 2/3的區(qū)域； 1/20的點(diǎn)應(yīng)落在控制限較近之處 （ 位于外 1/3的區(qū)域 ） 。修改后的 R 和 X 可用于重新計(jì)算均值的試驗(yàn)控制限 ,X 177。 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R 很近之處（對(duì)于 25子組，如果超過(guò) 90%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： 。 b 超出極差上控制限的點(diǎn)通常說(shuō)明存在下列情況中的一種或幾 種： 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) 零件間的變化性或分布的寬度已增大 (即變壞 ） 測(cè)量系統(tǒng)變化 （ 如：不同的檢驗(yàn)員或量具 ） c 有一點(diǎn)位于控制限之下 ， 說(shuō)明存在下列情況的一種或多種 控制限或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) 分布的寬度變小 （ 變好 ） 測(cè)量系統(tǒng)已改變（包括數(shù)據(jù)編輯或變換） ◆ （ XR） UCL LCL R 受控制的過(guò)程的極差 UCL LCL R 不受控制的過(guò)程的極差（有超過(guò)控制限的點(diǎn)） ◆ （ XR） 有下列現(xiàn)象之表明過(guò)程已改變或出現(xiàn)某種趨勢(shì)： ? 連續(xù) 7點(diǎn)在平均值一側(cè)； ? 連續(xù) 7點(diǎn)連續(xù)上升或下降； ： ， 原因可能是無(wú)規(guī)律的 （ 例如：設(shè)備工 作不正常或固定松動(dòng) ） 或是由于過(guò)程中的某要素變化 （ 如使用 新的不一致的原材料 ） ,這些問(wèn)題都是常見(jiàn)的問(wèn)題 ， 需要糾正 。在這種 情況下沒(méi)有下控制限，這意味著對(duì)于一個(gè)樣本數(shù)為 6的子組， 6個(gè) “ 同樣的 ” 測(cè)量結(jié)果是可能成立的。 (例如：平均值圖上 1個(gè)刻度代表 ，則在極差圖 上 1個(gè)刻度代表 ） ◆ （ XR） 91將均值和極差畫(huà)到控制圖上 圖和 R 圖上的點(diǎn)描好后及時(shí)用直線聯(lián)接，瀏覽各點(diǎn) 是否合理，有無(wú)很高或很低的點(diǎn)，并檢查計(jì)算及畫(huà)圖是 否正確。） 9112 子組頻率：在適當(dāng)?shù)臅r(shí)間內(nèi)收集足夠的數(shù)據(jù)，這樣子組才能 反映潛在的變化，這些變化原因可能是換班 /操作人 員更換 /材料批次不同等原因引起。 結(jié)果舉例 控制圖舉例 螺絲的外徑（ mm） 從基準(zhǔn)面到孔的距離（ mm） 電阻（ Ω ） 錫爐溫度（ oC） 工程更改處理時(shí)間（ h） X圖 R圖 ◆ 1 2 3 4 5 6 計(jì)量單位：（ mm, kg等） 人員 方法 材料 環(huán)境 設(shè)備 過(guò)程 與過(guò)程有關(guān)的控制圖 測(cè)量方法必須保証始終產(chǎn)生準(zhǔn)確和精密的結(jié)果 不精密 精密 準(zhǔn)確 不準(zhǔn)確 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ◆ a、 建立適合于實(shí)施的環(huán)境 b、 定義過(guò)程 根據(jù)加工過(guò)程和上下使用者之間的關(guān)系，分析每個(gè)階段的 影響因素。普通原因表現(xiàn)為一個(gè)穩(wěn) 系統(tǒng)的偶然原因。它是分析是否存在造成變差的特殊原因的依據(jù)。 ，作為采取局部措施 或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南。于是，英、美等國(guó)開(kāi)始著手研究用統(tǒng)計(jì)方法代替事后檢驗(yàn)的質(zhì)量控制方法。如果數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)為偶數(shù)，一般將中間兩個(gè)數(shù)的平均值作為中位數(shù)。有時(shí)被稱為可查明原因，它存在的信號(hào)是：存在超過(guò)控制限的點(diǎn)或存在在控制限之內(nèi)的鏈或其它非隨機(jī)性的圖形。只用特殊原因被查出且采取措措施 ,否則它 們將繼續(xù)不可預(yù)測(cè)的影響過(guò)程的輸出。 e、 使不必要的變差最小 確保過(guò)程按預(yù)定的方式運(yùn)行 確保輸入的材料符合要求 恒定的控制設(shè)定值 注：應(yīng)在過(guò)程記錄表上記錄所有的相關(guān)事件，如：刀具更新，新的 材料批次等，有利于下一步的過(guò)程分析。一般為 25組，首次使 用管制圖選用 35 組數(shù)據(jù)，以便調(diào)整。 ◆ （ XR） :首先計(jì)算極差的控制限，再計(jì)算均值的控制限 。 對(duì)各條線標(biāo)上記號(hào)（ UCLR ， LCLR ， UCLX ， LCLX） 注：在初始研究階段，應(yīng)注明試驗(yàn)控制限。 b2 測(cè)量系統(tǒng)的改好。 同的變化性的過(guò)程流的測(cè)量值（如：輸入材料批次混淆） . 注：如果存在幾個(gè)過(guò)程流，應(yīng)分別識(shí)別和追蹤。并且一定要改變過(guò)程，以使特殊原因不會(huì)作為過(guò)程的一部分重現(xiàn)。 過(guò)程流的測(cè)量值（這可能是由于對(duì)可調(diào)整的過(guò)程進(jìn)行過(guò)度控 制造成的，這里過(guò)程改變是對(duì)過(guò)程數(shù)據(jù)中隨機(jī)波動(dòng)的響應(yīng)）。 ◆ （ XR） 帶有不同水平的變差的能夠符合規(guī)范的過(guò)程（所有的輸出都在規(guī)范之內(nèi)） 規(guī)范下限 LCL 規(guī)范上限 UCL 范圍 LCL 范圍 不能符合規(guī)范的過(guò)程（有超過(guò)一側(cè)或兩側(cè)規(guī)范的輸出） LCL LCL UCL 范圍 范圍 UCL UCL ◆ （ XR） 標(biāo)準(zhǔn)偏差與極差的關(guān)系 （對(duì)于給定的樣本容量 ,平均極差 R越大 ,標(biāo)準(zhǔn)偏差 σ? 越大） X σ? 范圍 范圍 X σ? σ? X 范圍 R R R ◆ （ XR） σ? σ? = R/d2 R 是子組極差的平均值， d2 是隨樣本容量變化的常數(shù) 注：只有過(guò)程的極差和均值兩者都處于受控狀態(tài)，則可用估 計(jì)的過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)偏差來(lái)評(píng)價(jià)過(guò)程能力。 ◆ （ XR） 當(dāng) Cpk1 說(shuō)明制程能力差，不可接受。見(jiàn)下表： = = ◆ （ Xs圖） 注：在樣本容量低于 6時(shí)，沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)差的下控制限。 （同 XR） ，連成鏈或形成某種趨勢(shì)的都必須進(jìn)行特 殊原因的分析，采取適當(dāng)?shù)拇胧? :操作者對(duì)超出控制限的極差或中位數(shù)采取適當(dāng)?shù)拇胧┻M(jìn)行改善，或 通知管理人員。見(jiàn)下表： ◆ （ XMR） = = = n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 * * * * * E2 樣本容量小于 7時(shí)，沒(méi)有極差的控制下限。 選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 一般不良品率為縱坐標(biāo) ， 子組別 （ 小時(shí) /天 ） 作為橫坐標(biāo) ,縱坐標(biāo)的刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀讀數(shù)中最大的不合格率值的 2倍 。 C、 按上式分別計(jì)算樣本容量為 n 和 n 時(shí)的點(diǎn)的控制限 . UCL,LCL = P 177。 ，說(shuō)明存在下列情況的一種或多種： 控制限或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò)。 初次研究，應(yīng)排除有變差的子組，重新計(jì)算控制限。 ◆ 13計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖