【正文】 ?22111100 略去高次項(xiàng)則得 ? ?? ?tntndd????????????????????1100(ⅱ) 符合計(jì)數(shù)率在死時(shí)間內(nèi)得損失 n co?? ?? ???? ???nco分 三種 情況討論引起符合的漏計(jì)數(shù)： 第一種情況： 當(dāng) ?道正常計(jì)數(shù)， ?道是死時(shí)間，則由于 td內(nèi) ?道無(wú)輸出 ,造成符合道的漏計(jì)數(shù)為 ttntnnddcoco??????????????????22????????????應(yīng)有的真符合計(jì)數(shù)率為 實(shí)測(cè)的真符合計(jì)數(shù)率為 則符合計(jì)數(shù)率在死時(shí)間內(nèi)的損失為 第二種情況 :當(dāng) ?道正常計(jì)數(shù) , ?道是死時(shí)間 ,則在 trd內(nèi) ,由于 ?道無(wú)計(jì)數(shù) ,造成符合道漏計(jì)數(shù)為 tntnn rdco rrdco ???? ??? ? 22?????第三種情況 : ?道和 ?道同時(shí)是死時(shí)間 ,符合道漏計(jì)數(shù)取決于 和 中比較短者。 1D2Dd?COIN1 dD ?? 飛行時(shí)間方法 (TOF)測(cè)量粒子的飛行時(shí)間。兩組源和探測(cè)器之間用 足夠厚的鉛屏蔽隔開(kāi) ，見(jiàn)下圖，在這種情況下， 符合脈沖均為偶然符合。 反之，就沒(méi)有符合脈沖輸出。只有分析道由脈沖輸入時(shí)反符合電路才有輸出。 如能獲得 ?能譜 ，可利用 ?譜的 全能峰面積 來(lái) 確定源活度 ， 對(duì)于 ? 射線同位素放射源絕對(duì)測(cè)量常用源峰效率 sp?得到源活度： spbs nnA??? 符合測(cè)量方法 符合方法 ： 用不同的探測(cè)器來(lái)判斷 兩個(gè) 或 兩個(gè)以上 事件的 時(shí)間上 的 同時(shí)性 或 相關(guān)性 的方法 。有機(jī)膜的 Z較低 ,又很薄 ,散射可以忽略。 幾何因子 fg還可以表示成： 因?yàn)?,放射性發(fā)射的是各向同性的實(shí)際進(jìn)入探測(cè)器僅是小立體角 Ω 內(nèi)的射線 .幾何因子為 ?4?)1(214 22 rhf hg??????2) 探測(cè)器的本征探測(cè)效率或靈敏度 (1) 對(duì)脈沖工作狀態(tài) ：本征探測(cè)效率 ? (2) 對(duì)電流工作狀態(tài) ：靈敏度 ? ％積的粒子數(shù)單位時(shí)間內(nèi)進(jìn)入靈敏體測(cè)到的脈沖計(jì)數(shù)率 100???入射粒子流強(qiáng)度值或電壓信號(hào)電流 )(?? ? ?單位照射量率/)( VA 有關(guān)因素：入射粒子的 種類 與 能量 ；探測(cè)器的種類、運(yùn)行狀況、幾何尺寸；電子儀器的狀態(tài)（如 甄別閾的大小 ）等。 絕對(duì)測(cè)量中影響活度測(cè)量的幾個(gè)因素 )c o s1(21s i n2414 000 ???????????? ? df g1) 幾何因子 （ fg） 點(diǎn)源 絕對(duì)測(cè)量法 復(fù)雜 ，需要考慮很多影響測(cè)量的因素，但絕對(duì)測(cè)量法是活度測(cè)量的 基本方法 。?沒(méi)有支承膜是理想狀態(tài) ，通常用 有機(jī)膜 來(lái)實(shí)現(xiàn)。同樣可以用 相對(duì)測(cè)量法 和 絕對(duì)測(cè)量法 測(cè)量。把要消除掉的脈沖送入反符合道，把要分析的脈沖送入分析道。如下圖所示： 當(dāng) 兩個(gè)輸入脈沖 之間的 時(shí)間間隔＜ ? s時(shí)，符合電路輸出一個(gè) 符合脈沖。 顯然 符合分辨時(shí)間 越大，發(fā)生偶然符合的幾率越大，每道的無(wú)關(guān)事件計(jì)數(shù)率越大，偶然符合計(jì)數(shù)率也將越大，它們間的關(guān)系可推導(dǎo)如下： ： 設(shè)有兩個(gè) 獨(dú)立 的 放射源 S1和 S2，分別用兩符合道的探測(cè)器 Ⅰ 和 Ⅱ 記錄。 nnrcc0(4) 延遲符合 關(guān)聯(lián)事件 可以是 同時(shí)性 事件，也可以是 不同時(shí)性 事件。 ? ? ? ?? ?nnnnnnnnnnnnnnnssccoscoscococrc???????????????????????12∴ 總的偶然符合計(jì)數(shù)率為 γ 道產(chǎn)生偶然符合的計(jì)數(shù)率為 (nγ － nco) τ snβ β 道產(chǎn)生偶然符合的計(jì)數(shù)率為 (nβ － nco) τ snγ 這些不參予真符合的計(jì)數(shù)就可能產(chǎn)生偶然符合 γ 道不參予真符合的計(jì)數(shù)率為 nγ － nco β 道不參予真符合的計(jì)數(shù)率為 nβ － nco (3) 探測(cè)器死時(shí)間的修正 探測(cè)器死時(shí)間能引起漏計(jì)數(shù)，所以必須把漏掉的計(jì)數(shù)補(bǔ)回來(lái)。 由于 統(tǒng)計(jì)漲落 ，即使對(duì)同一能量的帶電粒子，也會(huì)產(chǎn)生 不同幅度的脈沖 ，形成脈沖幅度分布。 xE0EG1E2E3E1x2x3x2. ?能譜的測(cè)定 1) 能量分辨率 以金硅面壘半導(dǎo)體探測(cè)器為例。也可用半導(dǎo)體探測(cè)器，由于存在散射，會(huì)使譜形畸變，而影響測(cè)量結(jié)果。 能量刻度 ：選一組能量已知的 ?射線標(biāo)準(zhǔn)源，用 ?譜儀得到特征峰的峰位與 ?射線能量的關(guān)系，稱為對(duì)該 ?譜儀的能量刻度。 (a) 確定 特征道域即各 全能峰 ，以 i表示 (b) 確定 響應(yīng)函數(shù) 種成分的衰變率第道造成的計(jì)數(shù)率種成分在第第jijaij ?通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)譜得到 (c) 混合樣品譜 第 i道的計(jì)數(shù)率 mi ????njjiji xam1實(shí)驗(yàn)測(cè)量得到 矩陣表示： AXM ?A為 aij集合而成的矩陣，稱為譜儀的 響應(yīng)矩陣 ；X為未知量 xj組成的矩陣； M為各道域計(jì)數(shù)率組成的列矩陣。 n為數(shù)