【正文】 T6065的規(guī)定。 磁懸液必須在通電時(shí)間(1－3秒)內(nèi)施加完畢,為保證磁化效果,應(yīng)至少反復(fù)磁化二次,停施磁懸液至少1s后方可停止磁化。采用濕粉法時(shí),應(yīng)確認(rèn)整個檢測面能被磁懸液良好的濕潤后,再施加磁懸液。~200mm之間，檢測的有效區(qū)域?yàn)閮蓸O連線兩側(cè)各50mm的范圍內(nèi)，磁化區(qū)域每次應(yīng)有不少于15mm的重疊。、照相法以及其它適當(dāng)方法。：等級線性缺陷磁痕圓形缺陷磁痕(評定框尺寸為35mm100mm)Ⅰ不允許d≤,且在評定框內(nèi)不大于1個Ⅱ不允許d≤,且在評定框內(nèi)不大于2個Ⅲl≤d≤,且在評定框內(nèi)不大于4個Ⅳ大于Ⅲ級注：l表示線性缺陷磁痕長度，mm；d表示圓形缺陷磁痕長徑，mm。 檢測設(shè)備使用CY3000B型磁粉探傷機(jī)，周向磁化最大電流1500安，縱向磁化線圈6000安匝（直流）。將工件磁化并噴淋磁懸液，試片上清晰顯現(xiàn)磁痕則認(rèn)為靈敏度合格。磁場的有效寬度為觸頭中心線兩側(cè)1/4極距，通電時(shí)間不應(yīng)太長，電極與工件之間應(yīng)保持良好的接觸，以免燒傷工件。當(dāng)線圈的橫截面積小于或等于被檢工件橫截面積的2倍時(shí)，線圈安匝值按下式計(jì)算：IN＝35000/〔（L/D）+2〕當(dāng)線圈的橫截面積大于2倍而小于10倍的被檢工件橫截面積時(shí)，線圈安匝值按下式計(jì)算：IN＝〔（IN）h（10Y）+（IN）l（Y2）〕/8 式中：（IN）h＝35000/〔（L/D）+2〕 （IN）l＝4500/L/D或1690R/〔6（L/D）5〕 Y——線圈的橫截面積與工件橫截面積之比上述公式不適用于長徑比（L/D）小于2的工件。檢測時(shí)磁化電流應(yīng)根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)試片實(shí)測結(jié)果來校正。重疊區(qū)不小于分段檢測長度的10%。：將YF1型分散劑和 YC2型熒光磁粉攪拌成糊狀在加水。檢驗(yàn)報(bào)告至少應(yīng)包括以下內(nèi)容：a） 委托單位、工件名稱、編號；b） 被檢工件材質(zhì)、熱處理狀態(tài)及表面狀態(tài)；c） 檢驗(yàn)裝置的名稱、型號；d） 磁粉種類及磁懸浮液濃度；e） 施加磁粉的方法；f） 磁化方法及磁化規(guī)范；g） 檢驗(yàn)靈敏度檢驗(yàn)及試片名稱；h） 缺陷記錄及工件草圖（或示意圖）；i） 檢驗(yàn)結(jié)果及缺陷等級評定、檢測標(biāo)準(zhǔn)名稱；j） 檢測人員和責(zé)任工程師簽字及其技術(shù)資格。，應(yīng)用2~10倍放大鏡進(jìn)行觀察。長度與寬度之比小于或等于3的缺陷磁痕按圓形處理。，必須注意，已形成的磁痕不要被流動的懸浮液破壞。采用交流電。當(dāng)檢測焊縫坡口等狹小部位，由于尺寸關(guān)系，A1型標(biāo)準(zhǔn)試片使用不便時(shí)，一般可選用C15/50型標(biāo)準(zhǔn)試片。油基載體的運(yùn)動粘度在38℃，閃點(diǎn)不低于94℃，且無熒光和無異味。 MT 操作流程圖本規(guī)程用磁軛法。c) 探傷儀、探頭、試塊和檢測靈敏度。表21 mm等級ⅠⅡⅢⅣⅤ缺陷當(dāng)量直徑≤φ4φ4+(＞0－8 dB)φ4+(＞8－12 dB)φ4+(＞12－16 dB)＞φ4+16 dB)。衰減系數(shù)的計(jì)算公式為： a=【（B1B2）6dB 】/2T式中：a——衰減系數(shù)； dB /mm（單位）；（B1B2）——兩次衰減器的讀數(shù)之差，dB；T——工件檢測厚度，mm。b) 工件檢測距離大于45mm時(shí)，采用單直探頭。主要檢測方向如JB/。，該材料用直探頭探測時(shí)，不得有大于φ2平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。f) 檢測結(jié)果、缺陷等級評定及檢測標(biāo)準(zhǔn)名稱。在任一1m1m檢測面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比不確定。此時(shí)，探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn)，兩種方法測得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。單直探頭的檢測靈敏度：用φ5平底孔試塊上φ5孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為靈敏度。、缺陷的評定1)、缺陷的評定方法和評定規(guī)則按JB/，鋼板缺陷等級評定按JB/。、檢測方法、檢測面鋼板的任一軋制面均可作為檢測面進(jìn)行檢測。、雙晶直探頭性能應(yīng)符合JB/。，返修后仍按本規(guī)程進(jìn)行檢測和評定。，缺陷當(dāng)量直徑以平底孔直徑表示可采用公式計(jì)算，用斜探頭檢測時(shí)，用距離——波幅曲線和對比試塊來確定當(dāng)量尺寸。校準(zhǔn)、復(fù)核和對儀器線性檢驗(yàn)時(shí)，任何影響儀器線性的控制器（如抑制或?yàn)V波開關(guān)等）都應(yīng)放在”關(guān)”的位置或最低水平上。，可使用機(jī)油、漿糊或甘油?！?5176。的窄間隙焊縫，如有可能應(yīng)增加對檢測與坡口表面平行缺陷的有效檢測方法。作兩個方向的斜平行掃查。一般不要求進(jìn)行橫向缺陷的檢測。 根據(jù)不同的被檢工件采用下列標(biāo)準(zhǔn)試塊:: CBⅠ、CBⅡ；: CSⅠ、CSⅡ；: CSKⅠA、CSKⅡA、CSKⅢA。、校準(zhǔn)、復(fù)核的有關(guān)注意事項(xiàng) 校準(zhǔn)、復(fù)核和對儀器進(jìn)行線性檢測時(shí)，任何影響儀器線性的控制器都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于最低水平上。 儀器和斜探頭系統(tǒng)，檢測前應(yīng)測定前沿距離、K值、主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。 耦合劑 采用機(jī)油、漿糊、水等透聲性好且不損傷檢測表面的耦合劑。c. 直探頭的遠(yuǎn)場分辨力應(yīng)不小于30dB，斜探頭的遠(yuǎn)場分辨力應(yīng)不小于6dB。 探頭a. 超聲檢測常用單直探頭、單斜探頭、雙晶探頭和聚焦探頭等。表面粗糙度Ra≤。c)以開孔中心為圓心。，評片人員應(yīng)按焊縫布片圖整理該臺產(chǎn)品的所有底片，底片應(yīng)按順序號擺放，當(dāng)有返修時(shí)，返修片應(yīng)與原片放在一起，相鄰兩片之間應(yīng)用紙隔開。 圓形缺陷的評級 a）長寬比≤3的氣孔、夾渣和夾鎢，為圓形缺陷； b）評定區(qū)10mm10mm； c）缺陷分級見表5 條形缺陷的評級長寬比大于3的氣孔、夾渣和夾鎢，定義為條形缺陷，條形缺陷的分級見表8的規(guī)定。 b）條形缺陷分級見表8表8 條形缺陷的質(zhì)量分級級別單個條形缺陷最大長度一組條形缺陷累計(jì)最大長度Ⅰ不允許Ⅱ≤T/3（最小可為4）且≤20在長度為12T的任意選定條形缺陷評定區(qū)內(nèi)，相鄰缺陷間距不超過6L的任一組條形缺陷的累計(jì)長度應(yīng)不超過T，但最小可為4。a） 長寬比≤3的氣孔、夾渣、夾鎢為圓形缺陷。，評片人的眼睛進(jìn)行暗適應(yīng)，從日光下進(jìn)入評片室內(nèi)至少適應(yīng)10分鐘，從普通室內(nèi)進(jìn)入評片室時(shí)，至少適應(yīng)半分鐘，若因更換評定的底片偶爾受到強(qiáng)光刺激，則需重新適應(yīng)半分鐘。b. 根據(jù)不同的透照方式，像質(zhì)計(jì)靈敏度應(yīng)符合NB/或表7的規(guī)定。 ，按產(chǎn)品編號，片號排列裝袋。 標(biāo)準(zhǔn)顯影溫度20177。c)操作人員工作時(shí)應(yīng)佩帶個人劑量報(bào)警儀和個人劑量計(jì),應(yīng)定期檢查身體，若發(fā)現(xiàn)由射線源原因而引起的異?，F(xiàn)象，應(yīng)暫時(shí)脫離該工作崗位。透照3次。 管子（筒體環(huán)焊縫）透照 DN≤100以下管焊縫透照a）小徑管（D0≤100mm）環(huán)向焊接接頭同時(shí)滿足壁厚T≤8 mm及焊縫寬度g≤D0/4時(shí)應(yīng)采用雙壁雙影法透照（橢圓成像），橢圓開口度應(yīng)控制在1倍焊縫寬度左右；不滿足上述條件或橢圓成像有困難時(shí),可做垂直透照,此時(shí)可適當(dāng)提高管電壓。 一次透照長度L3 一次透照長度應(yīng)以透照厚度比K進(jìn)行控制，透照厚度比應(yīng)符合下表的規(guī)定。 中心標(biāo)記的方位 同一部件所有縱縫及環(huán)縫在拍照時(shí)中心標(biāo)記均應(yīng)放置在同一方位的同一側(cè)。，X射線機(jī)的焦點(diǎn)應(yīng)置于筒體的中心軸線上。搭接標(biāo)記的擺放位置見NB/。 背散射線確定標(biāo)記“B”一般“B” 鉛字高度為13mm、。b. 檢測范圍標(biāo)記( )，當(dāng)焊縫余高為零或平板狀零件時(shí)使用。但曝光時(shí)間不小于2min。b2/3。χ射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓。雙壁雙影透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)可放置在源側(cè)，也可放置在膠片側(cè)。，,增感屏表面應(yīng)平滑清潔、無灰塵、無污染、無劃傷。 表面要求,如弧坑、凹陷、焊瘤、高度突變的焊波、飛濺、溶渣，嚴(yán)重的機(jī)械損傷。 當(dāng)采用兩種或兩種以上的檢測方法對承壓設(shè)備的同一部位進(jìn)行檢測時(shí)，應(yīng)按各自的方法評定級別。壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程（1999年版）GB1501998 《鋼制壓力容器》GB1511999 《管殼式換熱器》JB/～ 《承壓設(shè)備無損檢測》《特種設(shè)備無損檢測人員資格考核實(shí)施細(xì)則》《放射衛(wèi)生防護(hù)基本標(biāo)準(zhǔn)》Q/《質(zhì)量保證手冊》 人員資格及職責(zé)。所有標(biāo)準(zhǔn)都會被修訂，使用本規(guī)程的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。 鐵磁性材料表面檢測時(shí)，宜采用磁粉檢測。 膠片和增感屏的準(zhǔn)備 A級和AB級射線檢測技術(shù)應(yīng)采用T3類或更高類別的膠片，B級射線檢測技術(shù)應(yīng)采用T2類或更高類別的膠片。雙壁單影透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)。、射線能量、根據(jù)被檢工件的厚度、材質(zhì)選用不同的曝光參數(shù)，曝光參數(shù)應(yīng)參照本機(jī)的曝光曲線選取，不允許用提高管電壓縮短曝光時(shí)間的方法照相，或憑經(jīng)驗(yàn)任意選取曝光參數(shù)。b2/3 ,B級：f≥當(dāng)焦距改變時(shí)可按平方反比定律對曝光量的推薦值進(jìn)行換算。當(dāng)抽查時(shí)搭接標(biāo)記稱為有效區(qū)段標(biāo)記。例如A83片位返修二次，檢測編號用A83R2表示。，并離焊縫邊緣至少5mm。，透照區(qū)中心和容器圓心在一直線上（雙壁單影法除外）。有條件許可的情況下，應(yīng)首先考慮采用周向曝光，其次采用單壁單影法，對于射線源既可置于容器內(nèi)，又可置于容器外的情況下，應(yīng)優(yōu)先采用內(nèi)透法，在工件無法滿足上述條件時(shí)，方可采用雙壁透照技術(shù)。，均應(yīng)按100%檢查劃線，對直徑較大或壁厚較厚的容器環(huán)焊縫劃線時(shí)，應(yīng)注意限制累積誤差和內(nèi)外中心線位置的重疊的準(zhǔn)確性。環(huán)縫透照盡量采用中心法。或60176。b)需要在車間或室外拍片的較大工件，操作時(shí)應(yīng)在射線源20米外進(jìn)行，射線源方向30米以內(nèi)禁止有人進(jìn)入，并懸掛醒目的警告標(biāo)志。、定影液、停影液按膠片說明書配方配制。，應(yīng)放在潤濕105%脫水劑中潤濕3秒，然后放入烘片箱進(jìn)行烘片，注意烘片箱應(yīng)從室溫開始加熱。 像質(zhì)計(jì)a. 像質(zhì)計(jì)的選用及擺放正確。,凡不符合要求的底片均作廢片,應(yīng)及時(shí)通知重照。c） 焊縫缺陷超過Ⅲ級者為Ⅳ級。 條狀缺陷的分級 a) 長寬比大于3的氣孔、夾渣和夾鎢定義為條形缺陷。b）Ⅱ、Ⅲ級焊縫應(yīng)無裂紋、未熔合、雙面焊以及加墊板單面焊中的未焊透。對各類缺陷分別評定級別，取質(zhì)量級別最低的級別作為綜合評級的級別；當(dāng)各類缺陷的級別相同時(shí)，則降低一級作為綜合評級的級別。b)凡被補(bǔ)強(qiáng)圈、支座、墊板、內(nèi)件等所覆蓋的焊接接頭。 鍛件檢測原則上應(yīng)在熱處理后，槽孔、臺階加工前進(jìn)行。水平線性誤差不大于1%，垂直線性誤差不大于5%。b. 儀器和直探頭組合的始脈沖寬度：對于頻率為5MHz的探頭，寬度不大于10mm；，寬度不大于15mm。 掃查靈敏度不得低于基準(zhǔn)靈敏度。 探頭測定 新探頭使用前應(yīng)按JB/T10062的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力的測定。如曲線上一點(diǎn)幅度下降2db，則應(yīng)對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)核；如幅度上升2db，則應(yīng)對所有的記錄信號進(jìn)行重新評定。該材料用直探頭檢測時(shí)，不得有大于φ2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷?？捎靡环NK值探頭采用直射波法和一次反射波法在對接焊接接頭的單面單側(cè)進(jìn)行檢測。－20176。對于單側(cè)坡口角度小于5176。)＞46～120～(60176。對于能干擾檢驗(yàn)的焊縫表面應(yīng)按照檢驗(yàn)所需的要求進(jìn)行制備。如果幅度上升2dB,則應(yīng)對所有的記錄信號進(jìn)行重新評定。，應(yīng)確定其位置、最大反射波幅、缺陷當(dāng)量和指示長度△L。，均評為Ⅰ級。3）、板厚＞40~250mm時(shí)，采用單晶直探頭，圓晶片直徑為φ20~φ25mm。4）、板厚＞3倍探頭的近場區(qū)時(shí)，也可取鋼板無缺陷完好部位的第一次底面反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為基準(zhǔn)靈敏度。原始記錄應(yīng)記錄下缺陷的位置及長度或面積。：用階梯試塊將工件等厚度部位第一次反射波交調(diào)整到滿刻度的50%，再提高10dB。b）用雙晶直探頭確定缺陷的邊界或指示長度，探頭的移動方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，并使缺陷波下降到檢測靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為50%。b） 多個缺陷其相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰缺陷的指示長度（取其較大值）時(shí)其各塊缺陷面積之和作為單個缺陷指示面積。e) 缺陷的類型、尺寸、位置和分布。探頭晶片面積不小于150mm2；單晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用2MHz5MHz，探頭晶片一般為φ14mmφ25mm。、縱波檢測 1）、原則上應(yīng)從兩個相互垂直的方向進(jìn)行檢測，盡可能地檢測到鍛件的全體積。a) 工件檢測距離小于45mm時(shí)，采用雙晶直探頭。在工件無缺陷完好區(qū)域，選取三處檢測面與底面平行且有代表性的部位，調(diào)節(jié)儀器第一次和第二次底面回波幅度均不滿刻度的50%，分別記錄衰減器讀數(shù)，兩次衰減器讀數(shù)之差即為（B1B2）的dB差值。b) 工件名稱、編號、材質(zhì)、熱處理狀態(tài)、檢測面的粗糙度。其檢測程序見流程圖。若以水為載體時(shí)，應(yīng)加入適當(dāng)?shù)姆冷P劑和表面活性劑，必要時(shí)添加消泡劑。、磁粉檢測時(shí)一般應(yīng)選用A130/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。第一區(qū)域應(yīng)至少分別進(jìn)行兩次檢驗(yàn)，在第二次檢驗(yàn)中，磁通線的方向應(yīng)大致與第一次檢驗(yàn)區(qū)域所采用的方向垂直。磁懸液的施加可采用噴澆等方法，不可采用刷涂法，無論采用哪種方法均不應(yīng)使檢測面上磁懸液的流速過快。,其它一切磁痕顯示均作為缺陷磁痕處理.,按線性缺陷處理。，工件被檢表面處可見光照度不小于500LX。磁粉材料會干擾后續(xù)加工或使用時(shí)，檢驗(yàn)時(shí)，檢驗(yàn)后應(yīng)進(jìn)行必要的清理。，濃度按磁膏使用說明。 有效區(qū)域 當(dāng)被檢工件太長時(shí)，應(yīng)分段磁化，且應(yīng)有一定的重疊區(qū)。兩次磁化區(qū)域間應(yīng)有不小于10％的磁化重疊區(qū)。對于長徑比（L/D）小于2的工件，若要使用線