【正文】 C．專業(yè)標(biāo)準D．地方標(biāo)準E．企業(yè)標(biāo)準5比較常用的標(biāo)準化形式有（）。A．有1批檢驗不接收B．生產(chǎn)不穩(wěn)定或延遲C．負責(zé)部門認為有必要恢復(fù)正常檢驗D．當(dāng)前的轉(zhuǎn)移得分至少是30分E．生產(chǎn)穩(wěn)定50、對檢驗水平判別能力的高低說法恰當(dāng)?shù)氖牵ň唧w是 R＝R/d2＝(X(n)X(1))/d2A．位置不同B．散布不同C．大小不同D．形狀不同E．形式不同4樣本成為簡單隨機樣本的條件是（）。）。）。）。生產(chǎn)方C．較高對方程作顯著性檢驗時，下述（A．E(aX+b)=aE(X)+bB．E(X1＋X2)＝E(X1)＋E（X2）C．Var(X1177。 中國30002005中級質(zhì)量工程師考試模擬試題一(習(xí)題及答案)一、單選[共40題，每題1分，總計40分]以下說法正確的是（ ）。B．）。A．右偏分布是正態(tài)分布的形式之一B．符合右偏分布的隨機變量大量取值在左邊，少量分布在右邊C．符合右偏分布的隨機變量少量取值在左邊，大量分布在右邊D．隨機變量的分布很散因子的水平可以用（現(xiàn)在統(tǒng)計了26窯的數(shù)據(jù)，求得如下結(jié)果：=， =，Lxx=，Lxy=，Lyy=。若樣本中的不合格品數(shù)d=2，則（A．放寬檢驗不到5批1對一個產(chǎn)品批來說，是否被接收，關(guān)鍵取決于生產(chǎn)方或使用方驗收時對檢驗批的質(zhì)量要求，在GB/T15239中規(guī)定了極限質(zhì)量2Q，它是與（A．不合格品率增大，過程能力指數(shù)不變B．不合格品率增大，過程能力指數(shù)增大C．不合格品率增大，過程能力指數(shù)減小D．不合格品率不變，過程能力指數(shù)減小1關(guān)于建立p圖的情況說法不正確的是（A．環(huán)境應(yīng)力篩選試驗B．常規(guī)的方法C．目視檢查D．任何方法或試驗1（A．從“以物為中心”轉(zhuǎn)變?yōu)椤耙匀藶橹行摹盉．從“自主管理”轉(zhuǎn)變?yōu)椤氨O(jiān)督管理”C．從“專制管理”轉(zhuǎn)變?yōu)椤懊裰鞴芾怼盌．從“紀律約束”轉(zhuǎn)變?yōu)椤凹罟芾怼?實行動態(tài)管理，最重要的環(huán)節(jié)是（A．產(chǎn)品審核B．特殊情況下審核C．例行審核D．過程審核（A．第一方審核B．第二方審核C．多方審核D．內(nèi)部審核3（A．質(zhì)量檢驗記錄B．性能檢測分析表C．產(chǎn)品質(zhì)量合格檢驗書D．質(zhì)量檢驗分析報告3以下有關(guān)《中華人民共和國計量法》的表述中不正確的是（）。但有時在現(xiàn)場，為了簡便快捷，選用樣本中位數(shù) 去估計正態(tài)均值μ也是有的D．正態(tài)方差σ2的無偏估計常用的只有一個，就是樣本方差S2而＝S2＝ 在所有無偏估計中它是最有效的E．正態(tài)標(biāo)準差σ的無偏估計也有兩個，一個是對樣本極差R＝X(n)X(1)進行修偏而得，另一個是對樣本標(biāo)準差S進行修偏而得。平數(shù)A．此時n= B．此時SA的計算公式改為 C．此時SA的計算公式改為 D．此時將 表示所有n=rm個數(shù)據(jù)和改為表示n=rmi個數(shù)據(jù)和E．此時將Se=STSA改為Se=SAST4關(guān)于正交表的說法正確的有（）情況時，必須轉(zhuǎn)回正常檢驗。A．提高現(xiàn)有的過程能力B．提高技能C．開發(fā)產(chǎn)品或服務(wù)的技術(shù)革新D．贏得信譽E．過程再設(shè)計，即重新對過程進行設(shè)計5組織應(yīng)通過需求分析收集對過程控制和體系有效運行起作用的數(shù)據(jù)，至少應(yīng)能提供（）。A．與顧客有關(guān)的過程B．設(shè)計和開發(fā)C．采購、生產(chǎn)和服務(wù)提供D．監(jiān)視和測量裝置的控制E．質(zhì)量策劃過程6組織在向顧客作出提供產(chǎn)品的承諾之前，應(yīng)對上述與產(chǎn)品有關(guān)的要求進行評審，評審的目的是為了確保（）。A．測量控制體系，是指為實現(xiàn)測量過程的連續(xù)控制和計量確認所需的一組相關(guān)的或相互作用的要素B．測量控制體系的目標(biāo)，在于控制由測量設(shè)備和測量過程產(chǎn)生的不正確的測量結(jié)果及其影響C．為保證測量控制體系滿足規(guī)定的計量要求，所有測量設(shè)備都須經(jīng)過計量確認，而且測量過程應(yīng)受控D．測量控制體系采用的方法不僅是測量設(shè)備的分析/控制，還包括應(yīng)用統(tǒng)計技術(shù)對測量過程的變異做出評價E．測量控制體系由兩部分組成：測量設(shè)備的計量確認和測量過程實施的控制請回復(fù)看答案及解析：第1題試題答案：D試題解析：隨機事件發(fā)生的可能性的大小就是事件的概率。第8題試題答案：B試題解析：由于n=26，所以fR=1，fE=n2=24則 。第24題試題答案：B試題解析：B項應(yīng)改為從“監(jiān)督管理”轉(zhuǎn)變?yōu)椤白灾鞴芾怼?。?3題試題答案：C試題解析：程序可以形成文件，也可以不形成文件。它是在樣本滿足 兩個條件的情況下成立的，即隨機性，獨立性。第52題試題答案：ABC第53題試題答案：BCDE第54題試題答案：ABE第55題試題答案：ACDE第56題試題答案：ABCE試題解析：為了對質(zhì)量信息進行管理，組織應(yīng)當(dāng)確保適宜的安全性和保密性。第68題試題答案：BCDE第69題試題答案：BC第70題試題答案：ABCE試題解析：測量控制體系采用的方法有測量設(shè)備的校準/檢定，而不是分析/： 好好學(xué)習(xí)